本发明专利技术公开一种多通道智能光学测试装置，包括依次连接的光源、光源控制电路、波长校准监控模块、光开关，光开关一个输出端依次连接偏振控制器、2×2分路器、1*N分光器连接，其中2×2分路器一个输出端与第一光功率探测器连接，一个输入端与第二光功率探测器连接；光开关另一个输出端同N×N分路器连接，N×N分路器输出端与阵列光功率探测器一一对应连接；光源控制电路、波长校准监控模块、光开关、偏振控制器、第一光功率探测器、第二光功率探测器、阵列光功率探测器同控制单元连接；采用本发明专利技术装置可以同时测试多通道模块的各项光学指标。
【技术实现步骤摘要】
一种多通道智能光学测试装置
本专利技术涉及一种测试装置，特别是一种用于光通信类器件模块的光学指标测试和验证的多通道智能测试装置，本专利技术属于通信领域。
技术介绍
为满足对带宽及传输速率的需求，通信运营商和系统供应商都把密集波分复用(DWDM Dense Wavelength Division Multiplexing)技术相结合作为当前光纤通信的主要手段，随着DWDM技术的不断升级，光纤通信网络的广泛使用使得网络拓扑结构越来越复杂，各种不同功能的器件和模块越来越多，诸如动态信道均衡器(DGE Dynamic GainEqualiztioner)、可调功率光复用器(VMUX Variable Multiplexer)、光分插复用器(0ADMOptical Add-Drop Multiplexer)、衰减器(VOA variable optical attenuator)、光开关(OSff Optical Switch)等光器件，这些器件和模块的光学指标特性决定了传输网络的质量和稳定性。而目前，这类器件和模块，大多数在生产和测 试中，往往需要多个测试设备和工序来完成，并且指标测试结果的判别多数由人工来判断完成，存在不合格品遗漏的情况 其次，在测试过程中，需要人工来完成模块通道切换，测试工序的流转等，生产效率低，测试一个完整器件模块光学指标所需要的设备种类繁多，设备价格昂贵。并且，目前光学测试系统需要定期测试校准设备，无法实时监控系统自身的准确性，容易因设备自身误差引入测试误差，从而给切件的测试带来影响。
技术实现思路
本专利技术的技术目的是克服现有技术存在的问题，提供一种新型的多通道智能光学测试装置，本专利技术装置可以解决现有测试设备种类多、成本高、生产效率低、尺寸大的问题。本专利技术的技术方案是: 一种多通道智能光学测试装置，包括依次连接的光源、光源控制电路、波长校准监控模块、光开关，光开关一个输出端依次连接偏振控制器、2 X 2分路器、1*N分光器连接,其中2X2分路器一个输出端与第一光功率探测器连接，一个输入端与第二光功率探测器连接；光开关另一个输出端同NXN分路器连接，NXN分路器输出端与阵列光功率探测器对应连接；光源控制电路、波长校准监控模块、光开关、偏振控制器、第一光功率探测器、第二光功率探测器、阵列光功率探测器同控制单元连接。所述光源包括宽带光源和可调滤波器，宽带光源同可调滤波器输入端相连接。所述光源输出波段为1280nnTl680nm波段。[0011 ] 所述光源为可调谐激光器，可调谐激光器输出波段为1280nnTl680nm波段。所述可调谐激光器采用快速调节的单波大范围激光器。所述波长校准监控模块包括第一 1X2分路器、第二 1X2分路器、波长标准具、第四光功率探测器、第五光功率探测器，第一 I X 2分路器一路分光端同第二 I X 2分路器的公共端相连，第二 1X2分路器的一路分光端依次连接有波长标准具、第五光功率探测器，第二 1X2分路器的一路分光端同第四光功率探测器。所述控制单元控制可调滤波器的输出波长使其满足宽带光源输出波长，控制波长校准监控模块实时判断可调滤波器输出是否符合宽带光源输出波长，控制光开关的通道间的切换，控制偏振控制器偏振状态，读取第一光功率探测器、第二光功率探测器、阵列光功率探测器测试的光功率数据。所述2X2分路器采用2X2均分耦合器。所述NXN分路器采用NXN均分耦合器。所述光开关采用1X2光开关。所述第一 1X2分路器采用1/99?20/80分光比范围中任意分光比的耦合器，第二1X2分路器(3-2)采用均分耦合器。本专利技术具有下列优点: 1、可同时测试需测试的模块(DTM)多个通道的全波长的插入损耗(IL)和偏振相关损耗(PDL)、回波损耗(RU、衰减精度、方向性、波长精度、带宽、增益平坦度、隔离度等光学指标； 2、通道数支持I?N(N> 16)，可多套系统级联扩展，通道数和测试指标量可以自由配置； 3、所有指标可以独立设置阈值范围，系统自动完成设计中组件间的切换和测试记录，且具备自动判断测试结果的功能； 4、系统具有自身监控和校准功能，能实时监控系统光源和滤波器的波长准确性和功率准确性，保证系统在测试时处于准确和可靠的状态，确保测试结果的准确性，减少了测试误差。