一种纳米印章的制备方法技术

技术编号:9596114 阅读:98 留言:0更新日期:2014-01-23 01:41
本发明专利技术公开了一种纳米印章的制备方法,包括如下步骤:(1)在基片上放置一层金属铬膜;(2)在金色铬膜上旋涂一层光刻胶;(3)用全息曝光法将图案掩膜转移到光刻胶上;(4)显影,然后用去铬液将光刻图案从光刻胶上转移到铬膜上;(5)用等离子体将多余的光刻胶去除,然后用氩离子束进行刻蚀;(6)刻蚀完成后用去铬液将铬膜去除,即可得到所需的纳米印章。本发明专利技术提供的纳米印章的制备方法操作步骤简单,具有使用方便、灵活,效率高等优点,有利于推广应用。

【技术实现步骤摘要】
【专利摘要】本专利技术公开了,包括如下步骤:(1)在基片上放置一层金属铬膜;(2)在金色铬膜上旋涂一层光刻胶;(3)用全息曝光法将图案掩膜转移到光刻胶上;(4)显影,然后用去铬液将光刻图案从光刻胶上转移到铬膜上;(5)用等离子体将多余的光刻胶去除,然后用氩离子束进行刻蚀;(6)刻蚀完成后用去铬液将铬膜去除,即可得到所需的纳米印章。本专利技术提供的纳米印章的制备方法操作步骤简单,具有使用方便、灵活,效率高等优点,有利于推广应用。【专利说明】
本专利技术涉及微加工领域,具体涉及。
技术介绍
传统的电子束加工纳米压印印章,刻蚀时去除速率慢,样品会受到一定程度的损伤,同时产率低,制备出来的产品不理想。
技术实现思路
专利技术目的:为了克服现有技术中存在的不足,本专利技术提供的纳米印章的制备方法,工艺简单、效率高,适合推广应用。技术方案:为解决上述技术问题,本专利技术的采用的技术方案为:,包括如下步骤:( I)在基片上放置一层金属铬膜;( 2 )在金色铬膜上旋涂一层光刻胶;(3)用全息曝光法将图案掩膜转移到光刻胶上;(4)显影,然后用去铬液将光刻图案从光刻胶上转移到铬膜上;(5)用等离子体将多余的光刻胶去除,然后用氩离子束进行刻蚀;(6)刻蚀完成后用去铬液将铬膜去除,即可得到所需的纳米印章。作为优选,所述步骤(3)中的全息曝光法采用的是He-Cd激光器。作为优选,所述步骤(6)中的刻蚀在室温进行。有益效果:本专利技术提供的纳米印章的制备方法无需逐行扫描刻蚀,只需曝光一次,即可在大面积上形成图案,降低了制造成本;操作步骤简单,使用方便、灵活,提高压印效率,有利于推广应用。【具体实施方式】实施例一:,包括如下步骤:(I)在基片上放置一层金属铬膜;(2)在金色铬膜上旋涂一层光刻胶;(3)用全息曝光法将图案掩膜转移到光刻胶上;(4)显影,然后用去铬液将光刻图案从光刻胶上转移到铬膜上;(5)用等离子体将多余的光刻胶去除,然后用氩离子束进行刻蚀;(6)刻蚀完成后用去铬液将铬膜去除,即可得到所需的纳米印章。所述步骤(3)中的全息曝光法采用的是He-Cd激光器。所述步骤(6 )中的刻蚀在室温进行。以上所述仅是本专利技术的优选实施方式,应当指出:对于本
的普通技术人员来说,在不脱离本专利技术原理的前提下,还可以做出若干改进和润饰,这些改进和润饰也应视为本专利技术的保护范围。【权利要求】1.,其特征在于,包括如下步骤: (1)在基片上放置一层金属铬膜; (2)在金色铬膜上旋涂一层光刻胶; (3)用全息曝光法将图案掩膜转移到光刻胶上; (4)显影,然后用去铬液将光刻图案从光刻胶上转移到铬膜上; (5)用等离子体将多余的光刻胶去除,然后用氩离子束进行刻蚀; (6)刻蚀完成后用去铬液将铬膜去除,即可得到所需的纳米印章。2.根据权利要求1所述的纳米印章的制备方法,其特征在于:所述步骤(3)中的全息曝光法米用的是He-CM激光器。3.根据权利要求1所述的纳米印章的制备方法,其特征在于:所述步骤(6)中的刻蚀在室温进行。【文档编号】G03F7/00GK103529645SQ201310514080【公开日】2014年1月22日 申请日期:2013年10月25日 优先权日:2013年10月25日 【专利技术者】王晶 申请人:无锡英普林纳米科技有限公司本文档来自技高网
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【技术保护点】
一种纳米印章的制备方法,其特征在于,包括如下步骤:(1)在基片上放置一层金属铬膜;(2)在金色铬膜上旋涂一层光刻胶;(3)用全息曝光法将图案掩膜转移到光刻胶上;(4)显影,然后用去铬液将光刻图案从光刻胶上转移到铬膜上;(5)用等离子体将多余的光刻胶去除,然后用氩离子束进行刻蚀;(6)刻蚀完成后用去铬液将铬膜去除,即可得到所需的纳米印章。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员:王晶
申请(专利权)人:无锡英普林纳米科技有限公司
类型:发明
国别省市:

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