X射线系统以及用于处理图像数据的方法技术方案

本发明专利技术公开一种X射线系统以及用于处理图像数据的方法，所述方法包括将数字检测器暴露于X射线辐射中。所述方法还包括通过所述数字检测器对数据进行取样，所述数据包括X射线图像数据和偏移图像数据。所述方法进一步包括在事先不知晓所取样的偏移图像帧总数的情况下计算平均偏移图像。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】X射线系统以及用于处理图像数据的方法
本专利技术涉及一种X射线成像系统，确切地说，涉及一种使用数字检测器的X射线成像系统。
技术介绍
当前已知并且正在使用采用了各种设计的多种射线成像系统。此类系统通常基于生成指向相关主体的X射线。X射线穿过主体并影响薄膜或数字检测器。此类X射线系统越来越多地使用数字电路来检测X射线，但此类射线通常会衰减、散射或者被主体的插入结构所吸收。例如在医疗诊断环境中，此类系统可以显示内部组织的图像并且诊断患者的病症。在其他环境中，可以对零件、行李、包裹和其他主体进行成像，以获悉这些结构的内部物体并且用于其他用途。可以设计基本X射线系统，以仅用于生成投射图像。尽管图像数据本身可能具有各种表示形式，但是投射图像可能以公知的倒像(reverse)形式呈现。除了投射X射线系统以外，所属领域现在还提供基于类似的X射线辐射生成和检测的透视系统(fluoroscopysystems)、计算机层析X射线照相系统(computedtomographysystems)以及层析X射线照相组合系统(tomosynthesissystems)。例如，在计算机层析X射线照相系统和层析X射线照相组合系统中，基于应用于多个所收集的图像的各种重构技术来将图像作为主体的切片进行计算。在任一上述类型的系统中收集的放射系统数据中可能存在各种非自然信号(artifacts)。特定类型的非自然信号是公知的并且能够以各种已知的方式进行处理、消除或更正。但是，仍然有一些非自然信号是无法轻易更正或避免的，至少已知的技术无法做到。例如，具有数字检测器的X射线系统可能因存在电子噪声，尤其是X射线剂量较低的应用中，而存在非自然信号。特别是相对于原始图像而言，从图像数据和偏移数据生成的偏移校正后的图像可能具有更多电子噪声。如果偏移校正后的图像是从包括增加电子噪声的X射线数据的多个成像帧生成的，则所述问题将进一步恶化。此类电子噪声可能对图像质量造成不利影响，因此，对图像的有效使用造成不利影响。因此，需要改进用于消除放射性图像数据中的电子噪声的方法。特别需要开发出能够解决X射线图像中的电子噪声的技术。
技术实现思路
根据一个实施例，本专利技术提供了一种用于处理X射线图像数据的方法，所述方法包括将数字检测器暴露于X射线辐射中。所述方法还包括通过数字检测器对数据进行取样，所述数据包括X射线图像数据和偏移图像数据。所述方法进一步包括在事先不知晓所取样的偏移图像帧总数的情况下计算平均偏移图像。如上所述的方法，包括准备所述数字检测器，该方法是在将所述数字检测器暴露于所述X射线辐射中之前对数据进行取样。如上所述的方法，其中准备所述数字检测器包括在将所述数字检测器暴露于所述X射线辐射中之前独立于所述过程开始对数据进行取样。如上所述的方法，其中在事先不知晓所述偏移图像帧的总数的情况下计算所述平均偏移图像是在对每个偏移图像帧进行取样时进行的。如上所述的方法，其中在事先不知晓所述偏移图像帧的总数的情况下计算所述平均偏移图像是在对所述偏移图像帧的总数进行取样之后进行的。如上所述的方法，包括确定取样图像帧是否包括X射线图像数据。如上所述的方法，包括在取样图像帧不包括X射线图像数据的情况下，将取样图像帧指定为偏移图像帧，以便用于计算所述平均偏移图像。如上所述的方法，包括在取样图像帧包括X射线图像数据的情况下，获取所述平均偏移图像。如上所述的方法，包括基于包括X射线图像数据的至少一个取样图像帧以及所述平均偏移图像生成偏移校正后图像。如上所述的方法，其中所述数字检测器配置用于计算所述平均偏移图像。如上所述的方法，其中与所述数字检测器通信的处理系统配置用于计算所述平均偏移图像。根据另一实施例，本专利技术提供一种用于处理X射线图像数据的方法，所述方法包括通过数字检测器对数据进行取样，所述数据包括X射线图像数据和偏移图像数据。所述方法还包括确定取样图像帧是否包括X射线图像数据。所述方法进一步包括在事先不知晓所取样的偏移图像帧总数的情况下计算平均偏移图像。如上所述的方法，包括在取样图像帧不包括X射线图像数据的情况下，将取样图像帧指定为偏移图像帧，以便用于计算所述平均偏移图像。如上所述的方法，包括在取样图像帧包括X射线图像数据的情况下，获取所述平均偏移图像。如上所述的方法，包括基于包括X射线图像数据的至少一个取样图像帧以及所述平均偏移图像生成偏移校正图像。如上所述的方法，包括准备所述检测器，该方法是在将所述数字检测器暴露于所述X射线辐射中之前对数据进行取样。如上所述的方法，其中准备所述检测器包括在将所述数字检测器暴露于所述X射线辐射中之前独立于所述过程开始对数据进行取样。如上所述的方法，其中在事先不知晓所述偏移图像帧的总数的情况下计算所述平均偏移图像是在对每个偏移图像帧进行取样时进行的。如上所述的方法，其中在事先不知晓所述偏移图像帧的总数的情况下计算所述平均偏移校正后图像是在对所述偏移图像帧的总数进行取样之后进行的。根据一个进一步实施例，本专利技术提供一种X射线成像系统，所述系统包括X射线辐射源。所述系统还包括数字检测器，所述数字检测器配置用于从所述辐射源接收X射线辐射，并且对数据进行取样，所述数据包括X射线图像数据和偏移图像数据。所述系统进一步包括处理电路，所述处理电路配置用于在事先不知晓所取样的偏移图像帧总数的情况下计算平均偏移图像。如上所述的系统，其中所述数字检测器包括所述处理电路。如上所述的系统，其中与所述数字检测器分离并且与所述数字检测器通信的处理系统包括所述处理电路。如上所述的系统，其中所述处理电路配置用于在事先不知晓所述偏移图像帧的总数的情况下，在对每个偏移帧进行取样时计算所述平均偏移图像。如上所述的系统，其中所述处理电路配置用于在事先不知晓所述偏移图像帧的总数的情况下，在对所述偏移图像帧的总数进行取样之后计算所述平均偏移图像。如上所述的系统，其中所述处理电路配置用于基于包括X射线图像数据的至少一个取样图像帧以及所述平均偏移图像生成偏移校正后图像。附图说明在参考附图阅读以下详细说明后，将更好地理解本专利技术的这些和其他特征、方面和优点，在附图中，类似的符号代表所有附图中类似的部分，其中：图1是根据本专利技术各方面装配的示例性X射线系统的透视图；图2是根据本专利技术各方面装配的示例性X射线系统的示意图，其中所述X射线系统包括透视成像系统；图3是图1和2中所示的X射线系统的图解示意图；图4是图1到3中所示系统的检测器中的功能部件的图解；图5是根据本专利技术各方面的成像应用的采集序列的图解，其中检测器事先不知晓曝光开始和结束时间，并且图像数据和偏移数据已获得；图6是根据本专利技术各方面的层析X射线照相组合成像应用的采集序列的图解，其中图像数据和偏移数据已获得；图7是根据本专利技术各方面的透视成像应用的采集序列的图解，其中图像数据和偏移数据已获得；图8是根据本专利技术各方面的方法的流程图，所述方法用于对数据进行取样以计算平均偏移图像并生成偏移校正后的图像；以及图9是根据本专利技术各方面的方法的流程图，所述方法用于对数据进行取样以确定用于计算平均偏移图像的数据，并生成偏移校正后的图像。具体实施方式总体上参见图1，其中示出了X射线系统，所述系统通常用参考数字10表示。在图示的实施例中，X射本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种用于处理X射线图像数据的方法，所述方法包括：将数字检测器暴露于X射线辐射中；通过所述数字检测器对数据进行取样，所述数据包括X射线图像数据和偏移图像数据；以及在事先不知晓所取样的偏移图像帧的总数的情况下计算平均偏移图像。

