【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】含氟有机硅化合物薄膜的制造方法及制造装置
[0001 ] 本专利技术涉及含氟有机硅化合物薄膜的制造方法及制造装置。
技术介绍
显示器玻璃、光学元件、卫生设备等在使用时有可能会与人的手指等接触,因此容易附着指纹、皮脂、汗等导致的污染。因此,这些污染一旦附着就不易除去,且根据光的情况等可能会十分显眼,存在破坏辨识性和美观的问题。为了解决所述问题,已知在这些部件、设备的表面形成由含氟有机硅化合物形成的防污膜的方法。例如,专利文献I中记载有以使原料浸含于多孔质陶瓷制的颗粒并干燥而得的材料为蒸发源通过真空蒸镀制膜的方法。然而,像这样使用向蒸镀装置导入前就干燥而得的原料作为蒸镀源的情况下,原料物质不稳定,因此存在所得的防污膜的性能不稳定而成品率下降的问题。此外,需要颗粒化的工序,成本相应提闻。另外,专利文献2中记载有将含有含氟取代烷基的有机硅化合物的溶液直接加入容器中加热或用电子束对使原料浸含于多孔质金属粉末烧结滤器而得的材料进行加热而在基材上形成该化合物的薄膜的方法。然而,专利文献2所记载的专利技术中,将原料加热规定时间以上的情况下,所得的防污膜的耐久性下降。因此,存在可生产的膜的厚度受到限制、无法稳定地生产耐久性高的膜等问题。另外,专利文献1、2中所记载的任一种方法都需要设置加热后数十秒以内蒸发的极少量的原料以分批方式运转,生产性低。此外,为了在规定时间内升温,可使用的装置受到限制,导致成本上升。如上所述,如果采用这些现有的制膜方法,无法连续稳定地制造具有耐久性的防污膜。现有技术文献专利文献专利文献1:日本专利特开2009-175500号公报专利文献2:日 ...
【技术保护点】
含氟有机硅化合物薄膜的制造方法,其特征在于,依次包括以下的(a)~(c)的工序:(a)将加热容器内的含氟有机硅化合物升温至蒸镀开始温度的升温工序;(b)达到蒸镀开始温度后,对来自所述含氟有机硅化合物的蒸气进行排气的预处理工序;(c)向真空室内的基板上供给实施了所述预处理工序的含氟有机硅化合物的蒸气而形成含氟有机硅化合物薄膜的成膜工序。
【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】2011.05.10 JP 2011-1055901.含氟有机硅化合物薄膜的制造方法,其特征在于,依次包括以下的(a)~(C)的工序: (a)将加热容器内的含氟有机硅化合物升温至蒸镀开始温度的升温工序; (b)达到蒸镀开始温度后,对来自所述含氟有机硅化合物的蒸气进行排气的预处理工序; (C)向真空室内的基板上供给实施了所述预处理工序的含氟有机硅化合物的蒸气而形成含氟有机硅化合物薄膜的成膜工序。2.如权利要求1所述的含氟有机硅化合物薄膜的制造方法,其特征在于,所述(c)工序包括 (Cl)将基板导入真空室内的步骤、 (c2)向真空室内的基板上供给实施了所述预处理工序的含氟有机硅化合物的蒸气来进行成膜的步骤、 (c3)将成膜后的基板从真空室取出的步骤, 反复进行(Cl)~(c3)步骤,连续地在基板上进行成膜。3.如权利要求1或2所述的含氟有机硅化合物薄膜的制造方法,其特征在于,所述(c)工序结束后,` 具有(d)向加热容器内追加含氟有机硅化合物的工序, 再重复进行(a)~(d)工序。4.如权利要求1~3中的任一项所述的含氟有机硅化合物薄膜的制造方法,其特征在于,根据从所述(b)工序结束的时间点起的经过时间,判断所述(c)工序的结束时间。5.如权利要求1~3中的任一项所述的含氟有机硅化合物薄膜的制造方法,其特征在于,基于来自加热容器内的含氟有机硅化合物的剩余量检测装置的信号,判断所述(C)工序的结束时间。6.如权利要求1~5中...
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