公开了重采样用于串行数据链路分析的多个S‑参数的装置和方法。所述方法包括：存储多个S‑参数集合，每个S‑参数集合与子系统相关联并且具有关联的脉冲响应和时间间隔。基于与每个S‑参数集合相关联的时间间隔确定增加的时间间隔。在每个S‑参数集合中对所述脉冲响应填零以维持任何覆叠的波纹并且增加所述时间间隔。以更精细的频率分辨率生成多个重采样的S‑参数集合以覆盖所述增加的时间间隔。
【技术实现步骤摘要】
【专利摘要】本专利技术公开了重采样用于串行数据链路分析的多个S-参数的装置和方法。所述方法包括：存储多个S-参数集合，每个S-参数集合与子系统相关联并且具有关联的脉冲响应和时间间隔。基于与每个S-参数集合相关联的时间间隔确定增加的时间间隔。在每个S-参数集合中对所述脉冲响应填零以维持任何覆叠的波纹并且增加所述时间间隔。以更精细的频率分辨率生成多个重采样的S-参数集合以覆盖所述增加的时间间隔。【专利说明】重采样用于串行数据链路分析的S-参数
本专利技术一般涉及信号采集和分析系统，并且更特别地，涉及用于重采样用于串行数据链路分析的S-参数的系统、装置和方法。
技术介绍
在高速串行数据链路系统中以及在RF系统中，S-参数常常被用于特征系统行为。S-参数一般被用来特征化η-端口网络。复杂的系统可以由多个子系统组成。每个子系统可以由一个S-参数集合表示。存在组合这些S-参数集合来获得针对完整系统的S-参数模型的需要。例如，多个S-参数的集合可以被级联以获得针对被连接在一起的多个装置的组合的整体特性。如下是需要的:S-参数数据需要覆盖所关心的特定的带宽。如下也是需要的:所述S-参数数据需要具有足够精细以防止时域中的混叠现象的频率分辨率。这意味着:所述频率分辨率需要足够精细以提供足够长的时间间隔来覆盖所述系统的脉冲响应持续时间。尽管所有针对单个子系统的S-参数数据可以具有合适的频率分辨率，当以级联的方式将它们组合在一起时，同样的频率分辨率可能变得是不适当的。例如，由于较长的传播时间和多次反射，所述组合的系统可以具有较长的脉冲响应持续时间。存在对改进的针对S-参数数据的重采样技术的需要，其允许多个S-参数集合的组合而不引入误差，例如，混叠误差。
技术实现思路
公开了重采样用于串行数据链路分析的多个S-参数的方法。所述方法包括存储多个S-参数集合，每个S-参数集合与子系统相关联并且具有关联的脉冲响应和时间间隔。基于与每个S-参数集合相关联的时间间隔确定增加的时间间隔。在每个S-参数集合中对所述脉冲响应填零以维持任何覆叠的波纹并且增加所述时间间隔。用更精细的频率分辨率生成多个重采样的S-参数集合以覆盖所述增加的时间间隔。每个S-参数集合中的脉冲响应可以基于波纹阈值而在填零位置处被填零。每个S-参数集合中的脉冲响应可以基于与每个S-参数集合相关联的时间间隔的百分率而在填零位置处被填零。针对不具有DC值的任何S-参数集合，每个S-参数集合可以被外推到DC。所述方法可以进一步包括为所有所述S-参数集合确定最大共同频率以及将每个S-参数集合外推到超过所述最大共同频率。可以使用快速傅里叶逆变换(IFFT)将所述外推的频域S-参数转换至时域脉冲响应。可以基于与每个所述S-参数集合相关联的采样率而在所述脉冲响应之间确定实际的共同采样周期。可以使用快速傅里叶变换(FFT)将所述时域填零的S-参数脉冲转换至频域。被外推的较低频率和高频率点也可以被削去。也公开了串行数据链路分析装置。所述装置包括被配置为存储多个S-参数集合的存储器、每个S-参数集合与子系统相关联并且具有关联的脉冲响应和时间间隔。所述装置还包括被配置为基于与每个S-参数集合相关联的时间间隔来确定增加的时间间隔的处理器。所述处理器还被配置为对每个S-参数集合中的脉冲响应填零以维持任何覆叠的波纹并且增加所述时间间隔以及生成具有更精细的频率分辨率的多个重采样的S-参数集合来覆盖所述增加的时间间隔。所述处理器可以被配置为基于波纹阈值在填零位置处对每个S-参数集合中的脉冲响应填零。所述处理器可以被配置为基于与每个S-参数集合相关联的时间间隔的百分率而在填零位置处对每个S-参数集合中的脉冲响应填零。所述处理器可以被配置为针对不具有DC值的任何S-参数集合将每个S-参数集合外推到DC。