The present invention provides a multi beam semiconductor laser device that suppresses a short beam of solder between beams of a multi beam semiconductor laser device. The surface electrode (15) of the laser chip (11) is electrically connected with the base electrode (27) of the base (10) by fusing the solder (18) with the second Au coating (17). Second Au coating (17) formed in the bulge (20) P second on both sides of the coating layer (25) of a groove (21) on the upper and the solder side (18) contact, and second, Au coating (17) than the width of the solder (18) of the narrow width. The protrusions (20) and (18) for solder do not coincide in the plane, the protrusions (20) and the base (10) having a gap between structure.
【技术实现步骤摘要】
多波束半导体激光装置
本专利技术涉及多波束半导体激光装置,尤其涉及利用结朝下将形成多个激光二极管的半导体芯片安装在支撑基板上的半导体激光装置。
技术介绍
作为光通信系统的光源、信息处理设备的光源使用的激光二极管(LaserDiode;LD)在半导体芯片内设置条纹状的活性层,将夹住该活性层的上下的半导体层的一方作为第一导电式(n式)半导体层,将另一方作为第二导电式(p式)半导体层,从而形成pn接合。另外,为了形成用于激光振荡的共振器(光导波道),采用了采用隆起结构等多种结构。形成上述那样激光二极管的半导体芯片通过焊料及Au镀层连接在配置在包装件内的被称为基座的由热传导性良好的材料(例如AIN、SiC、CuW等)构成的支撑基板上。另外,为了将在激光二极管发光时产生的热有效地散发到外部,普遍使用在使成为热产生源的pn接合接近基座的状态下固定的结朝下方式(例如专利文献1)。现有技术文献专利文献1:日本特开2011-108932号公报采用结朝下方式的半导体激光装置通过熔融接合形成在位于发光部的上部的隆起部上的Au镀层、形成在基座电极上的具有导电性的焊料,进行散热及通电。在多波束半导体激光装置的场合,在半导体芯片内设有多个发光部,各个的隆起部形成分别被电绝缘的电极。并且,在基座侧形成具有与该多个电极对应的短边状的平面图案的多个焊料,并接合在基座上的方式是普遍的。但是,在采用上述方式的场合,通过波束间是狭窄间隙(例如30μm~50μm)、作为半导体芯片侧的电极的一部分的Au镀层的宽度比基座侧的焊料图案的宽度宽,在熔融接合时,焊锡局部地集中,产生焊锡球。由此,由于在半导体 ...
【技术保护点】
一种多波束半导体激光装置,其具备:具备三个以上波束的半导体芯片;以及安装上述半导体芯片的支撑基板,该多波束半导体激光装置的特征在于,上述半导体芯片具有:形成在半导体基板的主面上的第一导电式包覆层;形成在上述第一导电式包覆层的上部的活性层;形成在上述活性层的上部的第二导电式包覆层;分别包括上述第二导电式包覆层与形成在上述第二导电式包覆层上部的第二导电式触点层的三个以上的隆起部;形成在上述隆起部的各个的两侧的上述第二导电式包覆层上的一对凹槽;与上述隆起部的各个电连接,以覆盖上述隆起部的各个的上部与形成在其两侧的上述一对凹槽的上部的方式连续地形成的表面电极;形成在上述表面电极的上部的第一导电层;形成在上述第一导电层的上部,面积比上述第一导电层小的第二导电层;以及形成在上述半导体基板的背面的背面电极,在上述支撑基板的芯片安装面形成与上述隆起部的数量相同的第一电极,在上述第一电极的各个的表面形成焊料,上述半导体基板通过熔融接合上述第二导电层与上述焊料,安装在上述支撑基板的上述芯片安装面上,上述第二导电层在形成在上述隆起部的两侧的上述一对凹槽的至少一方的上部与上述焊料接触,沿上述隆起部的排列方向的 ...
【技术特征摘要】
2012.07.17 JP 2012-1582451.一种多波束半导体激光装置,其具备:具备三个以上波束的半导体芯片;以及安装上述半导体芯片的支撑基板,该多波束半导体激光装置的特征在于,上述半导体芯片具有:形成在半导体基板的主面上的第一导电式包覆层;形成在上述第一导电式包覆层的上部的活性层;形成在上述活性层的上部的第二导电式包覆层;分别包括上述第二导电式包覆层与形成在上述第二导电式包覆层上部的第二导电式触点层、且以上述波束间为30μm-50μm的方式排列的三个以上的隆起部;形成在上述隆起部的各个的两侧的上述第二导电式包覆层上的一对凹槽;与上述隆起部的各个电连接,以覆盖上述隆起部的各个的上部与形成在其两侧的上述一对凹槽的上部的方式连续地形成的表面电极;形成在上述表面电极的上部的第一导电层;形成在上述第一导电层的上部,面积比上述第一导电层小的第二导电层;以及形成在上述半导体基板的背面的背面电极,上述表面电极、上述第一导电层、以及上述第二导电层分别与上述隆起部的数量相同地形成,在上述支撑基板的芯片安装面形成与上述隆起部的数量相同的第一电极,在上述第一电极的各个的表面形成焊料,上述半导体基板通过熔融接合上述第二导电层与上述焊料,安装在上述支撑基板的上述芯片安装面上,在上述隆起部与...
【专利技术属性】
技术研发人员:仙庭靖久,神津孝一,臼田周一,反町进,原英树,
申请(专利权)人:日本奥兰若株式会社,
类型:发明
国别省市:
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