离子源和质谱仪制造技术

本实用新型专利技术描述了用于质谱仪的离子源。离子源包括：离子漏斗，该离子漏斗包括在第一端处的第一开口和在第二端处的第二开口，所述第一开口被配置为接收中性分析物分子；电离设备，该电离设备被配置为对所述离子漏斗中的所述中性分析物分子进行电离。（*该技术在2022年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】
【专利摘要】本技术描述了用于质谱仪的离子源。离子源包括：离子漏斗，该离子漏斗包括在第一端处的第一开口和在第二端处的第二开口，所述第一开口被配置为接收中性分析物分子；电离设备，该电离设备被配置为对所述离子漏斗中的所述中性分析物分子进行电离。【专利说明】离子源和质谱仪
本申请涉及用于质谱仪的离子源。
技术介绍
质谱法(MS)是用于对样本进行定量元素分析的分析方法。样本中的分子(通常被称为分析物)被光谱仪基于它们各自的质量进行电离和分离。然后，分离后的分析物离子被检测并且样本的质谱被产生。质谱提供关于质量的信息并且在某些情况下还提供关于构成样本的各种分析物粒子的数量的信息。尤其是，质谱可以被用于确定分析物内的分子和分子碎片的分子重量。分析物离子由离子源提供。用于通过质谱法进行分析的分析物离子可以由多种离子化系统中的任一种来产生。例如，大气压基质辅助激光解析电离(AP-MALDI)、大气压光电离(APPI)、电喷雾电离(ESI)、大气压化学电离(APCI)和电感耦合等离子(ICP)系统可以被用于产生质谱系统中的离子。需要一种不受分析物的极性和种类影响的、具有更高电离效率的离子源。
技术实现思路
根据代表性实施例，一种离子源包括离子漏斗和电离设备，该离子漏斗包括位于第一端的第一开口和位于第二端的第二开口，所述第一开口被配置为接收中性分析物分子；该电离设备被配置为对离子漏斗中的中性分析物分子进行电离。所述的离子源可以包括毛细管进样口，该毛细管进样口被配置为将所述中性分析物分子传送到所述第一开口。在所述的离子源中，所述毛细管进样口可以与气相色谱仪流体连通。在所述的离子源中，所述电离设备可以包括以下各项之一:电磁辐射源和电子源。在所述的离子源中，所述电磁辐射源可以包括真空紫外辐射源。在所述的离子源中，所述真空紫外源可以包括以下各项之一:微等离子真空紫外源、准分子真空紫外源、直流激励气体放电源、交流激励气体放电源、激光源。在所述的离子源中，所述真空紫外源可以被放置成使得来自所述真空紫外源的光子与所述离子漏斗内的所述中性分析物分子相互作用。在所述的离子源中，所述真空紫外源可以是第一真空紫外源，并且所述离子源还可以包括第二真空紫外源，所述第一真空紫外源和第二真空紫外源分别被放置为相对于所述离子漏斗的对称轴有一角度。所述的离子源还可以包括第三真空紫外源和第四真空紫外源，所述第三真空紫外源和第四真空紫外源分别被放置成使得来自所述第二真空紫外源、所述第三真空紫外源和所述第四真空紫外源的光子与所述离子漏斗内的所述中性分析物分子相互作用。在所述的离子源中，所述中性分析物分子可以是在与溶剂蒸气的混合物中或者在载气中提供的。在所述的离子源中，所述电离设备可以是第一电离设备，并且所述离子源还可以包括第二电离设备。在所述的离子源中，所述第二电离设备可以包括电磁辐射源和电子源中的一项，并且所述第一电离设备不同于所述第二电离设备。在所述的离子源中，所述第二电离设备可以包括电磁辐射源和电子源中的一项，并且所述第一电离设备与所述第二电离设备相同。在所述的离子源中，所述电离设备还可以包括第三电离设备和第四电离设备。在所述的离子源中，所述第三电离设备可以包括电磁辐射源和电子源中的一项，并且所述第四电离设备包括电磁辐射源和电子源中的一项。在所述的离子源中，所述第一电离设备、所述第二电离设备、所述第三电离设备和所述第四电离设备可以是相同的。在所述的离子源中，所述第一电离设备、所述第二电离设备、所述第三电离设备和所述第四电离设备中的至少一个可以是不同的。根据另一种代表性实施例，公开了一种质谱仪，该质谱仪包括上述的离子源。