一种基于梯度编码的自动匀场方法技术

本发明专利技术涉及一种基于梯度编码的自动匀场方法。在重建的过程中利用测量所得的相位分布信息重建出准确的场图以及当前磁场分布。此外，新的自动匀场方法在测量场图时还考虑了由于涡流等影响引起的非线性作用，即线性增加的匀场电流所引起的磁场空间分布并不完全是线性的，消除这种非线性影响可以获得更符合实际情况的单位电流引起的磁场空间分布。相比于现有的梯度匀场方法本发明专利技术具有如下优点：可以适应于包括磁场不均匀较大的各种情况，如在“冷场”情况下的匀场；提高匀场的准确性，在拟合的情况下，比现有的梯度匀场提高7%左右的精度，并可以获得更好的匀场指标（优于0.5Hz/6Hz/12Hz）。

【技术实现步骤摘要】
【专利摘要】本专利技术涉及。在重建的过程中利用测量所得的相位分布信息重建出准确的场图以及当前磁场分布。此外，新的自动匀场方法在测量场图时还考虑了由于涡流等影响引起的非线性作用，即线性增加的匀场电流所引起的磁场空间分布并不完全是线性的，消除这种非线性影响可以获得更符合实际情况的单位电流引起的磁场空间分布。相比于现有的梯度匀场方法本专利技术具有如下优点：可以适应于包括磁场不均匀较大的各种情况，如在“冷场”情况下的匀场；提高匀场的准确性，在拟合的情况下，比现有的梯度匀场提高7%左右的精度，并可以获得更好的匀场指标（优于0.5Hz/6Hz/12Hz）。【专利说明】
本专利技术涉及核磁共振线圈匀场方法，尤其是涉及。适用于核磁共振波谱仪、磁共振成像仪以及需要高度均匀磁场的各种设备。
技术介绍
核磁共振仪器主要包括核磁共振波谱仪和磁共振成像仪(MRI)，目前已被广泛应用于科学研究、食品安全、临床医学等众多领域，其实验基本条件都需要一个高度均匀的外加强磁场。如核磁共振波谱仪就要求样品空间内静磁场BO的不均匀度小于0.0lppm。目前，超导磁体由于线圈长度、应力变化、样品磁导率变化、磁体外部铁磁环境变化等原因，只能提供均匀度约IOppm的静磁场，远不能满足现代核磁共振仪器的要求。为了获得高分辨核磁共振数据，核磁共振谱仪必须对静磁场进一步调控，目前普遍方法都是利用匀场线圈来提高磁场空间均匀性，其基本原理是通过改变各组匀场线圈的电流来分别消除静磁场在空间分布中的各阶不均匀分量，从而提高磁场的均匀性。为了节省大量的实验前准备时间，提高实验效率，核磁共振谱仪必须具备自动匀场功能。梯度匀场方法是目前最为实用，也是应用最为广泛的自动匀场技术，其最大优点就是可以利用梯度直接测量出磁场不均匀性的空间分布，然后基于这种空间分布进行匀场。为实现梯度匀场，必须具备两个方面的信息。具体来说，首先必须获得表征各组匀场线圈单位电流对磁场影响的数据，即通常所说的场图数据，其次必须获得表征当前磁场空间分布的数据，最后通过最小二乘法来计算出各组匀场线圈所需电流并将其设置到匀场电源硬件。目前各个谱仪生产商都采用了这种自动匀场技术，但这种自动匀场技术仍存在一定的局限性:首先其在测量计算场图数据及当前磁场分布数据时都需假定梯度场强度远大于所需测试的场图数据或是当前磁场分布数据，但在很多情况下，这个假设并不一定满足，如对于刚刚进行升场的磁体，完全不知道各组匀场线圈电流的情况(“冷场”情况)。这种不考虑考虑磁场不均匀性本身对信噪比和测量影响的自动匀场，不能适用于磁场不均匀性较差的环境，且对匀场的准确性产生影响；其次，梯度匀场还需假设匀场线圈中匀场电流的影响是完全线性的(线性增加的匀场电流产生的磁场空间分布也是线性增加)，但在实际的情况下由于匀场线圈设计、涡流等各种因素的影响，匀场电流所产生的磁场空间分布并不完全线性变化，因此降低了梯度匀场的准确性。近年来，海量、多样的实验样品、复杂多变的脉冲序列都对谱仪的自动匀场提出更高的要求，因此，如何实现高效、准确、适应性强的自动匀场是核磁共振谱仪系统开发研制的重大挑战。
技术实现思路
本专利技术针对现有匀场技术方法存在的上述技术问题，提供了一种基于梯度编码的自动勻场方法。，包括以下步骤:步骤1、输入梯度匀场所需的一维或者三维梯度匀场脉冲序列；步骤2、采集两次回波时间TE不同的回波数据，并根据所得的两次回波数据的强度之比选择自旋回波或者梯度回波；步骤3、采集场图回波数据； 步骤4、利用步骤3中的场图回波数据，采用迭代算法重构出准确的相位数据，并进一步获得各组测试的匀场线圈中单位电流产生的磁场分布Shim_Unit_matrix矩阵,矩阵每一个行向量为一个匀场线圈单位电流所造成的磁场空间分布；步骤5、采集和计算自动匀场所需的当前磁场空间分布B0_Map_vector ；步骤6、根据步骤4获得的场图数据Shim_Unit_matrix以及步骤5获得当前磁场空间分布B0_Map_vector,计算出各组匀场线圈所需的匀场电流值Shim_Change,步骤7，将步骤6计算所得的匀场电流中，判断匀场电流是否满足自定义的收敛条件，若满足则退出自动匀场，否则返回步骤5继续进行匀场，自定义的收敛条件为计算残留磁场的L2范数。