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】2011.04.27 US 13/0956551.一种用于处理X射线图像数据的方法，所述方法包括：将数字检测器暴露于X射线辐射中；通过数字检测器对数据进行取样，所述数据包括X射线图像数据和偏移图像数据；所述X射线图像数据用以生成X射线图像帧，所述偏移图像数据用以生成偏移图像帧；以及在事先不知晓所取样的偏移图像帧的总数的情况下计算平均偏移图像；包括对每个图像帧进行取样时确定图像帧是否包括X射线图像数据。2.根据权利要求1所述的方法，包括准备所述数字检测器，该方法是在将所述数字检测器暴露于所述X射线辐射中之前对数据进行取样。3.根据权利要求2所述的方法，其中准备所述数字检测器包括在将所述数字检测器暴露于所述X射线辐射中之前独立于所述暴露开始对数据进行取样。4.根据权利要求1所述的方法，其中在事先不知晓所述偏移图像帧的总数的情况下计算所述平均偏移图像是在对每个偏移图像帧进行取样时进行的。5.根据权利要求1所述的方法，其中在事先不知晓所述偏移图像帧的总数的情况下计算所述平均偏移图像是在对所述偏移图像帧的总数进行取样之后进行的。6.根据权利要求1所述的方法，包括在取样图像帧不包括X射线图像数据的情况下，将取样图像帧指定为偏移图像帧，以便用于计算所述平均偏移图像。7.根据权利要求1所述的方法，包括在取样图像帧包括X射线图像数据的情况下，获取所述平均偏移图像。8.根据权利要求1所述的方法，包括基于包括X射线图像数据的至少一个取样图像帧以及所述平均偏移图像生成偏移校正后图像。9.根据权利要求1所述的方法，其中所述数字检测器配置用于计算所述平均偏移图像。10.根据权利要求1所述的方法，其中与所述数字检测器通信的处理系统配置用于计算所述平均偏移图像。11.一种用于处理X射线图像数据的方法，所述方法包括：通过数字检测器对数据进行取样，所述数据包括X射线图像数据和偏移图像数据；所述X射线图像数据用以生成X射线图像帧，所述偏移图像数据用以生成偏移图像帧，以及在事先不知晓所取样的偏移图像帧的总数的情况下计算平均偏移图像；对每个图像帧进行取样时确定图像帧是否包括X射线图像数据。12.根据权利要求11所述的方法，包括在取样图像...

【专利技术属性】
技术研发人员：JZ刘，PR格兰富斯，薛平，DF朗勒，KS坎普，BJ科斯特，
申请(专利权)人：通用电气公司，
类型：
国别省市：