检测设备制造技术

本发明专利技术公开了一种检测设备，其包括：多个发光部分，它们布置成一行并以分时段方式将平行光发射到物体在其上经过的通道区域；一个或多个光接收部分，接收通过物体反射或透射穿过物体的平行光，所述光接收部分的数量小于所述发光部分的数量；以及检测部分，根据通过光接收部分接收的平行光的强度分布来检测物体的边缘和物体的具有不同反射率或透射率的部分的边缘中的至少一个。

【技术实现步骤摘要】
【专利摘要】本专利技术公开了一种检测设备，其包括：多个发光部分，它们布置成一行并以分时段方式将平行光发射到物体在其上经过的通道区域；一个或多个光接收部分，接收通过物体反射或透射穿过物体的平行光，所述光接收部分的数量小于所述发光部分的数量；以及检测部分，根据通过光接收部分接收的平行光的强度分布来检测物体的边缘和物体的具有不同反射率或透射率的部分的边缘中的至少一个。【专利说明】检测设备
本专利技术涉及检测设备。
技术介绍
日本未审查的专利申请公开N0.10-318726公开了一种三维尺寸测量设备，其用于测量沿着水平方向移动的移动物体的三维尺寸，包括在移动方向上的长度、在与移动方向交叉的水平方向上的宽度和在竖直方向上的高度。
技术实现思路
期望的是，准确地检测物体的边缘和物体的具有不同反射率或透射率的部分的边缘中的至少一个。根据本专利技术的一方面，提供了一种检测设备，其包括:多个发光部分，它们布置成一行并以分时段方式将平行光发射到物体在其上经过的通道区域；一个或多个光接收部分，接收通过物体反射或透射穿过物体的平行光，所述光接收部分的数量小于所述发光部分的数量；以及检测部分，根据通过光接收部分接收的平行光的强度分布来检测物体的边缘和物体的具有不同反射率或透射率的部分的边缘中的至少一个。根据本专利技术的第二方面，提供了一种根据第一方面的检测设备，其中所述多个发光部分一体地形成在公共基底上以形成发光元件。根据本专利技术的第三方面，提供了一种根据第一方面的检测设备，其中所述多个发光部分以多种不同的发光强度发光。根据本专利技术的第四方面，提供了一种根据第二方面的检测设备，其中所述多个发光部分以多种不同的发光强度发光。根据本专利技术的第五方面，提供了一种根据第一方面的检测设备，其中将所述多个发光部分设置为与物体经过的通道方向交叉，并使它们按次序地发光，并且所述检测部分基于所述物体的边缘和所述部分的边缘中的至少一个检测以下的至少一个:物体的二维形状、物体在通道方向上的长度、物体在与通道方向正交的正交方向上的宽度、物体相对于所述正交方向的倾角、所述部分的二维形状、所述部分在通道方向上的长度、所述部分在正交方向上的宽度、所述部分相对于所述物体的位置和位置上的任何重合失调。根据本专利技术的第六方面，提供了一种根据第二方面的检测设备，其中将所述多个发光部分设置为与物体经过的通道方向交叉，并使它们按次序地发光，并且所述检测部分基于所述物体的边缘和所述部分的边缘中的至少一个检测以下的至少一个:物体的二维形状、物体在通道方向上的长度、物体在与通道方向正交的正交方向上的宽度、物体相对于所述正交方向的倾角、所述部分的二维形状、所述部分在通道方向上的长度、所述部分在正交方向上的宽度、所述部分相对于所述物体的位置和位置上的任何重合失调。根据本专利技术的第七方面，提供了一种根据第三方面的检测设备，其中将所述多个发光部分设置为与物体经过的通道方向交叉，并使它们按次序地发光，并且所述检测部分基于所述物体的边缘和所述部分的边缘中的至少一个检测以下的至少一个:物体的二维形状、物体在通道方向上的长度、物体在与通道方向正交的正交方向上的宽度、物体相对于所述正交方向的倾角、所述部分的二维形状、所述部分在通道方向上的长度、所述部分在正交方向上的宽度、所述部分相对于所述物体的位置和位置上的任何重合失调。根据本专利技术的第八方面，提供了一种根据第四方面的检测设备，其中将所述多个发光部分设置为与物体经过的通道方向交叉，并使它们按次序地发光，并且所述检测部分基于所述物体的边缘和所述部分的边缘中的至少一个检测以下的至少一个:物体的二维形状、物体在通道方向上的长度、物体在与通道方向正交的正交方向上的宽度、物体相对于所述正交方向的倾角、所述部分的二维形状、所述部分在通道方向上的长度、所述部分在正交方向上的宽度、所述部分相对于所述物体的位置和位置上的任何重合失调。