一种十五点优化极谱谱线处理方法技术

本发明专利技术公开一种十五点优化极谱谱线处理方法，包括以下步骤：step1.去噪处理；step2.校正处理；step3.得到校正基线。本发明专利技术通过对使用十五点去噪处理、寻找下凸包校正处理，获取校正基线、校正峰值、校正峰面积，可以使得基线、峰型更加规则易于计算，同时也可以使得计算结果更加准确。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种分析方法，具体的涉及。
技术介绍
极谱对样品中离子浓度的计算，是通过计算电势峰高或者面积并且与相同条件下的标准溶液相比较得出，默认浓度为0时电势为0。所以在极谱对样品进行测量前，先对标准溶液进行标定，找到当前样品浓度和电流峰高或面积之间对应关系。极谱仪器在扫描得到谱线数据后，峰的基线不为简单的直线；且峰型不规则，峰型与扫描前的富集时间、扫描过程中扫描速率(电压改变速率)、扫描电压范围、扫描电压步长和样品本身浓度有关；所述富集时间的定义如下:以玻碳或者金盘作为工作电极，将还原电势施加于工作电极并不停搅拌溶液，当电极电势超过某种金属离子的析出电势，溶液中被分析的金属离子还原为金属电镀于工作电极表面，电势施加时间越长，还原出来电镀于电极表面的金属越多，电势施加的时间就为富集时间。直接对谱线进行峰面积计算时本底扣除困难且误差较大，导致金属离子浓度计算误差较大。
技术实现思路
有鉴于此，需要克服现有技术中的上述缺陷中的至少一个。本专利技术提供的，通过极谱仪扫描待测样品得到初始数据和初始谱线，对其进行去噪、校正处理，得出新的基线，并在新的基线基础上得到校正数据和校正谱线，包括以下步骤:stepl去噪处理:对所述初始数据和所述初始谱线进行去噪处理，得到去燥数据和去燥谱线；st印2校正处理对去燥处理后的所述去燥数据和所述去燥谱线进行校正处理，得到校正数据和校正谱线；st印3得到校正基线根据Step2中的计算成果，计算校正基线。在使用极谱仪扫描待测样品得到初始数据和初始谱线时，采用的扫描参数包括，富集时间范围为5-50S ;所述扫描速率范围为200-600mV/s ;所述扫描电压范围为-4000mV?+4000mV ;所述扫描电压步长范围为l_20mV。根据本专利技术
技术介绍
中对现有技术所述，现有方法使用极谱仪器在扫描得到谱线数据后，峰的基线不为简单的直线，且峰型不规则，同时，直接对谱线进行峰面积计算时本底扣除困难且误差较大，导致金属离子浓度计算误差较大；本专利技术通过对使用去噪处理、校正处理，获取校正基线、校正峰值、校正峰面积，可以使得基线、峰型更加规则易于计算，同时也可以使得计算结果更加准确。另外，根据本专利技术公开的十五点优化极谱谱线处理方法还具有如下附加技术特征:进一步地，所述Stepl去噪处理对所述谱线采用15点加权平均的方法进行除噪，所述15点加权平均的公式为:本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种十五点优化极谱谱线处理方法，通过极谱仪扫描待测样品得到初始数据和初始谱线，对其进行去噪、校正处理，得出新的基线，并在新的基线基础上得到校正数据和校正谱线，其特征在于，包括以下步骤：step1去噪处理：对所述初始数据和所述初始谱线进行去噪处理，得到去燥数据和去燥谱线；step?2校正处理对去燥处理后的所述去燥数据和所述去燥谱线进行校正处理，得到校正数据和校正谱线；step?3得到校正基线根据step2中的计算成果，计算校正基线。

【技术特征摘要】
1.一种十五点优化极谱谱线处理方法，通过极谱仪扫描待测样品得到初始数据和初始谱线，对其进行去噪、校正处理，得出新的基线，并在新的基线基础上得到校正数据和校正谱线，其特征在于，包括以下步骤:stepl去噪处理:对所述初始数据和所述初始谱线进行去噪处理，得到去燥数据和去燥谱线；step 2校正处理对去燥处理后的所述去燥数据和所述去燥谱线进行校正处理，得到校正数据和校正谱线.-^4 ，step 3得到校正基线根据step2中的计算成果，计算校正基线。2.根据权利要求1所述的十五点优化极谱谱线处理方法，其特征在于，所述Stepl去噪处理对所述谱线采用15点加权平均的方法进行除噪，所述15点加权平均的公式为: 3.根据权利要求1所述的十五点优化极谱谱线处理方法，其特征在于，所述step2校正处理对所述谱线数据和谱线处理方法所指定的峰窗口范围的所述初始数据和所述初始谱线进行校正，所述峰窗口范围是确定进行基...

【专利技术属性】
技术研发人员：盛敏，李国志，夏洪海，彭建波，吴升海，方军，
申请(专利权)人：江苏天瑞仪器股份有限公司，
类型：发明
国别省市：