光子型定位紫外探测方法技术

一种光子型定位紫外探测方法，包括如下步骤：a、对被检测器件的外部放电部位进行寻找和/或定位：b、对被检测器件的外部放电部位产生的紫外光子进行采集：在所述成像模块寻找和/或定位到被检测器件的外部放电部位的同时，紫外光子采集结构接收所述外部放电部位所产生的紫外光子，并转换成数字信号；c、信号发送：所述成像模块和所述紫外光子采集结构通过发送模块，分别发送给后台处理系统。本发明专利技术由于采用了成像模块和紫外焦平面，通过非接触的方式对被检测器件的外部放电部位进行寻找和/或定位，并且同时对外部放电部位产生的紫外光子进行计数，具有造价低，易集成，高灵敏度，高可靠性和操作简单等优点。

【技术实现步骤摘要】
【专利摘要】一种，包括如下步骤：a、对被检测器件的外部放电部位进行寻找和/或定位：b、对被检测器件的外部放电部位产生的紫外光子进行采集：在所述成像模块寻找和/或定位到被检测器件的外部放电部位的同时，紫外光子采集结构接收所述外部放电部位所产生的紫外光子，并转换成数字信号；c、信号发送：所述成像模块和所述紫外光子采集结构通过发送模块，分别发送给后台处理系统。本专利技术由于采用了成像模块和紫外焦平面，通过非接触的方式对被检测器件的外部放电部位进行寻找和/或定位，并且同时对外部放电部位产生的紫外光子进行计数，具有造价低，易集成，高灵敏度，高可靠性和操作简单等优点。【专利说明】
本专利技术涉及输变电设备外部的电晕放电检测应用
，尤其涉及一种。
技术介绍
电力设备的绝缘介质在足够强的电场作用下，其外部的电晕范围内会发生放电，这种放电以仅造成导体间的绝缘电晕短接而不形成导电通道为限。每一次电晕放电对绝缘介质都会有一些影响，轻微的电晕放电对电力设备绝缘的影响较小，绝缘强度的下降较慢；而强烈的电晕放电，则会使绝缘强度很快下降。因此，电晕放电是引起输变电设备绝缘介质劣化的主要原因，监测电晕放电量可以评估输变电设备绝缘介质的工作状态。这种电晕放电也叫电晕放电，在电晕放电的过程中会产生紫外光子，其紫外光强(紫外光子数)和电晕放电量有直接联系。如何及早探测电晕放电量将是电网安全运行的一个重要课题。制定和执行科学严格的检测规程是保障电网安全运行的主要手段，但是目前主要是通过人工巡检，人工巡检往往不能及时准确的发现输变电设备电晕放电及故障缺陷。目前检测电晕放电的主流为用紫外成像仪，但是这种检测技术只能对电晕放电进行定性的检测，其原理是通过对紫外光斑进行图像计算，得出放电光子数值的粗略值，故而不能真实的体现设备故障点的缺陷程度。而且不能对电力设备进行实时，准确的检测，保证安全运行。
技术实现思路
为了克服上述问题，本专利技术向社会提供一种可以准确得出电晕放电时产生的紫外光子数的光子型紫外探测方法。本专利技术的技术方案是:提供一种，包括如下步骤: a、对被检测器件的外部放电部位进行寻找和/或定位: 用成像模块寻找和/或定位被检测器件的外部放电部位，并获得至少含有外部放电部位的被检测器件的图像； b、对被检测器件的外部放电部位产生的紫外光子进行采集: 在所述成像模块寻找和/或定位到被检测器件的外部放电部位的同时，紫外光子采集结构接收所述外部放电部位所产生的紫外光子，并将所述紫外光子信号转换成数字信号； C、信号发送: 所述成像模块和所述紫外光子采集结构通过发送模块，分别将所述图像和所述数字信号发送给后台处理系统。作为对本专利技术的改进，所述紫外光子采集结构依次包括光学系统、紫外滤光片和紫外焦平面，所述紫外焦平面与数字处理系统电性连接，所述紫外滤光片被设置成只允许紫外光子通过，所述紫外焦平面将接收到的紫外光子信号转换成模拟信号，所述数字处理系统将所述模拟信号转换成数字信号。作为对本专利技术的改进，还包括数据存储步骤，设置一个与所述发送模块电性连接的存储模块，所述成像模块、所述紫外光子采集结构分别将所述图像、所述数字信号存储到所述存储模块中。作为对本专利技术的改进，所述成像模块是可见光CCD成像模块或可见光CMOS成像模块。本专利技术由于采用了成像模块和紫外焦平面，通过非接触的方式对被检测器件的外部放电部位进行寻找和/或定位，并且同时对外部放电部位产生的紫外光子进行计数，从而准确地知道被检测器件故障点(放电部位)的缺陷程度，具有造价低，易集成，高灵敏度，高可靠性和操作简单等优点。【专利附图】【附图说明】图1是本专利技术与安装座连接时的立体结构示意图。图2是图1中光子型定位紫外探测器方框原理示意图。