根据本专利技术的第九方面，提供了一种根据第一方面的检测设备，其中沿着物体经过的通道方向设置所述多个发光部分，并使它们按次序地发光，并且所述检测部分基于所述物体的边缘和所述部分的边缘中的至少一个检测物体的速度。根据本专利技术的第十方面，提供了一种根据第二方面的检测设备，其中沿着物体经过的通道方向设置所述多个发光部分，并使它们按次序地发光，并且所述检测部分基于所述物体的边缘和所述部分的边缘中的至少一个检测物体的速度。根据本专利技术的第十一方面，提供了一种根据第三方面的检测设备，其中沿着物体经过的通道方向设置所述多个发光部分，并使它们按次序地发光，并且所述检测部分基于所述物体的边缘和所述部分的边缘中的至少一个检测物体的速度。根据本专利技术的第十二方面，提供了一种根据第四方面的检测设备，其中沿着物体经过的通道方向设置所述多个发光部分，并使它们按次序地发光，并且所述检测部分基于所述物体的边缘和所述部分的边缘中的至少一个检测物体的速度。与不使用平行光的情况相比，利用根据本专利技术的第一方面的构造可准确地检测物体的边缘和物体的具有不同反射率或透射率的部分的边缘中的至少一个。与设置有单独地制造的多个发光部分的情况相比，利用根据本专利技术的第二方面的构造，所述多个发光部分的位置精度和照射方向的精度较高。与发光部分不按次序地发光的情况相比，利用根据本专利技术的第三和第四方面的构造可准确地检测以下的至少一个:物体的二维形状、物体在通道方向上的长度、物体在与通道方向正交的正交方向上的宽度、物体相对于所述正交方向的倾角、物体的具有不同反射率或透射率的部分的二维形状、所述部分在通道方向上的长度、所述部分在正交方向上的宽度、所述部分相对于所述物体的位置和位置上的任何重合失调。与发光部分不按次序地发光的情况相比，利用根据本专利技术的第五、第六、第七和第八方面的构造可准确地检测物体的速度。【专利附图】【附图说明】将基于以下附图详细描述本专利技术的示例性实施例，其中:图1A是根据第一示例性实施例的检测设备的平面图，图1B是根据第一示例性实施例的检测设备的正视图，以及图1C是根据第一示例性实施例的检测设备的侧视图；图2A和图2B是分别示出根据第一示例性实施例的变型例的发光元件的平面图；图3A至3D是分别示出使用了根据第一示例性实施例的光学元件的构造的示意图，所述光学元件用于增大或减小来自半导体激光器的平行光光线之间的间隔，同时保持所述光为平行光；图4A和图4B示出了将被检测的目标是通过将第二物体布置在第一物体上形成的物体的情况；图5示出了根据第一示例性实施例的通过光接收元件接收的平行光的接收的光强分布；图6是根据第一示例性实施例的用于检测物体的速度的构造的平面图；图7是示出根据第一示例性实施例的检测物体的倾角的平面图；图8是示出接收透射穿过物体的平行光的构造的正视图；图9A至图9H是分别示出根据变型例的发光元件和光接收元件的示意图；图1OA是根据第二示例性实施例的检测设备的平面图，图1OB是根据第二示例性实施例的检测设备的正视图，以及图1OC是根据第二示例性实施例的检测设备的侧视图；图11示出了根据第二示例性实施例的通过光接收元件接收的平行光的接收的光强分布；以及图12A和图12B是分别示出根据第二示例性实施例的变型例的构造的示意图。【具体实施方式】下面将参照附图描述本专利技术的示例性实施例。(根据第一示例性实本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种检测设备，其包括：多个发光部分，它们布置成一行并以分时段方式将平行光发射到物体在其上经过的通道区域；一个或多个光接收部分，接收通过物体反射或透射穿过物体的平行光，所述光接收部分的数量小于所述发光部分的数量；以及检测部分，根据通过光接收部分接收的平行光的强度分布来检测物体的边缘和物体的具有不同反射率或透射率的部分的边缘中的至少一个。

【技术特征摘要】
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【专利技术属性】
技术研发人员：堀田宏之，中山秀生，
申请(专利权)人：富士施乐株式会社，
类型：发明
国别省市：