用于检测综合验光仪的辅助定位装置和光学检测系统制造方法及图纸

本实用新型专利技术提供了一种用于检测综合验光仪的辅助定位装置和光学检测系统。辅助定位装置包括：底座；移动台，移动台与底座可移动地连接；连接部，连接部用于固定待安装物，连接部设置在移动台上。使用本实用新型专利技术中的辅助定位装置时，待安装物（例如用于检测综合验光仪的光学检测装置）通过连接部固定在移动台上，当移动台在底座上移动时，会带动光学检测装置随移动台运动，从而改变光学检测装置的位置、实现对光学检测装置的定位、保证了光学检测装置的定位精度、提高了光学检测装置的检测精度和使用可靠性。由于不再仅凭经验调整光学检测装置的位置，因而减少了调整时间、提高了工作效率、降低了工作人员的劳动强度。（*该技术在2023年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】
用于检测综合验光仪的辅助定位装置和光学检测系统
本技术涉及综合验光仪检测
，更具体地，涉及一种用于检测综合验光仪的辅助定位装置和光学检测系统。
技术介绍
综合验光仪是一种可实现机械化的更换镜片从而实现屈光检查的功能的综合性屈光检查的仪器。综合验光仪的主要计量性能指标有:球镜顶焦度，柱镜顶焦度，棱镜度，柱镜轴位等。综合验光仪在生产、组装、使用的过程中，其性能指标有可能发生变化，这样就会导致验光不准，从而影响验光师的判断。此时，需要采用用于检测综合验光仪的性能指标的光学检测装置，对综合验光仪的性能指标、验光准确性进行量化判断。在使用光学检测装置时，由于需要对综合验光仪的左右镜片分别进行检测，因而需要在一定范围内来回移动光学检测装置。目前工作人员只能凭借经验通过改变光学检测装置的位置，使光学检测装置对准综合验光仪的左镜片或右镜片。这样改变光学检测装置的位置的方法存在以下问题:1.由于仅凭经验改变光学检测装置的位置，光学检测装置定位精度差，容易导致光学检测装置与综合验光仪对准精度低，影响了光学检测装置的检测精度。2.由于仅凭经验改变光学检测装置的位置，增加了调整光学检测装置的位置的时间、降低了工作效率、增加了工作人员的劳动强度。
技术实现思路
本技术旨在提供一种用于检测综合验光仪的辅助定位装置和光学检测系统，以解决现有技术中光学检测装置定位精度差的问题。为解决上述技术问题，根据本技术的一个方面，提供了一种用于检测综合验光仪的辅助定位装置，包括:底座；移动台，移动台与底座可移动地连接；连接部，连接部用于固定待安装物，连接部设置在移动台上。进一步地,底座包括:盒体,移动台滑动设置在盒体内；顶盖,顶盖包覆在移动台上，顶盖具有避让孔，连接部具有伸出部，伸出部通过避让孔从顶盖上伸出，顶盖遮盖盒体的顶部的一部分。进一步地，移动台与顶盖之间具有容纳空间；底座还包括保护盖，保护盖与盒体连接、并位于盒体的顶部所在的一端,保护盖的至少一部分位于容纳空间内。进一步地，辅助定位装置还包括用于限制移动台行程的限位部，限位部设置在盒体内并与移动台抵接或分离。进一步地，限位部包括限位环，限位环设置在盒体内、并位于移动台的下方；移动台包括本体和限位挡片，限位挡片的个数为两个，两个限位挡片沿移动台的运动方向分别设置在本体的两端，限位挡片与限位环抵接或分离。进一步地，限位部包括限位挡板，限位挡板为两个，两个限位挡板沿移动台的运动方向设置在盒体内，移动台位于两个限位挡板之间。进一步地，辅助定位装置还包括导向部，导向部设置在盒体内，移动台沿导向部滑动设置。进一步地，导向部为导向滑轨，移动台与导向滑轨滑动连接。进一步地，移动台包括本体和滚轮，滚轮为多个，多个滚轮可枢转地设置在本体的两侧；导向部为具有导向槽的导轨，滚轮可滚动地设置在导向槽内。根据本技术的另一个方面，提供了一种光学检测系统，包括光学检测装置，光学检测系统还包括上述的用于检测综合验光仪的辅助定位装置，光学检测装置与用于检测综合验光仪的辅助定位装置的连接部连接。本技术中的移动台可移动地设置在底座上，用于固定待安装物的连接部设置在移动台上。使用本技术中的辅助定位装置时，待安装物(例如用于检测综合验光仪的光学检测装置)通过连接部固定在移动台上，当移动台在底座上移动时，会带动光学检测装置随移动台运动，从而改变光学检测装置的位置、实现对光学检测装置的定位、保证了光学检测装置的定位精度、提高了光学检测装置的检测精度和使用可靠性。由于不再仅凭经验调整光学检测装置的位置，因而减少了调整时间、提高了工作效率、降低了工作人员的劳动强度。同时，本技术中的辅助定位装置具有结构简单、制造成本低的特点。【附图说明】构成本申请的一部分的附图用来提供对本技术的进一步理解，本技术的示意性实施例及其说明用于解释本技术，并不构成对本技术的不当限定。在附图中:图1示意性示出了本技术中的辅助定位装置的结构示意图；图2示意性示出了本技术中的辅助定位装置的内部结构示意图；图3示意性示出了本技术中的光学检测装置的一个局部结构示意图；图4示意性示出了本技术中的光学检测装置的另一个局部结构示意图；以及图5示意性示出了本技术中的光学检测装置的剖视图。图中附图标记:10、底座；11、盒体；12、顶盖；12a、避让孔；13、保护盖；20、移动台；21、本体；22、限位挡片；23、滚轮；30、连接部；40、限位部；41、限位环；42、限位挡板；50、导向部；51、导向槽；100、基座；200、光学系统；210、调焦元件；220、第一物镜；230、第一反光元件；240、分光元件；250、第二物镜；260、成像元件；270、第二反光元件；280、光阑；300、发光装置;310、分划板;320、光源;400、测量单元;500、平行光管;510、透光孔;600、导向管；610、限位槽；700、导杆；710、第二旋钮。【具体实施方式】以下结合附图对本技术的实施例进行详细说明，但是本技术可以由权利要求限定和覆盖的多种不同方式实施。作为本技术的第一个方面，提供了一种用于检测综合验光仪的辅助定位装置。如图1和图2所示，辅助定位装置包括:底座10 ;移动台20，移动台20与底座10可移动地连接；连接部30，连接部30用于固定待安装物，连接部30设置在移动台20上。使用本技术中的辅助定位装置时，待安装物(例如用于检测综合验光仪的光学检测装置)通过连接部30固定在移动台20上，当移动台20在底座10上移动时，会带动光学检测装置随移动台20运动，从而改变光学检测装置的位置、实现对光学检测装置的定位、保证了光学检测装置的定位精度、提高了光学检测装置的检测精度和使用可靠性。由于不再仅凭经验调整光学检测装置的位置，因而减少了调整时间、提高了工作效率、降低了工作人员的劳动强度。同时，本技术中的辅助定位装置具有结构简单、制造成本低的特点。如图1和图2所示的实施例中，底座10包括:盒体11，移动台20滑动设置在盒体11内；顶盖12，顶盖12包覆在移动台20上，顶盖12具有避让孔12a，连接部30具有伸出部，伸出部通过避让孔12a从顶盖12上伸出，顶盖12遮盖盒体11的顶部的一部分。由于移动台20滑动设置在盒体11内，因而移动台20的运动行程被限定在盒体11的空间内，从而保证了移动台20的运行稳定性和使用可靠性。由于顶盖12包覆在移动台20上，因而移动台20位于顶盖12与盒体11之间的容纳腔中，从而保证移动台20不会受到外界异物的撞击而损毁，延长了移动台20的使用寿命，并提高了移动台20的运行稳定性。由于顶盖12具有避让孔12a，因而连接部30可以穿过避让孔12a从顶盖12内伸出，从而方便工作人员将光学检测装置与连接部30连接、提高了辅助定位装置的使用可靠性。如图1和图2所示的实施例中，移动台20与顶盖12之间具有容纳空间；底座10还包括保护盖13，保护盖13与盒体11连接、并位于盒体11的顶部所在的一端，保护盖13的一部分位于容纳空间内。由于保护盖13的至少一部分位于容纳空间内，因而移动台20带动顶盖12运动时，保护盖13不会阻碍移动台20的运动，从而保证了移动台20的本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种用于检测综合验光仪的辅助定位装置，其特征在于，包括：底座（10）；移动台（20），所述移动台（20）与所述底座（10）可移动地连接；连接部（30），所述连接部（30）用于固定待安装物，所述连接部（30）设置在所述移动台（20）上。

