本实用新型专利技术公开了一种基于SCE测量结构的测色仪，包括积分球和标准光源，所述积分球的侧壁设置有一入射口，所述标准光源发出的光线通过所述入射口进入积分球，所述积分球底部设置有对应被测物体的测量口，在与所述测量口的法线方向夹角为8°且靠近标准光源的积分球一侧上设置有探测器，在所述积分球另一侧上且与探测器对称的位置处设置有一用于防止被测物体表面的镜面反射光进入探测器的光阱；通过光阱去除通过被测物体表面镜面反射进入探测器的光信号，从而实现了在测试结果中去除镜面反射光线，使得最终得到的测试结果与人眼观测到的相一致，大大降低了测试结果的误差。进一步地，在光阱处设置了一个图像传感器，使用户可以直观的观察被测样品。（*该技术在2023年保护过期，可自由使用*）
【技术实现步骤摘要】
【专利摘要】本技术公开了一种基于SCE测量结构的测色仪，包括积分球和标准光源，所述积分球的侧壁设置有一入射口，所述标准光源发出的光线通过所述入射口进入积分球，所述积分球底部设置有对应被测物体的测量口，在与所述测量口的法线方向夹角为8°且靠近标准光源的积分球一侧上设置有探测器，在所述积分球另一侧上且与探测器对称的位置处设置有一用于防止被测物体表面的镜面反射光进入探测器的光阱；通过光阱去除通过被测物体表面镜面反射进入探测器的光信号，从而实现了在测试结果中去除镜面反射光线，使得最终得到的测试结果与人眼观测到的相一致，大大降低了测试结果的误差。进一步地，在光阱处设置了一个图像传感器，使用户可以直观的观察被测样品。【专利说明】—种基于SCE测量结构的测色仪
本技术涉一种颜色检测仪器，尤其涉及的是一种基于SCE测量结构的测色仪。
技术介绍
测色仪是一种基于现代色度学理论，以CIE标准色度学系统为标准的，进行颜色测量的科学仪器。它主要是通过光学原理将采集到的光信号转化成对应的颜色信号，然后将颜色信号转化为电信号，并对光电信号进行数字化，达到精准描述和记录颜色的目的。目前主要有两种测色仪:光电积分色度仪和分光光度测色仪。光电积分色度仪，利用具有特定光谱灵敏度的光电积分元件，直接测量光源色或物体色(两者统称为色源)的三刺激值或色度坐标。分光光度测色仪，利用分光光栅对捕获的光信号进行光谱分离，分离的光谱信号投射到线性的光电二极管上，经光电二极管转化成对应的光电信号，所述光电信号经数字化及相关数据处理后，求得光信号的颜色值。被测物体在受光照时，会产生镜面反射和漫反射两种光线，我们在观察物体颜色时，一般只通过其漫反射光线来确定该物体的颜色。常规的颜色测量，直接利用积分球来获取样品由光源照射后所反射的光线来进行分析测色。这种情况下进入传感器的光线包括镜面反射光线和漫反射光线。由于镜面反射光线中不包括被测样品表面反射光谱信息，使结果往往与肉眼观测的有差异。因此就需要在测量的时候，去除样品反射光线中的镜面反射，只对漫反射光线进行分析，从而使得得到的结果与人眼观测到的现象感觉相符。现有的测色仪采用直接涂覆材料方案，即在积分球内部的相应位置涂覆高吸光率的材料来吸收镜面反射的反射光线，这种方式对测量结果的干扰较大，会形成较大的误差。且用现有的测色仪去测量那些样品比较大而测量部位又比较精确的物体时，具有较大的局限性。通常测量时，只通过在操作仪器时通过目视使仪器测量孔径对准样品的待测区域，由于不能直观的看到样品待测区域，很难准确地定位待探测部位，容易造成检测结果与测试要求不符。对于便携式的仪器，在操作时容易发生仪器的移动，如果不能直观的对待测区域进行观察，则不能及时地发现被测物体移位及偏离等现象，会造成检测结果与原探测位置不一致。对于某些色彩比较多，而且需要多次测量的样品，现有的测色仪测试该类产品时对准难度大，而且更换测量区域时，操作比较繁琐，易出现误操作。因此，现有技术还有待于改进和发展。
技术实现思路
