本发明专利技术提供一种基于多端口网络匹配电路的S参数获取方法，该方法包括：步骤1，利用矢量网络分析仪对被测网络的S参数进行测量；步骤2，通过对匹配电路参数的设置，或利用所述矢量网络分析仪读取匹配电路S参数文件获取匹配电路的S参数；步骤3，利用多端口S参数的计算将所述匹配电路嵌入到所述被测网络中，得到整体网络的S参数。本发明专利技术利用设置匹配电路的参数，有效的简化匹配电路设计中的测试过程，实时的获取嵌入后的网络参数，无需重复进行匹配电路的设计，通过利用对匹配电路参数文件读取的方式，极大限度的保证在大规模测试情况下匹配电路的一致性。
【技术实现步骤摘要】
—种基于多端口网络匹配电路嵌入后的S参数获取方法
本专利技术属于射频电路领域，尤其涉及一种基于多端口网络匹配电路嵌入后的S参数获取方法。
技术介绍
在进行网络的阻抗匹配时，通常利用阻抗圆图或仿真软件来设计匹配网络。这样得到的匹配电路是理论值，这时，需要对实际嵌入匹配电路后的网络进行测量，以检验匹配的效果。若是实际测量的结果不满足设计要求，就要对匹配电路进行调整。如何实时、有效的得到匹配电路嵌入后的网络参数，是十分必要的。现有解决方案主要是通过将设计好的匹配电路接入到被测网络中，利用矢量网络分析仪测量整个匹配电路嵌入后的网络。对于测试结果不满足要求的情况，需要对设计的匹配电路进行微调，然后再重复上述测量过程，直至指标满足要求。现有技术有如下两个方面的不足:其一:对设计结果不满足指标要求的情况，需要重复设计、制造和测量。即现有方案，不能实时、有效的得到匹配电路嵌入后的网络参数。其二:在大规模的射频电路生产过程中，若是对大量的匹配电路嵌入后的网络进行测试，每次都需要重新连接。很难保证匹配电路在重复连接过程中的一致性。本专利技术的目的是利用对网络S参数的计算，提供一种高效率的匹配电路嵌入方法。这种方法可以有效的简化匹配电路设计中的测试过程，实现实时的获取嵌入后的网络参数。并且最大限度的保证在大规模测试情况下匹配电路的一致性。
技术实现思路
为解决上述问题，本专利技术提供一种基于多端口网络匹配电路嵌入后的S参数获取方法，其利用设置匹配电路的参数，有效的简化匹配电路设计中的测试过程，实时的获取嵌入后的网络参数，无需重复进行匹配电路的设计；通过利用对匹配电路参数文件读取的方式，极大限度的保证在大规模测试情况下匹配电路的一致性。本专利技术的基于多端口网络匹配电路嵌入后的S参数获取方法包括:步骤1，利用矢量网络分析仪对被测网络的S参数进行测量；步骤2，通过对匹配电路参数的设置，或利用所述矢量网络分析仪读取匹配电路S参数文件获取匹配电路的S参数；步骤3，利用多端口网络S参数的计算将所述匹配电路嵌入到所述被测网络中，得到整体网络的S参数；进一步的，所述步骤2中的匹配电路有五种形式进行阻抗匹配，分别为先串联L后并联C、先并联C后串联L、先并联L后串联C、先串联C后并联L、先并联L后并联C ；所述步骤3中，采用入射波/发射波的扩展矩阵方法进行嵌入，当所述匹配电路为双端口网络，所述被测网络为四端口网络时:将所述被测网络和所述双端口网络的入射波和发射波进行标注，并列出入射波、反射波的方程，然后对所述入射波、反射波的方程中进行变换，使所述双端口网络与所述被测网络的连接部分与未连接部分分开处理，得到扩展的入射波/反射波矩阵，如式(I)所示，本文档来自技高网...
