本发明专利技术涉及光学校正装置，特别涉及一种大跨距光轴平行性检测装置，包括平行光管，平行光管的焦平面上设有分划板，分划板前端设有照明光源，平行光管的平行光路一侧设有数个入射面与出射面首尾叠放的斜方棱镜组，并且斜方棱镜组入射面和出射面与平行光管的平行光路垂直。采用本发明专利技术的装置，小口径平行光管的平行光路经斜方棱镜组平行偏折后与原平行光路保持平行，并且两平行光路的距离变大，实际使用中，可以根据被测平行光轴的跨距大小确定斜方棱镜叠加的数量，以实现大跨距平行光轴的检测。而且本装置的斜方棱镜叠装好后，不受安装状态和罩壳等安装因素的影响，稳定性好。
【技术实现步骤摘要】
【专利摘要】本专利技术涉及光学校正装置，特别涉及一种大跨距光轴平行性检测装置，包括平行光管，平行光管的焦平面上设有分划板，分划板前端设有照明光源，平行光管的平行光路一侧设有数个入射面与出射面首尾叠放的斜方棱镜组，并且斜方棱镜组入射面和出射面与平行光管的平行光路垂直。采用本专利技术的装置，小口径平行光管的平行光路经斜方棱镜组平行偏折后与原平行光路保持平行，并且两平行光路的距离变大，实际使用中，可以根据被测平行光轴的跨距大小确定斜方棱镜叠加的数量，以实现大跨距平行光轴的检测。而且本装置的斜方棱镜叠装好后，不受安装状态和罩壳等安装因素的影响，稳定性好。【专利说明】大跨距光轴平行性检测装置
本专利技术涉及光学校正装置，特别涉及一种大跨距光轴平行性检测装置。
技术介绍
众所周知，在光学系统中，精度要求都在秒级或微米级，一个光学系统装配完成后很难避免因为温度、震动、材料变形等因素给光学系统的精度造成误差，这种变化往往会给系统造成致命性的破坏，所以人们会在设计上尽量避免外界因素对系统的影响，但有时又会受到加工手段的限制，以及其他参数的限制，很难做到每一个设计出来的系统都是稳定、可靠的，所以许多光学仪器需要定期检查和校正。目前国内校正两个大跨距光学望远系统光轴平行性，多采用大口径平行光管。这些方法受到平行光管口径的限制，且大口径平行光管体积庞大，造价高昂。通光口径300毫米以上的平行光管就更少了。目前跨距大于300毫米的光学望远系统越来越多，其光轴平行性检测成本高，而且稳定性差。
技术实现思路
本专利技术针对现有技术存在的问题，提供一种成本低，稳定性好，便于操作的大跨距光轴平行性检测装置，可以借助一小口径平行光管实现对大跨距平行光轴的检测。本专利技术的装置是这样实现的，一种大跨距光轴平行性检测装置，包括平行光管，平行光管的焦平面上设有分划板，分划板前端设有照明光源，平行光管的平行光路一侧设有数个入射面与出射面首尾叠放的斜方棱镜组，并且斜方棱镜组入射面和出射面与平行光管的平行光路垂直。本专利技术的装置中，因为斜方棱镜的特性是入射光与出射光始终平行，其平行性与斜方棱镜是否倾斜无关，换言之，它可以将光轴平移，将数个叠加的斜方棱镜组置于平行光管的平行光路上，经斜方棱镜组平行偏折后与原平行光路保持平行，并且两平行光路的距离变大，实际使用中，可以根据被测平行光轴的跨距大小确定斜方棱镜叠加的数量，以实现大跨距平行光轴的检测。而且本装置的斜方棱镜叠装好后，不受安装状态和罩壳等安装因素的影响，稳定性好。为便于装置的安装调试，所述斜方棱镜组叠装后外周设有罩壳，并且靠近平行光管一端的斜方棱镜与平行光管间的罩壳上设有通光口一，靠近被测光轴二的斜方棱镜与被测光轴二之间的罩壳设有通光口二，罩壳固定在一调节座上。作为本专利技术的改进，所述平行光管的口径大于斜方棱镜偏光距的2倍。