其中:1.光学系统；2.紫外滤光片；3.紫外焦平面；4.数字处理系统；5.存储模块；6.发送模块；7.成像模块；8.紫外光子采集结构；100.光子型定位紫外探测器；200.安装座。【具体实施方式】本专利技术提供一种，包括如下步骤: a、对被检测器件的外部放电部位进行寻找和/或定位: 用成像模块寻找和/或定位被检测器件的外部放电部位，并获得至少含有外部放电部位的被检测器件的图像； b、对被检测器件的外部放电部位产生的紫外光子进行采集: 在所述成像模块寻找和/或定位到被检测器件的外部放电部位的同时，紫外光子采集结构接收所述外部放电部位所产生的紫外光子，并将所述紫外光子信号转换成数字信号； C、信号发送: 所述成像模块和所述紫外光子采集结构通过发送模块，分别将所述图像和所述数字信号发送给后台处理系统。然后后台处理系统通过软件运算和分析后，通过显示界面显示给用户，用户从显示界面就可以直观地得到外部放电部位产生紫外光子的数量，从而准确地知道被检测器件故障点的缺陷程度。中，可以对被检测器件的一个位置的外部放电部位，同时探测紫外光子的数量和外部放电部位的位置。也可以对被检测器件的多个位置的外部放电部位，同时探测多个位置发出紫外光子的数量和外部放电部位的位置。中，所述紫外光子采集结构包括依次设置的光学系统、紫外滤光片和紫外焦平面，所述紫外焦平面与数字处理系统电性连接，所述紫外滤光片被设置成只允许紫外光子通过，滤过可见光中的背景光，所述紫外焦平面将接收到的紫外光子信号转换成模拟信号，所述模拟信号通过所述数字处理系统后转换成数字信号。中，还包括数据存储步骤，设置一个与所述发送模块电性连接的存储模块，所述成像模块、所述紫外光子采集结构分别将所述图像、所述数字信号存储到所述存储模块中。所述成像模块是可见光CCD成像模块或可见光CMOS成像模块。在对被检测器件的外部放电部位进行检测时，所述成像模块获得被检测器件的图像(可见光图像)中，至少包括所述外部放电部位，所述图像中显示的视野大于或等于所述外部放电部位，并且所述成像模块的成像框对准所述外部放电部位。所述成像模块接收被所述成像框对准的所述外部放电部位所产生的紫外光子。这样操作的好处是，可以很准确得知道所述外部放电部位的位置和其所产生的紫外光子数，从而准确的知道被检测器件故障点(放电部位)的缺陷程度。上述方法中，所述紫外焦平面在制备中采用背照射光电二极管阵列和硅读出电路，通过铟柱互连方式得到混成的紫外焦平面器件。所述紫外焦平面还可以用衍射微透镜列阵与紫外焦平面列阵相集成，所述衍射微透镜列阵与紫外焦平面列阵相集成技术，是在紫外焦平面阵列的同一芯片上进行衍射微透镜阵列的制作，将衍射透镜阵列制备在紫外焦平面阵列的背面，并采用双面对准技术，组合多层镀膜与剥离的微细加工工艺制备衍射微透镜阵列。所述双面对准技术包括双面同时曝光的光刻技术，或单面曝光、反面用红外对准的光刻技术，或单面曝光、反面用分离视场对准的光刻技术。请参见图1和图2，图1和图2所揭示的是一种光子型定位紫外探测器使用图及其方框原理图，包括光子型定位紫外探测器100和安装座200，所述光子型定位紫外探测器100安装在所述安装座200上，所述光子型定位紫外探测器100可以在所述安装座200上转动或旋转，从而对被检测器件进行定期巡视。所述光子型定位紫外探测器100包括成像模块7、紫外光子采集结构8和发送模块5，所述成像模块7寻找和/或定位被检测器件的外部放电部位本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种光子型定位紫外探测方法，其特征在于，包括如下步骤：对被检测器件的外部放电部位进行寻找和/或定位：用成像模块寻找和/或定位被检测器件的外部放电部位，并获得至少含有外部放电部位的被检测器件的图像；对被检测器件的外部放电部位产生的紫外光子进行采集：在所述成像模块寻找和/或定位到被检测器件的外部放电部位的同时，紫外光子采集结构接收所述外部放电部位所产生的紫外光子，并将所述紫外光子信号转换成数字信号；信号发送：所述成像模块和所述紫外光子采集结构通过发送模块，分别将所述图像和所述数字信号发送给后台处理系统。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：伊仁图太，蔡勚，
申请(专利权)人：深圳市同步银星电气有限公司，
类型：发明
国别省市：广东;44