一种基于最小二乘法提高AD采集精度的方法技术

本发明专利技术属于AD采集技术领域，公开了一种基于最小二乘法提高AD采集精度的方法，包括下述步骤：S1按照通信协议进行数据通信，发送采集命令并接收采集数据；S2采用最小二乘法对AD采集数据进行线性拟合，获得零位偏差和修正斜率值，并保存各个AD通道的零位偏差和修正斜率值；S3根据标定所需要的标准采样电压值以及各个AD通道的零位偏差和修正斜率值分别对多路AD通道的零偏和系数进行标定。本发明专利技术利用最小二乘法对AD采集数据进行修正补偿，计算AD采集的线性斜率以及零偏，可提高AD采集精度；同时采用滤波方法对采集电压值进行滤波处理，可以很好地消除毛刺，避免干扰，提高标定精度。另外还可以同时对多通道AD芯片进行电压修偏。

【技术实现步骤摘要】
—种基于最小二乗法提高AD采集精度的方法
本专利技术属于AD采集
，更具体地，涉及ー种基于最小二乗法提高AD采集精度的方法。
技术介绍
由于存在干扰以及AD芯片本身特性的影响，在实际工程应用中，AD芯片采集到的电压往往和实际电压有一定的偏差，因此，AD采集电压值在使用时需要进行算法处理。在工程实践中，常常需要同时为6路，甚至12路AD通道进行电压修偏，而且，每一路AD通道需要至少20个采样电压值才能进行标定，因此，实现同时对多通道AD芯片进行电压修偏，难度极大。
技术实现思路
针对现有技术的以上缺陷或改进需求，本专利技术提供了种基于最小二乗法提高AD采集精度的方法，g在解决现有技术中同时对多通道AD芯片进行电压修偏、难度大、精度低的技术问题。本专利技术提供的基于最小二乗法提高AD采集精度的方法，包括下述步骤:S1:按照通信协议进行数据通信，发送采集命令并接收采集数据；S2:采用最小二乘法对AD采集数据进行线性拟合，获得零位偏差和修正斜率值，并保存各个AD通道的零位偏差和修正斜率值；S3:根据标定所需要的标准采样电压值以及各个AD通道的零位偏差和修正斜率值分别对多路AD通道的零偏和系数进行标定。更进一歩地，各个AD通道标定所需要的标准采样电压值不同。更进ー步地，各个AD通道的零位偏差和修正斜率值以txt格式文档保存。更进一歩地，在步骤SI之后且步骤S2之前还包括下述步骤:对所述采集数据进行滤波处理。更进一歩地，在步骤S2中，根据公式

【技术保护点】
一种基于最小二乘法提高AD采集精度的方法，其特征在于，包括下述步骤：S1：按照通信协议进行数据通信，发送采集命令并接收AD采集数据；S2：采用最小二乘法对AD采集数据进行线性拟合，获得零位偏差和修正斜率值，并保存各个AD通道的零位偏差和修正斜率值；S3：根据标定所需要的标准采样电压值以及各个AD通道的零位偏差和修正斜率值分别对多路AD通道的零偏和系数进行标定。

【技术特征摘要】
1.一种基于最小二乗法提高AD采集精度的方法，其特征在于，包括下述步骤: 51:按照通信协议进行数据通信，发送采集命令并接收AD采集数据； 52:采用最小二乘法对AD采集数据进行线性拟合，获得零位偏差和修正斜率值，并保存各个AD通道的零位偏差和修正斜率值； S3:根据标定所需要的标准采样电压值以及各个AD通道的零位偏差和修正斜率值分别对多路AD通道的零偏和系数进行标...

【专利技术属性】
技术研发人员：邱耀明，陈公仆，吴旭亮，杨双俊，
申请(专利权)人：湖北三江航天红峰控制有限公司，
类型：发明
国别省市：