【专利附图】【附图说明】图1为本专利技术的结构图。其中，I平行光管；2斜方棱镜；3分划板；4照明光源；5被测光轴一 6被测光轴二 ；7罩壳；7a通光口一 ；7b通光口二。【具体实施方式】如图1所示为本专利技术的大跨距光轴平行性检测装置，包括平行光管1，平行光管I的焦平面上设有分划板3，分划板3前端设有照明光源4，平行光管I的平行光路一侧设有数个入射面与出射面首尾叠放的斜方棱镜组，并且斜方棱镜组入射面和出射面与平行光管I的平行光路垂直；斜方棱镜组叠装后外周设有罩壳7，并且靠近平行光管I 一端的斜方棱镜2与平行光管I间的罩壳7上设有通光口一 7a，靠近被测光轴二 6的斜方棱镜2与被测光轴二 6之间的罩壳7设有通光口二 7b，罩壳7固定在一调节座上；其中，平行光管I的口径大于斜方棱镜偏光距的2倍。本专利技术的装置中，因为斜方棱镜2的特性是入射光与出射光始终平行，其平行性与斜方棱镜2是否倾斜无关，换言之，它可以将光轴平移，将数个首尾叠加的斜方棱镜组置于平行光管I的平行光路上，经斜方棱镜组平行偏折后与原平行光路保持平行，并且两平行光路的距离经数次偏折后变大，而不再需要造价高昂的大口径平行光管，实际使用中，可以根据被测平行光轴的跨距大小确定斜方棱镜2叠加的数量，以实现大跨距平行光轴的检测。检测时，将被测的大跨距平行光轴中被测光轴一 5正对平行光管的原平行光路，调整罩壳7的位置，将偏折后的平行光路正对被测光轴二 6，即可实现对大跨距平行光路的检测。另外，本装置的斜方棱镜叠装好后，不受安装状态和罩壳7等安装因素的影响，稳定性好。本专利技术并不局限于上述实施例，凡是在本专利技术公开的技术方案的基础上，本领域的技术人员根据所公开的
技术实现思路
，不需要创造性的劳动就可以对其中的一些技术特征作出一些替换和变形，这些替换和变形均在本专利技术保护的范围内。【权利要求】1.一种大跨距光轴平行性检测装置，包括平行光管，平行光管的焦平面上设有分划板，分划板前端设有照明光源，其特征在于，平行光管的平行光路一侧设有数个入射面与出射面首尾叠放的斜方棱镜组，并且斜方棱镜组入射面和出射面与平行光管的平行光路垂直。2.根据权利要求1所述的大跨距光轴平行性检测装置，其特征在于，所述斜方棱镜组叠装后外周设有罩壳，并且靠近平行光管一端的斜方棱镜与平行光管间的罩壳上设有通光口一，靠近被测光轴二的斜方棱镜与被测光轴二之间的罩壳设有通光口二，罩壳固定在一调节座上。3.根据权利要求1或2所述的大跨距光轴平行性检测装置，其特征在于，所述平行光管的口径大于斜方棱镜偏光距的2倍。【文档编号】G01B11/27GK103674489SQ201210350898【公开日】2014年3月26日 申请日期:2012年9月20日 优先权日:2012年9月20日 【专利技术者】吴李宗 申请人:江苏省（扬州）数控机床研究院本文档来自技高网...
【技术保护点】
一种大跨距光轴平行性检测装置，包括平行光管，平行光管的焦平面上设有分划板，分划板前端设有照明光源，其特征在于，平行光管的平行光路一侧设有数个入射面与出射面首尾叠放的斜方棱镜组，并且斜方棱镜组入射面和出射面与平行光管的平行光路垂直。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：吴李宗，
申请(专利权)人：江苏省扬州数控机床研究院，
类型：发明
国别省市：江苏;32
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