所述的质谱仪还可以包括与所述第一离子漏斗串列的第二离子漏斗，所述第二离子漏斗包括在第一端处的第一开口和在第二端处的第二开口，所述第一开口被配置为从所述第一离子漏斗的第二端接收分析物离子。根据另一代表性实施例，公开了一种提供质谱系统中的离子的方法。该方法包括:将中性分析物分子引致离子漏斗的第一端；对离子漏斗中的中性分析物分子进行电离；并将分析物离子引导至离子漏斗的第二端。【专利附图】【附图说明】结合附图阅读以下详细描述可以最佳地理解本技术。图中的模块不一定是按比例绘制的。在可行之处，由相似的标号指代相似的模块。图1示出了根据代表性实施例的MS系统的简化框图。图2示出了根据代表性实施例的离子源的剖视图。图3示出了根据代表性实施例的离子源的剖视图。图4示出了根据代表性实施例的离子源的剖视图。图5示出了根据代表性实施例的离子源的剖视图。图6示出了根据代表性实施例的提供质谱系统中的离子的方法的流程图。【具体实施方式】术语定义应当理解这里所使用的术语只是为了描述具体实施例的，而不希望是限制性的。所定义的术语不限于在本技术教导的
内通常所理解和接受的所定义术语的技术和科学意义。在说明书和所附权利要求中所使用的术语“一”和“这个”包括单数和复数指代含义，除非上下文清楚地说明了其它意思。因而，例如“设备”包括一个设备和多个设备。如说明书和所附权利要求中所使用的，除了其普通的意思以外，术语“很大程度”或“在很大程度上”指的是有可接受的范围或程度。例如，“在很大程度上被消除”是指本领域技术人员将认为消除是可接受的。如说明书和所附权利要求中所使用的，除了其普通的意思以外，术语“大约”指在本领域技术人员可接受的范围或量。例如，“大约是相同的”是指本领域普通技术人员将认为被比较的事物是相同的。在以下详细描述中，为了说明而非限制，公开具体细节的代表性实施例被描述以提供对本技术教导的完整理解。关于公知系统、设备、材料、操作方法和制造方法的描述可以被省略以避免模糊对示例性实施例的描述。然而，在本领域普通技术人员的理解范围内的系统、设备、材料和方法可以根据代表性实施例而被使用。在代表性实施例中，离子源包括离子漏斗和电离设备。电离设备被配置为对在离子漏斗的第一端处被弓丨入的中性分析物分子进行电离。电离漏斗限制离子并将离子从第一端引导至第二端。离子最终被提供给MS系统的离子检测器。电离设备可以是电磁辐射源(例如光电离(PI)设备)、电子电离(EI)设备或者Penning电离设备。下面将更全面地描述，多个电离设备可以被用于离子源中，并且不一定是相同类型的电离设备。在某些实施例中，电离设备被设置在位于离子漏斗的第一端的第一开口附近或者离子漏斗的外部，而在另一些实施例中，电离设备被置于离子漏斗中。在任一种情况下，粒子束(例如光子、电子)被引向位于离子漏斗的第一端的中性分析物分子并对中性分析物分子进行电离以进行MS系统中的测量。下面将更全面地进行描述，代表性实施例的离子源提供优于某些已知离子源的明显优势。例如，代表性实施例的离子源提供相对较高的通过离子漏斗的离子捕获和传送的效率。此外，离子漏斗中的较高气压和较低气流提供了相对较长的“驻留”时间，这促成了相对较高的分析物分子的电离效率。此外，因为分析物是在没有净电荷的情况下被引入离子漏斗的，并且是在固态或气态下，所以代表性实施例的离子源在很大程度上对影响公知液相色谱(LC)电喷雾电离(ESI)设备的电荷竞争和离子抑制是免疫的。图1示出了根据代表性实施例的质谱仪100的简化示意图。该框图是以一种本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种离子源，其特征在于包括：?离子漏斗，该离子漏斗包括在第一端处的第一开口和在第二端处的第二开口，所述第一开口被配置为接收中性分析物分子；以及?电离设备，该电离设备被配置为对所述离子漏斗中的所述中性分析物分子进行电离。

【技术特征摘要】
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【专利技术属性】
技术研发人员：艾德里安·兰德，斯图尔特·C·汉森，
申请(专利权)人：安捷伦科技有限公司，
类型：实用新型
国别省市：