半导体集成电路器件及微控制器制造技术

技术编号:9834649 阅读:135 留言:0更新日期:2014-04-02 00:28
本发明专利技术各实施方式总体上涉及半导体集成电路器件及微控制器。具体地,本发明专利技术的各实施方式用于解决微控制器的故障检测中出现相同故障的问题。微控制器具有CPU和数据访问控制电路。数据访问控制电路执行两种类型的访问:单独访问,其中CPU的数据访问针对每个线程执行,以及共享访问,其中CPU的数据访问通过执行两个线程执行。数据访问控制电路通过在共享访问中由执行两个线程生成的命令和地址之间分别进行比较来检测CPU的故障。

【技术实现步骤摘要】

【技术保护点】
一种微控制器,包括:CPU;命令存储器,耦合至所述CPU并且配置为存储将由所述CPU处理的命令;数据存储器,配置为存储将由所述CPU处理的数据;包括外围电路寄存器的外围电路,所述外围电路配置为通过所述CPU向所述外围电路寄存器的写入执行预定处理,并且所述外围电路配置为将处理结果存储于所述外围电路寄存器中,所述外围电路寄存器的数据能够被所述CPU读取;以及数据访问控制电路,耦合在所述CPU与所述数据存储器之间以及所述CPU与所述外围电路之间,并且配置为执行从所述CPU至所述数据存储器或者至所述外围电路寄存器的访问控制,其中使得所述命令存储器存储两个线程,其中所述CPU执行所述两个线程以由此执行双工处理,其中第一地址指示所述数据存储器和所述外围电路寄存器的存储区,其中所述数据访问控制电路通过所述两个线程的执行处理分别生成从所述CPU至所述数据存储器或者至所述外围电路寄存器的单独访问,其中所述数据访问控制电路基于所述两个线程的所述执行处理生成从所述CPU至所述数据存储器或者至所述外围电路寄存器的共享访问,以及其中所述数据访问控制电路基于所述两个线程的所述执行处理通过从所述CPU输出的所述第一地址来分别确定所述单独访问和所述共享访问的两个类型,并且用于检测所述CPU的故障的所述双工处理通过基于所述两个线程的所述执行处理的结果在所述共享访问中分别在所述命令与所述第一地址之间进行比较来执行。...

【技术特征摘要】
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【专利技术属性】
技术研发人员:山田弘道山田勉金川信康萩原今朝巳石黑雄一安增贵志福田和良中田善之
申请(专利权)人:瑞萨电子株式会社
类型:发明
国别省市:日本;JP

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