【技术实现步骤摘要】
【专利摘要】本专利技术用于集成电路的生产和测试，提出了一种低引脚数的晶体管测试电路的设计,可以降低成本。【专利说明】—种低引脚数的晶体管测试电路
本专利技术用于集成电路的生产和测试，提出了一种低引脚数的晶体管测试电路的设计，可以降低成本。
技术介绍
在集成电路产品的生产和开发过程中，需要对基本的单个晶体管进行测试，以进行工艺控制，器材优化和建模等工作。为此，往往需要测量大量的晶体管，造成测试结构的引脚数大幅增长，所占面积远远超过这些被测晶体管所占面积。
技术实现思路
本专利技术将大批待测除栅(G)晶体管并联起来，采用对栅极采取反向偏置的办法关闭不想测试的晶体管，而这个开关由脉冲计数器控制，用一个输入引脚即可完成。【专利附图】【附图说明】图1以NMOS为例，给出了本专利技术的实用方案，其中=M1, M2,是被测晶体管；D，S，B是各种被测管并联的电极；G1, G2，…Gn是各管的栅极；X是PASSPAGE阵列；VG是意图加在被测管上的偏置电压；VGtj是足够以关闭所有其他被测管的偏置电压；Vin是计数输入信号；Y是计数电路。【具体实施方式】本专利技术之具体设计主要包括计数器和PASSPAGE阵列两部分。计数器将输入后的串行计数信号(可以也不一定是脉冲数)转换成对应一个晶体管的栅极的并行高低(O或I)信号。此计数器通常应能识别串行输 入内嵌入的复位信号，除非允许另设一个复位引脚。【权利要求】1.一种测试电路的设计，用于集成电路的生产和测试，采用低引脚数的测试电路结构。2.一种符合权利要求1所述的设计，其特征在于，将大批待测除栅(G)晶体管并联起来，采用...
【技术保护点】
一种测试电路的设计，用于集成电路的生产和测试，采用低引脚数的测试电路结构。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：李煜文，陈效军，
申请(专利权)人：上海摩晶电子科技有限公司，
类型：发明
国别省市：
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