【附图说明】图1是本专利技术多通道智能光学测试系统的测试装置第一种实施例结构图； 图2是本专利技术光源插入损耗校准示意图； 图3是本专利技术光源回波损耗校准示意图1 ; 图4是本专利技术光源回波损耗校准示意图2 ； 图5是本专利技术滤波校准和监控模块的主要结构示意图； 图6是采用本专利技术方案的待测试光学器件的测试光谱； 图7是采用本专利技术方案测试多通道待测试器件插入损耗(IL)的示意图； 图8是采用本专利技术方案测试多通道待测试器偏振相关损耗(PDL)的示意图； 图9是采用本专利技术方案测试和计算多通道待测试器件波长带宽(BW)的示意图； 图10是采用本专利技术方案测试和计算多通道待测试器件波长平坦度(Ripple)的示意图； 图11采用本专利技术方案测试和计算多通道待测试器件隔离度(ISO)的示意图； 图12本专利技术第二种实施例的结构连接图； 其中: 1:光源； 1-1:可调谐激光器；1-2:宽带光源； 2:可调滤波器；2-1:滤波器控制电路； 2-2:可调激光器控制电路； 3:波长校准监控模块；3-1:第一 1X2分路器； 3-2:第二 I X 2分路器；3-3:波长标准具； 3-4:第四光功率探测器；3-5:第五光功率探测器； 4:光开关； 5-1:2X2分路器；5-2:NXN分路器； 6-1:第一光功率探测器；6-2:第二光功率探测器； 6-3:阵列光功率探测器；7:偏振控制器； 8:1*N分光器；9:待测试器件； 10:标准跳线；11:控制单元；【具体实施方式】为了使本设计的目的和技术方案及优点更加清楚，结合附图和实施例，对本设计进行进一步的详细说明。本专利技术一种多通道智能光学测试装置的第一种实施例，包括宽带光源1-2、可调滤波器2、波长校准监控模块3、光开关4、偏振控制器7、1*N分光器8、2X2分路器5_1、NXN分路器5-2，宽带光源1-2和可调滤波器2组成光源1，宽带光源1-2输出端与可调滤波器2相连接，可调滤波器2的输出端与波长校准监控模块3的输入端连接，波长校准监控模块3的输出端与光开关4的输入端连接，光开关4输出端与偏振控制器7的输入端连接,偏振控制器7的输出端同2X2分路器5-1的第一输入端连接,2X2分路器5-1的第一个输出端与1*N分光器8的公共端连接，2 X 2分路器5-1第二个输出端与第一光功率探测器6-1连接，2X2分路器5-1第二个输入端与第二光功率探测器6-2连接，1*N分光器8的输出端与待测试模块的输入端连接，待测试模块的输出端和NXN分路器5-2的输入端一一对应连接，NXN分路器5-2的输出端与阵列光功率探测器6-3 —一对应连接；光学可调滤波器通过滤波器控制电路2-1与波长校准监控模块3连接，滤波器控制电路、波长校准监控模块、光开关、偏振控制器及各光学探测器通过其通讯接口与控制单元连接，控制单元通过其中的控制单元可实时控制上述设备本文档来自技高网...
【技术保护点】
一种多通道智能光学测试装置，其特征在于：包括依次连接的光源（1）、光源控制电路、波长校准监控模块（3）、光开关（4），光开关（4）一个输出端依次连接偏振控制器（7）、2×2分路器（5?1）、1*N分光器（8）连接，其中?2×2分路器（5?1）一个输出端与第一光功率探测器（6?1）连接，一个输入端与第二光功率探测器（6?2）连接；光开关（4）另一个输出端同N×N分路器（5?2）连接，?N×N分路器（5?2）输出端与阵列光功率探测器（6?3）一一对应连接；光源控制电路、波长校准监控模块（3）、光开关（4）、偏振控制器（7）、第一光功率探测器（6?1）、第二光功率探测器（6?2）、阵列光功率探测器（6?3）同控制单元（11）连接。
【技术特征摘要】
1.一种多通道智能光学测试装置，其特征在于:包括依次连接的光源(I)、光源控制电路、波长校准监控模块(3)、光开关(4),光开关(4) 一个输出端依次连接偏振控制器(7)、2X2分路器(5-l)、l*N分光器(8)连接，其中2X2分路器(5-1)—个输出端与第一光功率探测器(6-1)连接，一个输入端与第二光功率探测器(6-2)连接；光开关(4)另一个输出端同NXN分路器(5-2)连接，NXN分路器(5-2)输出端与阵列光功率探测器(6_3)——对应连接；光源控制电路、波长校准监控模块(3)、光开关(4)、偏振控制器(7)、第一光功率探测器(6-1)、第二光功率探测器(6-2)、阵列光功率探测器(6-3)同控制单元(11)连接。2.根据权利要求1所述的一种多通道智能光学测试装置，其特征在于:所述光源(I)包括宽带光源(1-2)和可调滤波器(2)，宽带光源(1-2)同可调滤波器(2)输入端相连接。3.根据权利要求1或2所述的一种多通道智能光学测试装置，其特征在于:所述光源(I)输出波段为1280nnTl680nm波段。4.根据权利要求1所述的一种多通道智能光学测试装置，其特征在于:所述光源(I)为可调谐激光器(1-1)，可调谐激光器(1-1)输出波段为1280nnTl680nm波段。5.根据权利要求4所述的一种多通道智能光学测试装置，其特征在于:所述可调谐激光器(1-1)采用快速调节的单波大范围激光器。6.根据权利要求1或2或4所述的一种多通道智能光学测试装置，其特征在于:所述波长校准监控模块(3)包括...
【专利技术属性】
技术研发人员：陈辉，吴晓平，孙莉萍，郑勇志，鲁佶，王文刚，陈义宗，
申请(专利权)人：武汉光迅科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：
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