一种单面印刷电路板开路和短路测试装置，包括全短路测试盖板和全开路测试盖板，所述全短路测试盖板和全开路测试盖板上分别设有与待测电路板上的连接脚数量相同、位置相同的测试脚，所述全短路测试盖板上的测试脚相互导通，所述全开路测试盖板上的测试脚相互断开。有益效果：通过全短路测试盖板和全开路测试盖板实现了线路密集的电路板的开路和短路的测试，成本低，制作简单，避免了价格和维修成本高昂的治具费用投入。降低了生产成本，提高了出厂产品的可靠性。
【技术实现步骤摘要】
【专利摘要】一种单面印刷电路板开路和短路测试装置，包括全短路测试盖板和全开路测试盖板，所述全短路测试盖板和全开路测试盖板上分别设有与待测电路板上的连接脚数量相同、位置相同的测试脚，所述全短路测试盖板上的测试脚相互导通，所述全开路测试盖板上的测试脚相互断开。有益效果：通过全短路测试盖板和全开路测试盖板实现了线路密集的电路板的开路和短路的测试，成本低，制作简单，避免了价格和维修成本高昂的治具费用投入。降低了生产成本，提高了出厂产品的可靠性。【专利说明】单面印刷电路板开路和短路测试装置
该专利技术涉及一种电路板的测试装置，特别涉及一种单面印刷电路板开路和短路测试装置。
技术介绍
传统的印制电路板测试装置采用多层的环氧板制作测试针板，由于测试探针为易损品，所以在测试装置制作时通常采用在针板上固定套管，再在套管中放置测试探针，这样无形中增加了探针与探针间的距离。而随着电子产品的轻薄化，印制电路板的线路越来越密集，尤其是1C (半导体元件)脚宽度、间距基本为0.2_，甚至更小，传统的测试治具根本无法完成测试。产品不经过通断测试，无法确保交付客户使用的产品质量，市场风险巨大。而制作一幅高精度的测试装置动辄好几万元，而且由于测试探针过细，容易折断，后期的维修费用高昂，增加了生产成本。
技术实现思路
专利技术目的:本专利技术的目的是提供一种通过全开路测试和全短路测试来实现线路密集的半导体元件的开路和短路测试的单面印刷电路板开路和短路测试装置。技术方案:一种单面印刷电路板开路和短路测试装置，包括全短路测试盖板和全开路测试盖板，所述全短路测试盖板和全开路测试盖板上分别设有与待测电路板上的连接脚数量相同、位置相同的测试脚，所述全短路测试盖板上的测试脚相互导通，所述全开路测试盖板上的测试脚相互断开。所述全短路测试盖板测试表面加工有环形槽，所述环形槽连接全短路测试盖板上的各测试脚，所述环形槽内固定安装有导电胶。测试时通过导电胶连接各测试脚，实现全短路测试为了更加有效地隔离待测电路板各连接脚，所述全开路测试盖板上的测试脚为相互独立的方形通孔。测试时将待测电路板的连接脚置于相应的通孔内。测试方法:第一次测试时使用全开路测试盖板进行测试，如果显示全开路说明产品没有发生短路，如测试显示连接说明产品中有短路发生，产品为不良品；将第一次全开路测试合格的电路板进行第二次全短路测试，如果显示全短路，说明线路没有发生开路不良，如果测试线路开路说明产品中有开路发生，产品不良；两次测试全部合格的产品最终判定0K，可以确保产品无开路、短路不良。有益效果:通过全短路测试盖板和全开路测试盖板实现了线路密集的电路板的开路和短路的测试，成本低，制作简单，避免了价格和维修成本高昂的治具费用投入。降低了生产成本，提高了出厂产品的可靠性。【专利附图】【附图说明】图1为本专利技术全短路测试盖板的结构示意图；图2为本专利技术全开路测试盖板的结构示意图。【具体实施方式】下面结合附图对本专利技术作进一步说明。如图1所示，一种单面印刷电路板开路和短路测试装置的全短路测试盖板1，所述全短路测试盖板1上设有与待测电路板上的连接脚数量相同、位置相同的测试脚3，所述全短路测试盖板1上的测试脚3相互导通。所述全短路测试盖板1测试表面加工有环形槽4，所述环形槽4连接全短路测试盖板1上的各测试脚3，所述环形槽4内固定安装有导电胶。如图2所示，一种单面印刷电路板开路和短路测试装置的全开路测试盖板2，所述全开路测试盖板2分别设有与待测电路板上的连接脚数量相同、位置相同的测试脚3，所述全开路测试盖板2上的测试脚3相互断开。所述全开路测试盖板2上的测试脚3为相互独立的方形通孔。【权利要求】1.一种单面印刷电路板开路和短路测试装置，其特征在于:包括全短路测试盖板(1)和全开路测试盖板(2 )，所述全短路测试盖板(1)和全开路测试盖板(2 )上分别设有与待测电路板上的连接脚数量相同、位置相同的测试脚(3)，所述全短路测试盖板(1)上的测试脚(3)相互导通，所述全开路测试盖板(2)上的测试脚(3)相互断开。2.根据权利要求1所述的单面印刷电路板开路和短路测试装置，其特征在于:所述全短路测试盖板(1)测试表面加工有环形槽(4)，所述环形槽(4)连接全短路测试盖板(1)上的各测试脚(3 )，所述环形槽(4 )内固定安装有导电胶。3.根据权利要求1所述的单面印刷电路板开路和短路测试装置，其特征在于:所述全开路测试盖板(2)上的测试脚(3)为相互独立的方形通孔。【文档编号】G01R31/02GK103675583SQ201310408042【公开日】2014年3月26日 申请日期:2013年9月10日 优先权日:2013年9月10日 【专利技术者】李军 申请人:镇江华印电路板有限公司本文档来自技高网...
【技术保护点】
一种单面印刷电路板开路和短路测试装置, 其特征在于：包括全短路测试盖板（1）和全开路测试盖板（2），所述全短路测试盖板（1）和全开路测试盖板（2）上分别设有与待测电路板上的连接脚数量相同、位置相同的测试脚（3），所述全短路测试盖板（1）上的测试脚（3）相互导通，所述全开路测试盖板（2）上的测试脚（3）相互断开。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：李军，
申请(专利权)人：镇江华印电路板有限公司，
类型：发明
国别省市：江苏;32
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