【技术实现步骤摘要】
嵌入式系统按键检测电路
[0001 ] 本技术涉及一种检测电路，尤其涉及一种嵌入式系统按键检测电路。
技术介绍
随着电子技术的发展，电子产品对于成本的控制也越来越严格。在按键检测电路中，由于传统的矩阵按键占用大量的GP10，在电子产品中的应用越来越受局限和制约；现有的基于模数按键检测电路，虽然已经减少了对GPIO的占用，但是却带来了大量电阻的开销，并且对于有着相同识别精度的模数转换器、相同安全电压间隔、相同误差电阻的电路来说，现有的检测电路能够准确识别的按键非常有限。伴随着技术的迅速发展，将不再能满足电子产品对于成本控制的苛刻要求。如图1所示是现有技术中的按键检测电路原理示意图，该装置包括微处理器(MCU)和外围按键检测电路，所述的外围按键检测电路包括一个上拉电阻和六个并联按键检测电路。该电路只有一个上拉电阻，考虑到AD的采样精度、电阻误差和安全电压间隔等问题，该电路能检测到的按键是极其有限的。如图1所示，假如外部电阻误差范围:R 土5%。安全电压范围:0.15V~0.2V，那么外部上拉电阻的阻值范围:95ΚΩ~105ΚΩ，当按键Kan按下时，外部上拉电阻外部下拉电阻Rfflll在电源VDD和地之间形成直流通路，其中电源VDD的电压值为3.3V，此时，IO 口输入的标准电压值为:{RQD1/(RQD1+RQU)}*3.3V={10/(100+10)}*3.3V=0.30Vο因电阻误差范围引起输入电压波动范围:表1
【技术保护点】
一种嵌入式系统按键检测电路，包括MCU和外围按键检测电路，所述MCU包括电连接着的A/D模块和具有模数转换功能的IO口，所述外围按键检测电路包括P个上拉按键、与P个上拉按键分别相应连接的P个上拉电阻、Q个下拉按键和与Q个下拉按键分别相应连接的Q个下拉电阻，?P个所述上拉电阻的另一端共接电源VDD，Q个所述下拉电阻的另一端共地，P个所述上拉按键和Q个所述下拉按键的另一端共接所述具有模数转换功能的IO口，其特征在于：在所述A/D模块和具有模数转换功能的IO口的连线上连接有M个上拉电阻和N个下拉电阻，M个所述上拉电阻的另一端共接电源VDD，N个所述下拉电阻的另一端共地，M、N、P、Q为0或自然数。
【技术特征摘要】
1.一种嵌入式系统按键检测电路，包括MCU和外围按键检测电路，所述MCU包括电连接着的A/D模块和具有模数转换功能的IO 口，所述外围按键检测电路包括P个上拉按键、与P个上拉按键分别相应连接的P个上拉电阻、Q个下拉按键和与Q个下拉按键分别相应连接的Q个下拉电阻，P个所述上拉电阻的另一端共接电源VDD，Q个所述下拉电阻的另一端共地，P个所述上拉按键和Q个所述下拉按键的另一端共接所述具有模数转换功能的IO口，其特征在于:在所述A/D模块和具有模数转换功能...
【专利技术属性】
技术研发人员：何凯帆，吴瀚平，彭木林，郑灼荣，
申请(专利权)人：卓荣集成电路科技有限公司，
类型：实用新型
国别省市：
还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。