【技术保护点】
一种基于多端口网络匹配电路嵌入后的S参数获取方法，其特征在于，包括：步骤1，利用矢量网络分析仪对被测网络的S参数进行测量；步骤2，通过对匹配电路参数的设置，或利用所述矢量网络分析仪读取匹配电路S参数文件获取匹配电路的S参数；步骤3，利用多端口网络S参数的计算将所述匹配电路嵌入到所述被测网络中，得到整体网络的S参数；进一步的，所述步骤2中的匹配电路有五种形式进行阻抗匹配，分别为先串联L后并联C、先并联C后串联L、先并联L后串联C、先串联C后并联L、先并联L后并联C；所述步骤3中，采用入射波／发射波的扩展矩阵方法进行嵌入，当所述匹配电路为双端口网络，所述被测网络为四端口网络时：将所述被测网络和所述双端口网络的入射波和发射波进行标注，并列出入射波、反射波的方程，然后对所述入射波、反射波的方程中进行变换，使所述双端口网络与所述被测网络的连接部分与未连接部分分开处理，得到扩展的入射波／反射波矩阵，如式(1)所示，b1b2b3b4b5b6=FS110000S22S23S240S32S33S340S42S43S44FS1200S210S310S41FS210000S12S13S14FS2200S11a1a2a3a4a5a6=ABCDa1a2a3a4a5a6---(1)其中：所述双端口网络的S参数为[FS]=FS11FS12FS21FS22;FS11为嵌入电路的反射波b1与入射波a1的比值，FS12为嵌入电路的反射波b1与入射波a5的比值，FS21为嵌入电路的反射波b5与入射波a1的比值，FS22为嵌入电路的反射波b5与入射波a5的比值；所述被测网络的S参数为[S]=S11S12S13S14S21S22S23S24S31S32S33S34S41S42S43S44;S11为被测网络的反射波b6与入射波a6的比值，S12为被测网络的反射波b6与入射波a2的比值，S13为被测网络的反射波b6与入射波a3的比值，S14为被测网络的反射波b6与入射波a4的比值；S21为被测网络的反射波b2与入射波a6的比值，S22为被测网络的反射波b2与入射波a2的比值，S23为被测网络的反射波b2与入射波a3的比值，S24为被测网络的反射波b2与入射波a4的比值；S31为被测网络的反射波b3与入射波a6的比值，S32为被测网络的反射波b3与入射波a2的比值，S33为被测网络的反射波b3与入射波a3的比值，S34为被测网络的反射波b3与入射波a4的比值；S41为被测网络的反射波b4与入射波a6的比值，S42为被测网络的反射波b4与入射波a2的比值，S43为被测网络的反射波b4与入射波a3的比值，S44为被测网络的反射波b4与入射波a4的比值；[A]=FS110000S22S23S240S32S33S340S42S43S44;[B]=FS1200S210S310S41;[C]=FS210000S12S13S14;[D]=FS2200S11在所述双端口网络和所述被测网络的连接部分，入射波和反射波的关系如式(2)所示：b5b6=0110a5a6=Ga5a6---(2)将所述式(1)进行分块处理得到式(3)和式(4)：b1b2b3b4=FS110000S22S23S240S32S33S340S42S43S44a1a2a3a4+FS1200S210S310S41a5a6=Aa1a2a3a4+Ba5a6---(3)b5b6=FS210000S12S13S14a1a2a3a4+FS2200S11a5a6=Ca1a2a3a4+Da5a6---(4)联立所述式(2)、所述式(3)、所述式(4)消掉b5b6得到所述整体网络的S参数，如式(5)所示：[TS]＝[A]+[B]([G]?[D])?1[C]????????(5)，其中：[TS]=TS11TS12TS13TS14TS21TS22TS23TS24TS31TS32TS33TS34TS41TS42TS43TS44;TS11为整体网络的反射波b1与入射波a1的比值，TS12为整体网络的反射波b1与入射波a2的比值，TS13为整体网络的反射波b1与入射波a3的比值，TS14为整体网络的反射波b1与入射波a4的比值；TS21为整体网络的反射波b2与入射波a1的比值，TS22为整体网络的反射波b2与入射波a2的比值，S23为整体网络的反射波b2与入射波a3的比值，S24为整体网络的反射波b2与入射波a4的比值；TS31为整体网络的反射波b3与入射波a1的比值，TS32为整体网络的反射波b3与入射波a2的比值，TS33为整体网络的反射波b3与入射波a...
【技术特征摘要】
1.一种基于多端口网络匹配电路嵌入后的S参数获取方法，其特征在于，包括: 步骤1，利用矢量网络分析仪对被测网络的S参数进行测量； 步骤2，通过对匹配电路参数的设置，或利用所述矢量网络分析仪读取匹配电路S参数文件获取匹配电路的S参数； 步骤3，利用多端口网络S参数的计算将所述匹配电路嵌入到所述被测网络中，得到整体网络的S参数； 进一步的，所述步骤2中的匹配电路有五种形式进行阻抗匹配，分别为先串联L后并联C、先并联C后串联L、先并联L后串联C、先串联C后并联L、先并联L后并联C ； 所述...
【专利技术属性】
技术研发人员：庄志远，郭永瑞，李树彪，赵立军，李明太，刘丹，马世敏，孙鹏德，
申请(专利权)人：中国电子科技集团公司第四十一研究所，
类型：发明
国别省市：
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