所述处理器可以被配置为:为所有所述S-参数集合确定最大共同频率并且将每个S-参数集合外推到超过所述最大共同频率。所述处理器可以被配置为使用快速傅里叶逆变换(IFFT)将所述外推的频域S-参数转换至时域脉冲响应。所述处理器可以被配置为基于与每个所述S-参数集合相关联的采样率而在所述脉冲响应之间确定实际的共同采样周期。所述处理器可以被配置为使用快速傅里叶变换(FFT)将所述时域填零的S-参数脉冲转换至频域。所述处理器可以被配置为削去被外推的较低频率和高频率点。【专利附图】【附图说明】图1是来自串行数据链路应用的信号路径窗口的框图；图2是显示了 SDLA信号路径窗口的框图，所述SDLA信号路径窗口包括级联4端口S-参数的多个块的能力；图3是显示了针对4端口 S-参数集合中的所有16个S-参数向量的频域幅值图的一组线图；图4是显示了图3中的每个S-参数向量的时域脉冲响应表示的一组线图；图5是针对具有20ns的持续时间的单个块的S12脉冲响应的线图；图6是显示了具有90ns的持续时间的重采样的S12 S-参数的脉冲响应的线图；图7是显示了针对Sll数据采样的脉冲响应的线图；图8是显示了波纹稳定之后的填零位置的线图；图9是显示了所述填零位置被定位之后的填零的线图；图10是显示了与原始S-参数相比较的重采样的S-参数的线图；以及图11是被配置为实施串行数据链路分析的测试和测量仪器的框图。【具体实施方式】串行数据链路应用(SDLA)是高性能示波器的重要特征。这样的应用允许用户使用代表他们的装置和测试定位器的S-参数来模拟给定设计的功能。所述SDLA可以将这些S-参数转换为FIR滤波器，其被应用于所获得的波形以允许测试定位器和探针被从测量中解除嵌入。它们也允许用户模拟串行信道将对所获取的信号产生的影响。用户也可以使用所述应用来模拟发射器(Tx )和接收器(Rx )均衡器。图1显示了来自SDLA的信号路径窗口 10的框图。在此实例中，所述SDLA被配置为模拟全信号路径。在此实例中，所述信号路径包括四个电路块，包括定位器电路块12、加强电路块14 (发射器Tx)、信道电路块16以及均衡器电路块18 (接收器Rx)。SDLA示波器源信号被耦合到示波器信道中的一个(例如，信道1)，并通过定位器而从发射器输出被获取。所述示波器源信号典型地被数字化并且在运行串行数据链路分析之前被存储在存储器中。测试点TpA-TpD允许用户监视各个电路块对所述源信号的影响。在此实例中，定位器电路块12具有关联的S-参数来表示所述定位器，并且加强电路块14可以表示所述发射器均衡器。所述信道电路块16具有关联的S-参数，并且模拟所述发送信道。所述均衡器电路块18也具有关联的连续时间线性均衡、前馈均衡和/或判定反馈均衡(CTLE/FFE/DFE)定义并且模拟所述接收器均衡器。应被理解的是:每个电路块可以模拟多个部件，所述多个部件中的每个可以与S-参数相关联。图2是显示了 SDLA级联工具20的框图，所述SDLA级联工具20包括级联4端口 S参数的多个块的能力。在此实例中，所述S-参数块24-40以级联的方式被布置，用于模拟组成定位器电路块12 (图1)的各个部件。所述SDLA也允许针对探针44的S-参数集合被放置为与所述级联中的任何的点并联。所述源22和负载块42表示在所述级联的每端处的加载。所述级联中的块24-40中的每一个由4端口 S-参数表示本文档来自技高网...
【技术保护点】
一种重采样用于串行数据链路分析的多个S?参数的方法，所述方法包括：存储多个S?参数集合，每个S?参数集合与子系统相关联并且具有关联的脉冲响应和时间间隔；基于与每个S?参数集合相关联的时间间隔确定增加的时间间隔；在每个S?参数集合中对所述脉冲响应填零以维持任何覆叠的波纹并且增加所述时间间隔，以及以更精细的频率分辨率生成多个重采样的S?参数集合以覆盖所述增加的时间间隔。
【技术特征摘要】
...
【专利技术属性】
技术研发人员：K谭，JJ皮克德，
申请(专利权)人：特克特朗尼克公司，
类型：发明
国别省市：
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