如上所述的步骤2包括以下步骤:步骤2.1、针对两次回波时间不同的回波数据分别进行快速Fourier变换，并计算出两个幅度谱BlMap和B2Map ；步骤2.2、若则【权利要求】1.，其特征在于，包括以下步骤: 步骤1、输入梯度匀场所需的一维或者三维梯度匀场脉冲序列； 步骤2、采集两次回波时间TE不同的回波数据，并根据所得的两次回波数据的强度之比选择自旋回波或者梯度回波； 步骤3、采集场图回波数据； 步骤4、利用步骤3中的场图回波数据，采用迭代算法重构出准确的相位数据，并进一步获得各组测试的匀场线圈中单位电流产生的磁场分布Shim_Unit_matrix矩阵,矩阵每一个行向量为一个匀场线圈单位电流所造成的磁场空间分布； 步骤5、采集和计算自动匀场所需的当前磁场空间分布BO_Map_vector ； 步骤6、根据步骤4获得的场图数据Shim_Unit_matrix以及步骤5获得当前磁场空间分布BO_Map_vector,计算出各组匀场线圈所需的匀场电流值Shim_Change, 步骤7，将步骤6计算所得的匀场电流中，判断匀场电流是否满足自定义的收敛条件，若满足则退出自动匀场，否则返回步骤5继续进行匀场，自定义的收敛条件为计算残留磁场的L2范数。2.根据权利要求1所述的，其特征在于，所述的步骤2包括以下步骤: 步骤2.1、针对两次回波时间不同的回波数据分别进行快速Fourier变换，并计算出两个幅度谱BlMap和B2Map ； 步骤2.2、若1 3.根据权利要求2所述的，其特征在于，所述的步骤3中采集自动匀场所需的场图回波数据包括以下步骤: 步骤3.1、以当前磁场为基础，采集两个回波时间不同的数据； 步骤3.2、依次改变所需测试的各组匀场线圈电流，并通过对同组匀场线圈采用多组电流值来消除匀场线圈非线性影响，并针对每个匀场电流，都采集两次回波时间不同的回波数据。4.根据权利要求3所述的，其特征在于，所述的获得准确的场图数据包括以下步骤: 步骤4.1、根据步骤3.1中所采集的以当前磁场为基础的两个回波数据，利用考虑磁场不均匀性影响的迭代重建算法，计算出当前静磁场空间分布； 步骤4.2、利用考虑磁场不均匀性影响的迭代重建算法作用于步骤3.2采集所得的一个匀场线圈一个匀场电流值所对应的两个回波数据，分别重建出各组匀场线圈、各个匀场电流值所对应静磁场空间分布； 步骤4.3、利用步骤4.2中重建出的静磁场空间分布分别减去步骤4.1中所计算的当前磁场空间分布，获得单纯的匀场线圈影响空间分布； 步骤4.4、根据步骤4.3中所获得的单纯的匀场线圈影响空间分布，利用最小二乘法获得各组匀场线圈单位电流所造成的磁场空间分布，即所求的场图数据。5.根据权利要求4所述的，其特征在于，所述的步骤4.1、步骤4.2中所采用的考虑磁场不均匀性影响的迭代重建算法包括如下步骤:步骤4.la、针对两次回波时间不同的数据分别作快速本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种基于梯度编码的自动匀场方法，其特征在于，包括以下步骤：步骤1、输入梯度匀场所需的一维或者三维梯度匀场脉冲序列；步骤2、采集两次回波时间TE不同的回波数据，并根据所得的两次回波数据的强度之比选择自旋回波或者梯度回波；步骤3、采集场图回波数据；步骤4、利用步骤3中的场图回波数据，采用迭代算法重构出准确的相位数据，并进一步获得各组测试的匀场线圈中单位电流产生的磁场分布Shim_Unit_matrix矩阵，矩阵每一个行向量为一个匀场线圈单位电流所造成的磁场空间分布；步骤5、采集和计算自动匀场所需的当前磁场空间分布B0_Map_vector；步骤6、根据步骤4获得的场图数据Shim_Unit_matrix以及步骤5获得当前磁场空间分布B0_Map_vector，计算出各组匀场线圈所需的匀场电流值Shim_Change,步骤7，将步骤6计算所得的匀场电流中，判断匀场电流是否满足自定义的收敛条件，若满足则退出自动匀场，否则返回步骤5继续进行匀场，自定义的收敛条件为计算残留磁场的L2范数。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：鲍庆嘉，刘朝阳，陈黎，宋侃，陈方，
申请(专利权)人：中国科学院武汉物理与数学研究所，
类型：发明
国别省市：