天线检测装置制造方法及图纸

技术编号:9666487 阅读:104 留言:0更新日期:2014-02-14 03:12
本发明专利技术关于一种天线检测装置,其包括:基座;承载平台,该承载平台设置于该基座上,且该承载平台具有承载面用于承载待测装置,该待测装置具有第一待测天线;以及测试结构,该测试结构设置于该承载平台与该基座之间,且该测试结构包括:第一框架;第一滑动件,该第一滑动件设置于该第一框架上,且该第一滑动件可相对该第一框架于第一方向往复移动;第一接地板,该第一接地板设置于该第一滑动件上;及第一测试探针,该第一测试探针设置于该接地板上,通过滑动该第一滑动件以使该第一测试探针与该第一待测天线的接触点电性接触。本发明专利技术的天线检测装置利用滑动结构实现了对不同型号的待测装置进行检测,从而提高了检测效率。

【技术实现步骤摘要】
天线检测装置
本专利技术涉及一种天线检测装置,尤其涉及一种是用不同尺寸移动通信装置的天线检测装置。
技术介绍
天线作为移动通信装置的关键组件之一,在研发过程中或出厂前均需要进行参数测试。现有技术中的天线测试过程大致为:将一待测天线放置至屏蔽箱内,该待测天线的接触点通过导线或电缆线电连接至天线测试装置,如矢量网络分析仪等。近年来,随着科技的不断进步,快速发展出各式各样不同尺寸和类型的移动通信装置,因此在移动通信装置的天线的检测过程中,需要依移动通信装置的尺寸和类型制作专属的天线检测装置,同时配合网络分析仪(Network Analyzer)以测试其天线的参数,因而容易造成资源的浪费和成本的增加。如图1所示,图1为现有技术中的天线检测装置,天线检测装置10包括基座11、承载框架12、接地板14、测试探针13及基座柱16,其中,基座11由木材或压克力材质所构成,基座11的侧边设有基座柱16,基座11的上方依次设有接地板14及承载框架12,且接地板14与承载框架12的侧边分别依次固定于基座柱16上,接地板14位于承载框架12的下方,其中,承载框架12用以承载具有待测天线的待测移动通信装置,接地板14上设置有至少一个测试探针13,测试探针13,例如:天线弹片,测试探针13与接地板14之间电性连接,测试时,测试探针13与 待测天线的接触点电性接触。天线检测装置10还包括至少一个同轴电缆接口 15,电缆线通过同轴电缆接口 15将天线检测装置10与网络分析仪电性连接,且这些同轴电缆接口 15与这些测试探针13之间--对应。天线检测装置10工作时,首先,将具有待测天线的移动通信装置放置于承载框架12上,并使得待测天线的接触点与测试探针13电性接触;其次,将电缆线的一端连接至同轴电缆接口 15,将电缆线的一端连接至网络分析仪。测试时,通过观察网络分析仪上的天线反射系数或者驻波比等天线特性参数,以判断待测天线是否准确组装置至移动通信装置上,待测天线本身的品质是否合格等。然而,上述天线检测装置10在实际使用中存在如下问题:1)测试探针的位置固定,因而只能针对特定信号的移动通信装置的待测天线进行测试;2)测试探针与同轴电缆接口之间以电缆线连接,由于电缆线的长度过长,或者测试探针与接地板之间接地不完全等因素,导致待测试天线的特性参数无法确认而产生误判,进而造成人力及资源的浪费。
技术实现思路
本专利技术的目的在于提供一种天线检测装置,以满足各种不同尺寸和类型的移动通信装置的天线测试,以提高检测的效率,同时避免了使用专用测试治具,而降低了测试产品测试中资源的浪费和成本的增加。本专利技术提供一种天线检测装置,该天线测试装置包括:基座;承载平台,该承载平台设置于该基座上,且该承载平台具有承载面用于承载待测装置,该待测装置具有第一待测天线;以及测试结构,该测试结构设置于该承载平台与该基座之间,且该测试结构包括:第一框架;第一滑动件,该第一滑动件设置于该第一框架上,且该第一滑动件可相对该第一框架于第一方向往复移动;第一接地板,该第一接地板设置于该第一滑动件上;及第一测试探针,该第一测试探针设置于该接地板上,通过滑动该第一滑动件以使该第一测试探针与该第一待测天线的接触点电性接触。作为可选的技术方案,该接地板可相对于该第一滑动件于第二方向上往复移动,该第一方向与该第二方向相异。作为可选的技术方案,该天线测试装置还包括基座柱,该基座柱设置于该基座的第一侧边,该基座柱具有滑槽,该第一框架具有凸起,该凸起可相对该滑槽上下移动地设置于该滑槽内,以调节该测试结构与该待测装置之间的距离,使得该第一测试探针与该第一待测天线的接触点相电性接触。作为可选的技术方案,该待测装置具有第二待测天线。作为可选的技术方案,该测试结构还包括第二滑动件、第二接地板及第二测试探针,该第二滑动件设置于该第一框架上,该第二接地板设置于该第二滑动件上,该第二测试探针设置于该第二接地板上,通过滑动该第二滑动件以使该第二测试探针与该第二待测天线的接触点电性接触。作为可选的技术方案,该第二滑动件可相对于该第一框架沿第三方向往复移动。作为可选的技术方案,该第二接地板可相对于该第二滑动件沿第四方向往复移动,且该第四方向与该第三方向相异。作为可选的技术方案,该承载平台包括第二框架以及第三滑动件,该第三滑动件可相对该第二框架沿至少一个方向往复移`动,以使该第三滑动件与该第二框架形成大小可调解的容置空间以容置该待测装置。作为可选的技术方案,该待测装置为手机、平板电脑或笔记本电脑。.作为可选的技术方案,该第一测试探针为金属探针或者金属弹片。与现有技术相比,首先,本专利技术的天线检测装置通过滑动件的滑动,使得承载平台具有大小可调解的容置空间以容置各种型号和尺寸的待测装置,改善了现有技术中检测装置不能重复利用的问题;其次,本专利技术的天线检测装置中采用小尺寸的多个独立的接地板,并藉由滑动件使接地板灵活的移动,使得接地板上的探针可以快速的与待测装置的待测天线的接触点进行电性接触,因而提高了测试的效率。【附图说明】图1为现有技术中的天线检测装置的示意图。图2为本专利技术的天线检测装置的示意图。图3为本专利技术另一实施例中测试探针的滑动结构示意图。图4为本专利技术又一实施例中第二框架与第三滑动件的示意图。【具体实施方式】以下结合附图和具体实施例对本专利技术进行详细描述,但不作为对本专利技术的限定。请参照图2,图2为本专利技术的天线检测装置的示意图,天线检测装置20包括:基座21、承载平台23以及测试结构,基座21上方设有测试结构,测试结构上方设有承载平台23,亦即测试结构设置于承载平台23与基座21之间,承载平台23用以承载待测装置,待测装置具有第一待测天线,其中,测试结构包括:第一框架22、第一滑动件222、第一接地板224及第一测试探针223,第一滑动件222可相对于第一框架22沿SI方向往复移动,第一测试探针223设置于第一接地板224上,且通过滑动第一滑动件222可以使第一测试探针223移动并与第一待测天线的接触点电性接触。本实施方式中的待测装置可以为手机、平板电脑或笔记本电脑等,除此之外,待测装置也可以是电路板或者未完全组装的通信装置,其中,电路板上具有待测天线的接触点。上述实施方式中,第一滑动件222相对于第一框架22沿SI方向往复移动,藉由第一滑动件222在第一框架22的上的滑槽221中往复移动来实现。为提高天线检测装置的灵活性,第一接地板224还可以相对于第一滑动件222沿S2方向往复移动,其中,SI方向与S2方向相异。在本实施方式中,第一接地板224例如设置于滑块结构225上,滑块结构225可相对于第一滑动件222沿S2方向往复移动,以带动第一接地板224与第一测试探针223在S2方向上移动,并使得第一测试探针223与第一待测天线的接触点电性接触。在第一接地板224的下方设有同轴电缆接口 226,同轴电缆接口226通过电缆线与第一测试探针223之间电性连接。而且较佳地,本实施方式中SI方向与S2方向相互垂直。请参照图3,图3为本专利技术另一实施例中测试探针的滑动结构示意图,接地板2213设置于滑块组件2212上,滑块组件2212包括底座2112b和柱体2212a,柱体2212a具有承载面(未示出)用以固定接地板221本文档来自技高网
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【技术保护点】
一种天线检测装置,其特征在于,该天线测试装置包括:基座;承载平台,该承载平台设置于该基座上,且该承载平台具有承载面用于承载待测装置,该待测装置具有第一待测天线;以及测试结构,该测试结构设置于该承载平台与该基座之间,且该测试结构包括:第一框架;第一滑动件,该第一滑动件设置于该第一框架上,且该第一滑动件可相对该第一框架于第一方向往复移动;第一接地板,该第一接地板设置于该第一滑动件上;及第一测试探针,该第一测试探针设置于该接地板上,通过滑动该第一滑动件以使该第一测试探针与该第一待测天线的接触点电性接触。