鉴于上述现有技术的不足，本技术的目的在于提供一种基于SCE测量结构的测色仪，旨在解决现有技术中使用不便、测试结果误差较大的问题。本技术的技术方案如下:—种基于SCE测量结构的测色仪，其中，包括积分球和标准光源，所述积分球的侧壁设置有一入射口，所述标准光源发出的光线通过所述入射口进入积分球，所述积分球底部设置有对应被测物体的测量口，在与所述测量口的法线方向夹角为8°且靠近标准光源的积分球一侧上设置有探测器，在所述积分球另一侧上且与探测器对称的位置处设置有一用于防止被测物体表面的镜面反射光进入探测器的光阱。所述的基于SCE测量结构的测色仪，其中，所述光阱为圆柱形。所述的基于SCE测量结构的测色仪，其中，所述光阱的内壁上设置有多圈螺纹。所述的基于SCE测量结构的测色仪，其中，所述光阱的底部设置有一镜面圆锥。所述的基于SCE测量结构的测色仪，其中，在所述光阱底部设置有一摄像仪。所述的基于SCE测量结构的测色仪，其中，所述摄像仪设置在所述光阱的底部且在所述镜面圆锥的顶部。本技术所提供的一种基于SCE测量结构的测色仪，由于采用了包括积分球和标准光源，所述积分球的侧壁设置有一入射口，所述标准光源发出的光线通过所述入射口进入积分球，所述积分球底部设置有对应被测物体的测量口，在与所述测量口的法线方向夹角为8°且靠近标准光源的积分球一侧上设置有探测器，在所述积分球另一侧上且与探测器对称的位置处设置有一用于防止被测物体表面的镜面反射光进入探测器的光阱，通过光阱去除通过被测物体表面镜面反射进入探测器的光信号，排除了照射到材料表面后进入探测器的光线中的镜面反射成分，而非直接在积分球内部的相应位置涂覆高吸光率的材料，从而避免了有光线经过被测物体镜面反射到探测器，确保了探测器接收的均为被测物体的漫反射光线，最终得到的测试结果与人眼观测到的相一致，从而实现了去除镜面反射光线，而只对漫反射光线进行测量，测量结果与目视完全一致，大大降低了测试结果的误差，带来了大大的方便。【专利附图】【附图说明】图1为本技术基于SCE测量结构的测色仪第一实施例的结构示意图。图2为本技术基于SCE测量结构的测色仪第二实施例的结构示意图。图3为本技术基于SCE测量结构的测色仪第二实施例的光阱的结构示意图。【具体实施方式】本技术提供一种基于SCE测量结构的测色仪，为使本技术的目的、技术方案及效果更加清楚、明确，以下参照附图并举实例对本技术进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本技术，并不用于限定本技术。请参阅图1，图1为本技术基于SCE测量结构的测色仪第一实施例的结构示意图。如图1所示，所述测色仪包括:积分球110和标准光源120，所述积分球110的侧壁设置有一入射口 111，所述标准光源120发出的光线通过所述入射口 111进入积分球120，所述积分球110底部设置有对应被测物体200的测量口 112，在与所述测量口 112的法线方向夹角为8°且靠近标准光源120的积分球110 —侧上设置有探测器130，在所述积分球110另一侧上且与探测器130对称的位置处设置有一用于防止被测物体200表面的镜面反射光进入探测器130的光阱140，通过吸收光阱来排除照射到被测物体200表面后进入探测器130的光线中的镜面反射成分。所述光阱140设置在所述积分球110上，且对应所述标准光源120的入射光线经被测物体200直接镜面反射后的反射光线的投射区域。具体来说，所述测色仪采用“d/8:SCE”的光学测量结构，所述SCE (SpecularComponent Exclude,排除镜面正反射光)指不包含镜面光方式,适用于直接被人观测到的物品，要求测量结果和目视非常接近的物品，譬如高光泽的家电外壳等。所述标准光源120所发出的光线经入射狭缝进入积分球110内，经过积分球110的匀化后打在下方的被测物体200上。由于测色仪是采用d/8:SCE测量结构，因此在与竖直方向成8°的积分球110上放置探测器130，用来接收被测物体200的漫反射光线，并由光纤传输到光谱仪进行分析，后续的处理为现有技术，此处不做详细描述。如图1所本文档来自技高网...
【技术保护点】
一种基于SCE测量结构的测色仪，其特征在于，包括积分球和标准光源，所述积分球的侧壁设置有一入射口，所述标准光源发出的光线通过所述入射口进入积分球，所述积分球底部设置有对应被测物体的测量口，在与所述测量口的法线方向夹角为8°且靠近标准光源的积分球一侧上设置有探测器，在所述积分球另一侧上且与探测器对称的位置处设置有一用于防止被测物体表面的镜面反射光进入探测器的光阱。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：袁琨，郑健，陈刚，
申请(专利权)人：杭州彩谱科技有限公司，中国计量学院，
类型：实用新型
国别省市：
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