【技术实现步骤摘要】
【专利摘要】本专利技术涉及一种检测诱导错误攻击下安全芯片安全性能的系统,包括控制安全芯片加解密功能单元在诱导错误攻击下进行加解密运算的控制单元;读取加解密运算结果并与其内置的参考结果比较的结果分析单元以及在控制单元控制下对安全芯片进行诱导错误攻击的攻击设备。因此,本专利技术通过控制单元将安全芯片与攻击设备结合在一起,并通过结果分析单元分析诱导错误攻击下加解密功能单元的运算结果,并在加解密运算结果产生错误后,通过控制单元控制攻击设备定位诱导错误攻击在安全芯片上的位置的坐标为故障点坐标,从而提供出一种能够对安全芯片的安全性能进行有效检测并定位故障点的系统。【专利说明】一种检测诱导错误攻击下安全芯片安全性能的系统
本专利技术涉及一种安全芯片安全性能的检测系统。具体地说是一种检测诱导错误攻击下安全芯片安全性能的系统。
技术介绍
在信息安全应用领域,基于特定密码算法的安全芯片能够为敏感信息提供机密性与完整性保护。现有技术中,安全芯片大量的应用于电子产品中,比如智能卡、RFID、USBKey等。安全芯片的作用主要包括:数据的安全存储、数据加解密、数字签名与认证以及身份鉴别等。上述各种功能的实现有赖于现代密码算法,包括公钥密码算法、分组密码算法以及流密码算法等。公钥密码算法主要用于数字签名与认证来实现身份鉴别,常见的公钥密码算法有RSA(Rivest-Shamir-Adlemen)和ECC(Elliptic Curve Crypto-system:捕圆曲线密码算法)等算法;分组密码算法主要用于数据加解密,常见的分组密码算法有DES (DataEncryption ...
【技术保护点】
一种检测诱导错误攻击下安全芯片安全性能的系统,其特征在于,包括:?控制单元(13),控制安全芯片中的加解密功能单元(11)在诱导错误攻击下进行解密运算;?结果分析单元(12),读取所述加解密功能单元(11)的运算结果并与其内置的参考结果进行比较,输出分析结果。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员:邵翠萍,李慧云,徐国卿,
申请(专利权)人:中国科学院深圳先进技术研究院,
类型:发明
国别省市:
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