【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及一种毫米波近距离三维成像
，特别是。
技术介绍
毫米波近距离三维成像系统一般包括毫米波发射机、毫米波接收机、机械扫描装置、电扫描装置、图像数据采集装置和图像处理装置。电扫描装置包括直线式天线阵列和开关阵列。使用时，利用毫米波发射机向检测目标发射毫米波信号，照射到检测目标上的毫米波被检测目标反射，然后利用机械扫描装置和电扫描装置对检测目标进行二维扫描，利用毫米波接收机在扫描面内的多个采样点接收被检测目标反射的毫米波信号。利用图像数据采集装置由检测目标反射的毫米波信号获得扫描面内的所有的采样点的图像数据。每一个采样点的图像数据包括该采样点的X轴坐标值、Y轴坐标值和灰度值三个参数，其中X轴坐标值和Y轴坐标值用于表征该米样点在扫描面内的位置，灰度值用于表征该米样点的灰度信息。利用图像处理装置由所有的采样点的图像数据得到肉眼可视的二维图像，以供用户观察使用。现有技术中，毫米波近距离三维成像系统的扫描面通常为平面或者圆柱形的曲面。如图1所示，以扫描面为XY平面为例，机械扫描装置通常沿X轴方向例如水平方向扫描，电扫描装置通常沿Y轴方向例如竖直方向扫描，且反之亦然。第一个采样点为XY平面的原点0(0，O)。扫描过程中，机械扫描装置沿X轴方向的扫描与电扫描装置沿Y轴方向的扫描同时进行。电扫描装置沿Y轴方向的扫描为匀速扫描；机械扫描装置沿X轴方向的扫描为变速扫描，即从静止开始，先加速扫描，然后匀速扫描，再减速扫描直到停止。沿X轴方向的扫描为变速扫描导致扫描面内的米样点沿X轴方向的间距不相等。沿X轴方向加速扫描时，采样点沿X轴方向的间距逐渐增大...
【技术保护点】
一种用于毫米波近距离三维成像系统的成像方法，其特征在于，该成像方法包括如下步骤：利用机械扫描装置和电扫描装置同时对检测目标进行扫描，机械扫描装置的扫描方向与电扫描装置的扫描方向垂直，并且实时测量机械扫描装置的扫描速度；计算获得扫描面内任意一个采样点的坐标值；由扫描面内所有的采样点的坐标值建立扫描面内的采样点点阵；沿机械扫描装置的扫描方向对采样点进行一维插值运算获得虚拟的采样点，且虚拟的采样点沿机械扫描装置的扫描方向均匀分布；利用图像数据采集装置由检测目标反射的毫米波信号获得扫描面内的所有的虚拟的采样点的图像数据；利用图像处理装置由扫描面内的所有的虚拟的采样点的图像数据得到肉眼可视的二维图像。
【技术特征摘要】
1.一种用于毫米波近距离三维成像系统的成像方法，其特征在于，该成像方法包括如下步骤: 利用机械扫描装置和电扫描装置同时对检测目标进行扫描，机械扫描装置的扫描方向与电扫描装置的扫描方向垂直，并且实时测量机械扫描装置的扫描速度； 计算获得扫描面内任意一个采样点的坐标值； 由扫描面内所有的采样点的坐标值建立扫描面内的采样点点阵； 沿机械扫描装置的扫描方向对采样点进行一维插值运算获得虚拟的采样点，且虚拟的采样点沿机械扫描装置的扫描方向均匀分布； 利用图像数据采集装置由检测目标反射的毫米波信号获得扫描面内的所有的虚拟的采样点的图像数据； 利用图...
【专利技术属性】
技术研发人员：方维海，年丰，温鑫，
申请(专利权)人：北京无线电计量测试研究所，
类型：发明
国别省市：
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