【技术特征摘要】
1.一种用于检测综合验光仪的辅助定位装置，其特征在于，包括: 底座(10)； 移动台(20)，所述移动台(20)与所述底座(10)可移动地连接； 连接部(30 )，所述连接部(30 )用于固定待安装物，所述连接部(30 )设置在所述移动台(20)上。2.根据权利要求1所述的辅助定位装置，其特征在于，所述底座(10)包括: 盒体(11)，所述移动台(20 )滑动设置在所述盒体(11)内； 顶盖(12)，所述顶盖(12)包覆在所述移动台(20)上，所述顶盖(12)具有避让孔(12a)，所述连接部(30)具有伸出部，所述伸出部通过所述避让孔(12a)从所述顶盖(12)上伸出，所述顶盖(12)遮盖所述盒体(11)的顶部的一部分。3.根据权利要求2所述的辅助定位装置，其特征在于，所述移动台(20)与所述顶盖(12)之间具有容纳空间；所述底座(10)还包括保护盖(13)，所述保护盖(13)与所述盒体(11)连接、并位于所述盒体(11)的所述顶部所在的一端，所述保护盖(13)的至少一部分位于所述容纳空间内。4.根据权利要求2所述的辅助定位装置，其特征在于，所述辅助定位装置还包括用于限制所述移动台(20)行程的限位部(40)，所述限位部(40)设置在所述盒体(11)内并与所述移动台(20)抵接或分离。5.根据权利要求4所述的辅助定位装置，其特征在于， 所述限位部(40)包括限位环(41)，所述限位环(41)设置在所述盒体(11)内、并位于所述移动台(20)的下方； ...

【专利技术属性】
技术研发人员：刘文丽，李飞，洪宝玉，张吉焱，马振亚，孙劼，
申请(专利权)人：中国计量科学研究院，
类型：实用新型
国别省市：