【技术特征摘要】
1.一种天线检测装置,其特征在于,该天线测试装置包括: 基座; 承载平台,该承载平台设置于该基座上,且该承载平台具有承载面用于承载待测装置,该待测装置具有第一待测天线;以及 测试结构,该测试结构设置于该承载平台与该基座之间,且该测试结构包括: 第一框架; 第一滑动件,该第一滑动件设置于该第一框架上,且该第一滑动件可相对该第一框架于第一方向往复移动; 第一接地板,该第一接地板设置于该第一滑动件上 '及 第一测试探针,该第一测试探针设置于该接地板上,通过滑动该第一滑动件以使该第一测试探针与该第一待测天线的接触点电性接触。2.如权利要求1所述的天线检测装置,其特征在于,该第一接地板可相对于该第一滑动件于第二方向上往复移动,该第一方向与该第二方向相异。3.如权利要求1所述的天线检测装置,其特征在于,该天线测试装置还包括基座柱,该基座柱设置于该基座的第一侧边,该基座柱具有滑槽,该第一框架具有凸起,该凸起可相对该滑槽上下移动地设置于该滑槽内,以调节该测试结构与该待测装置之间的距离,使得该第一测试探针与该第一待测天线的接触点电性接触。4.如权...

【专利技术属性】
技术研发人员:徐绍恩
申请(专利权)人:苏州佳世达电通有限公司佳世达科技股份有限公司
类型:发明
国别省市:

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