【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及清洗剂领域,尤其涉及。
技术介绍
硅片清洗剂广泛应用于光伏,电子等行业硅片清洗;由于硅片在运输过程中会有所污染,表面洁净度不是很高,对即将进行的腐蚀与刻蚀产生很大的影响,所以首先要对硅片表面进行一系列的清洗操作。清洗的一般思路首先是去除表面的有机沾污,然后溶解氧化膜,因为氧化层是“沾污陷进”,会引起外延缺陷;再去除颗粒、金属等,同时使硅片的表面钝化。目前多数娃片清洗剂米用RAC清洗中的一号液和三号液,但是一号液显碱性,可能会造成硅表面粗糙,要严格控制温度、浓度和时间;三号液显酸性,有强腐蚀性,对人体健康也不利,生产成本高,有刺激性气味,污染环境,因此需要进一步改进配方,以达到清洁彻底、无污染、腐蚀小、对人体健康、电路安全、降低成本的目的。
技术实现思路
本专利技术的目的在于提供,该清洗剂具有对光刻胶清洗速度快,对硅片腐蚀性小。本专利技术的技术方案如下: 一种光刻胶水基硅片清洗液,其特征在于由下列重量份的原料制成:三乙醇胺2-3、四氢糠醇4-5、苯并三氮唑1-2、十二烷基苯磺酸钠2-3、苯甲酸钠2-3、钥酸钠1_2、乙醇30-40、助剂4-5、去离子水100-120 ; 所述助剂由下列重量份的原料制成:硅烷偶联剂KH-570 2-3、抗氧剂1035 1_2、植酸1-2、吗啉3_4、甲基丙烯酸-2-轻基乙酯3_4、乙醇12-15 ;制备方法是将娃烧偶联剂KH-570、植酸、乙醇混合,加热至60-70°C,搅拌20-30分钟后,再加入其它剩余成分,升温至80-85°C,搅拌30-40分钟,即得。所述光刻胶水基硅片清洗液的制备方法,其特 ...
【技术保护点】
一种光刻胶水基硅片清洗液,其特征在于由下列重量份的原料制成:三乙醇胺2?3、四氢糠醇4?5、苯并三氮唑1?2、十二烷基苯磺酸钠2?3、苯甲酸钠2?3、钼酸钠1?2、乙醇30?40、助剂4?5、去离子水100?120;所述助剂由下列重量份的原料制成:硅烷偶联剂KH?570?2?3、抗氧剂1035?1?2、植酸1?2、吗啉3?4、甲基丙烯酸?2??羟基乙酯3?4、乙醇12?15;制备方法是将硅烷偶联剂KH?570?、植酸、乙醇混合,加热至60?70℃,搅拌20?30分钟后,再加入其它剩余成分,升温至80?85℃,搅拌30?40分钟,即得。
【技术特征摘要】
1.一种光刻胶水基硅片清洗液,其特征在于由下列重量份的原料制成:三乙醇胺2-3、四氢糠醇4-5、苯并三氮唑1-2、十二烷基苯磺酸钠2-3、苯甲酸钠2-3、钥酸钠1_2、乙醇30-40、助剂4-5、去离子水100-120 ; 所述助剂由下列重量份的原料制成:硅烷偶联剂KH-570 2-3、抗氧剂1035 1_2、植酸1-2、吗啉3_4、甲基丙烯酸-2-轻基乙酯3_4、乙醇12-15 ;制备方法是将娃烧偶联剂KH-570、...
【专利技术属性】
技术研发人员:郭万东,孟祥法,董培才,
申请(专利权)人:合肥中南光电有限公司,
类型:发明
国别省市:
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