一种新型的内存条测试治具制造技术

一种新型的内存条测试治具，由一内存插槽和一板卡组成，所述板卡设置在内存插槽下方，所述内存插槽为单一的DIMM插槽用于安装测试内存条，所述板卡的长度同测试内存条的长度一致，板卡两端设置有同测试内存条两端凹口一样的凹口，该测试治具通过两端凹口与主板上DIMM插槽的两固定端紧扣安装在DIMM插槽中；同时该治具还连接一外部电阻，并在测试内存条时连入外围测试电路。使用该治具，相当于升高内存条将其从主板DIMM插槽上单独解出来进行测试，方便进行内存条的电压、电流方面的拉偏测试，且通过外接电阻方便的测试出单条内存的功耗值，并提高了测试的准确性；该治具结构简单、成本低廉、使用方便，具有较好的推广价值。（*该技术在2023年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】
【专利摘要】一种新型的内存条测试治具，由一内存插槽和一板卡组成，所述板卡设置在内存插槽下方，所述内存插槽为单一的DIMM插槽用于安装测试内存条，所述板卡的长度同测试内存条的长度一致，板卡两端设置有同测试内存条两端凹口一样的凹口，该测试治具通过两端凹口与主板上DIMM插槽的两固定端紧扣安装在DIMM插槽中；同时该治具还连接一外部电阻，并在测试内存条时连入外围测试电路。使用该治具，相当于升高内存条将其从主板DIMM插槽上单独解出来进行测试，方便进行内存条的电压、电流方面的拉偏测试，且通过外接电阻方便的测试出单条内存的功耗值，并提高了测试的准确性；该治具结构简单、成本低廉、使用方便，具有较好的推广价值。【专利说明】一种新型的内存条测试治具
本技术涉及测试
，具体涉及到一种新型的内存条测试治具。
技术介绍
内存条是用于储存数据的一个重要计算机部件，由于计算机的广泛普及，越来越多的技术人员开始从事内存条的测试、维修工作。当前，内存条的测试方法主要分为两类:一是使用专用内存条测试设备，二是使用纯软件的内存条测试程序。专用内存条测试设备多从国外进口，价格昂贵，难以被广泛推广和普及。纯软件的内存条测试程序需要计算机的显示器作为显示设备，而显示器的显示依赖于计算机中的内存条，当内存条出现故障时，计算机的显示设备无法正常工作，从而导致纯软件的内存条测试程序无法起到作用。
技术实现思路
本技术针对现有技术的不足之处，提供一种升高内存条方便进行内存条测试的治具。本技术所公开的新型内存条测试治具，解决所述技术问题采用的技术方案如下:由一内存插槽和一板卡组成，所述板卡设置在内存插槽下方，所述内存插槽为单一的DIMM插槽用于安装测试内存条，所述板卡的长度同测试内存条的长度一致，板卡两端设置有同测试内存条两端凹口一样的凹口，该测试治具通过两端凹口与主板上DMM插槽的两固定端紧扣安装在DIMM插槽中；同时该治具还连接一外部电阻，并在测试内存条时连入外围测试电路。进一步，所述板卡下端设置有一排与测试内存条的金手指相同的金手指，安装在治具上的测试内存条通过该排金手指同主板进行数据传输。本技术所公开的新型内存条测试治具具有的有益效果是:使用该治具，相当于升高内存条将其从主板DIMM插槽上单独解出来进行测试，使得内存条的电压、电流方面的拉偏测试非常方便，且该治具通过外接电阻的方法，能方便的测试出单条内存的功耗值，并增加了测试的准确性；同时该治具结构简单、成本低廉、使用方便，具有较好的推广使用价值。【专利附图】【附图说明】附图1为本技术所述内存条测试治具的俯视图；附图标注说明:1、治具；2、内存插槽；3、板卡；4、凹口 ；5、金手指；6、电线。【具体实施方式】下面结合附图，对本技术所公开的新型内存条测试治具做进一步详细说明。本技术所公开的新型内存条测试治具，用于内存条电压、电流方面的拉偏测试，结构如图1所示.该治具I由一内存插槽2和一板卡3组成，所述板卡3设置在内存插槽2下方，所述内存插槽为单一的DIMM插槽用于安装测试内存条，所述板卡的长度同测试内存条的长度一致，板卡3两端设置有同测试内存条两端凹口一样的凹口 4，该测试治具通过两端凹口与主板上DIMM插槽的两固定端紧扣安装在DIMM插槽中；同时该治具通过电线6连接一外部电阻，且在测试内存条时该治具连入相关的外围测试电路。进一步，该治具下端设置有一排与测试内存条相同的金手指5，安装在治具上的测试内存条通过该排金手指同主板进行数据传输。从该内存条测试治具的技术方案可以看出，所述治具的上端内存插槽相当于主板的DIMM插槽，所述板卡相当于内存条可安装在主板DIMM插槽中。使用该治具相当于升高了内存条进行测试，首先将该治具的下端板卡安装在主板的DIMM插槽中，然后将测试内存条安装进该治具的上端内存插槽中，这样就将内存条从DIMM插槽上单独接出来了 ；同时该治具连入相关的外围测试电路，并借助和治具相连的外部电阻，能方便对测试内存条进行电压、电流方面的拉偏测试，测试通过单条内存的电流，然后与内存的VDD电压进行乘积，得出单条内存的功耗值。此治具极大的方便了对于单条内存条的测试操作，并增加了测量的准确性。除本技术所述的技术特征外，均为本专业技术人员的已知技术。【权利要求】1.一种新型的内存条测试治具，其特征在于，由一内存插槽和一板卡组成，所述板卡设置在内存插槽下方，所述内存插槽为单一的DIMM插槽用于安装测试内存条，所述板卡的长度同测试内存条的长度一致，板卡两端设置有同测试内存条两端凹口一样的凹口，该测试治具通过两端凹口与主板上DIMM插槽的两固定端紧扣安装在DIMM插槽中；同时该治具还连接一外部电阻，并在测试内存条时连入外围测试电路。2.根据权利要求1所述的内存条测试治具，其特征在于，所述板卡下端设置有一排与测试内存条的金手指相同的金手指，安装在治具上的测试内存条通过该排金手指同主板进行数据传输。【文档编号】G06F11/22GK203397348SQ201320432809【公开日】2014年1月15日 申请日期:2013年7月19日 优先权日:2013年7月19日 【专利技术者】刘胜, 范志超 申请人:浪潮电子信息产业股份有限公司本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种新型的内存条测试治具，其特征在于，由一内存插槽和一板卡组成，所述板卡设置在内存插槽下方，所述内存插槽为单一的DIMM插槽用于安装测试内存条，所述板卡的长度同测试内存条的长度一致，板卡两端设置有同测试内存条两端凹口一样的凹口，该测试治具通过两端凹口与主板上DIMM插槽的两固定端紧扣安装在DIMM插槽中；同时该治具还连接一外部电阻，并在测试内存条时连入外围测试电路。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：刘胜，范志超，
申请(专利权)人：浪潮电子信息产业股份有限公司，
类型：实用新型
国别省市：