【技术实现步骤摘要】
一种原子荧光采样针清洗装置
本专利技术涉及一种原子荧光采样针清洗装置，属于采样针清洗装置
。
技术介绍
现有技术中，光谱类分析仪器被广泛应用于元素的定量测定。原子荧光光度计是一种常见的光谱类分析仪器。原子荧光光度计测试过程的基本工作原理是:测试样品的各元素经反应形成相应的氢化物，与氢气和载气混合，进入原子化器实现原子化后，在激发光源的照射下发出特定波长原子荧光信号，检测器接收此荧光信号并根据此荧光信号强度与元素浓度成正比的特性来获得元素的浓度数据。目前，大部分原子荧光光度计具有自动稀释、自动进样功能。传统的自动进样运行方式是自动进样器的采样针移动到样品位吸取待测样品，然后采样针移动到载流位吸取载流推动样品进入反应器。采样针吸取样品后直接吸取载流，可能造成载流的污染，影响实验结果的准确性，测试精度较低。
技术实现思路
本专利技术的目的是为了解决上述现有技术存在的问题，即采样针吸取样品后直接吸取载流，可能造成载流的污染，影响实验结果的准确性，测试精度较低。进而提供一种原子荧光采样针清洗装置。本专利技术的目的是通过以下技术方案实现的: 一种原子荧光采样针清洗装置，包括:载流槽、连通管、清洗槽、第一溢出管、第二溢出管和废液槽，所述连通管的一端与载流槽的下部相连通，连通管的另一端与清洗槽的下部相连通，所述第一溢出管的一端与清洗槽的上部相连通，第一溢出管的另一端与废液槽的上部相连通，第二溢出管的一端与载流槽的上部相连通，第二溢出管的另一端与废液槽的上部相连通，所述载流槽上设有一个补充载流端口 ；所述清洗槽上设有一个废液排放端口；所述废液槽上设有一个...
【技术保护点】
一种原子荧光采样针清洗装置，其特征在于，包括载流槽（1）、连通管（2）、清洗槽（3）、第一溢出管（4）、第二溢出管（5）和废液槽（6），所述连通管（2）的一端与载流槽（1）的下部相连通，连通管（2）的另一端与清洗槽（3）的下部相连通，所述第一溢出管（4）的一端与清洗槽（3）的上部相连通，第一溢出管（4）的另一端与废液槽（6）的上部相连通，第二溢出管（5）的一端与载流槽（1）的上部相连通，第二溢出管（5）的另一端与废液槽（6）的上部相连通，所述载流槽（1）上设有一个补充载流端口（7）；所述清洗槽（3）上设有一个废液排放端口（8）；所述废液槽（6）上设有一个废液排放端口（9）。
【技术特征摘要】
1.一种原子荧光采样针清洗装置，其特征在于，包括载流槽(I)、连通管(2)、清洗槽(3)、第一溢出管(4)、第二溢出管(5)和废液槽(6)，所述连通管(2)的一端与载流槽(I)的下部相连通，连通管(2)的另一端与清洗槽(3)的下部相连通，所述第一溢出管(4)的一端与清洗槽(3)的上部相连通，第一溢出管(4)的另一端与废液槽(6)的上部相连通，第二溢出管(5)的一端与载流槽(I)的上部相连通，...
【专利技术属性】
技术研发人员：宗林茂，
申请(专利权)人：北京锐光仪器有限公司，
类型：发明
国别省市：
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