本实用新型专利技术公开了一种便携X射线荧光测量装置，包括固定平台、设置在固定平台一端的钨合金辐射防护罩，设置在钨合金辐射防护罩内的样品架，它还包括X光管、向X光管供电的第一电源、设置在X光管前端的滤光片、设置在滤光片前端的准直器、多道分析仪、向多道分析仪供电的第二电源、设置在多道分析仪前端的硅针探测器、分别与X光管和多道分析仪的数据传输接口连接的电脑，其中，准直器的输出端与硅针探测器的输入端均面向样品架成夹角布置。本实用新型专利技术具有移动性和高性能的双重特点，具体而言就是体积小、结构紧凑、高度集成、测量过程简单、测量速度快、能同时测量多种元素，测量精确度和准确度高。（*该技术在2023年保护过期，可自由使用*）
【技术实现步骤摘要】
【专利摘要】本技术公开了一种便携X射线荧光测量装置，包括固定平台、设置在固定平台一端的钨合金辐射防护罩，设置在钨合金辐射防护罩内的样品架，它还包括X光管、向X光管供电的第一电源、设置在X光管前端的滤光片、设置在滤光片前端的准直器、多道分析仪、向多道分析仪供电的第二电源、设置在多道分析仪前端的硅针探测器、分别与X光管和多道分析仪的数据传输接口连接的电脑，其中，准直器的输出端与硅针探测器的输入端均面向样品架成夹角布置。本技术具有移动性和高性能的双重特点，具体而言就是体积小、结构紧凑、高度集成、测量过程简单、测量速度快、能同时测量多种元素，测量精确度和准确度高。【专利说明】便携X射线荧光测量装置
本技术涉及荧光测量
，具体地说是一种便携X射线荧光测量装置。
技术介绍
根据分光方式的不同，X射线荧光分析可分为能量色散型和波长色散型两类。通过测定荧光X射线的能量实现对待测样品进行分析称为能量色散型X射线荧光分析；通过测定荧光X射线的波长实现对待测样品进行分析称为波长色散型X射线荧光分析。因为波长色散型X射线荧光分析仪需要多块晶体进行分光，并且对X光管功率及冷却系统要求较高，因此仪器体积都很大、价格高昂，一般局限于实验室使用。能量色散型X射线荧光分析仪无需晶体分光，因此仪器结构简单紧凑，分析过程快捷。大型能量色散型X射线荧光分析仪采用液氮冷却的高纯锗作为探测器，具有较高分辨率，但是体积也较大，便携性较差；手持能量色散型X射线荧光分析仪采用正比计数器作为探测器，在180°方向收集荧光信号，便携性较好，但是分辨率较差。
技术实现思路
本技术的目的是针对上述不足提供一种便携性强、测量精度高的便携X射线荧光测量装置。本技术是这样实现的:包括固定平台、设置在固定平台一端的钨合金辐射防护罩，设置在钨合金辐射防护罩内的样品架，其特征在于:它还包括X光管、多道分析仪、向X光管供电的第一电源、设置在X光管前端的滤光片、设置在滤光片前端的准直器、向多道分析仪供电的第二电源、设置在多道分析仪前端的硅针探测器、分别与X光管和多道分析仪的数据传输接口连接的电脑，其中，所述准直器的输出端与硅针探测器的输入端均面向样品架成夹角布置。`所述准直器的输出端与硅针探测器的输入端的夹角为30飞0°。所述准直器的输出端与硅针探测器的输入端的夹角为45°。所述硅针探测器的硅晶体厚度为300-500μπι，硅针探测器的探测面积为6~25mm2。以上集成式的设计使得本技术具有移动性和高性能的双重特点，具体而言就是体积小、结构紧凑、高度集成、测量过程简单、测量速度快、能同时测量多种元素，测量精确度和准确度高。【专利附图】【附图说明】图1为本技术的原理框图。其中，I—X光管、2—滤光片、3—准直器、4一样品架、5—鹤合金福射防护罩、6—待测样品、7—硅针探测器、8—多道分析仪、9一第二电源、10—USB信号线、11—固定平台11、12 —电脑、13—第一电源。【具体实施方式】下面结合附图和实施例进一步说明本技术。实施例:如图1所示，包括固定平台11、设置在固定平台11 一端的钨合金辐射防护罩5，设置在钨合金辐射防护罩5内的样品架4，它还包括X光管1、多道分析仪8、向X光管I供电的第一电源13、设置在X光管I前端的滤光片2、设置在滤光片2前端的准直器3、向多道分析仪8供电的第二电源9、设置在多道分析仪8前端的硅针探测器7、分别与X光管I和多道分析仪8的数据传输接口连接的电脑12，其中，准直器3的输出端与硅针探测器7的输入端均面向样品架4成夹角布置，即为本技术。上述技术方案中，设置有鹤合金福射防护罩5的方向为多道分析仪8的前端和X光管I的前端。上述技术方案中，准直器3的输出端与硅针探测器7的输入端的夹角14为30^60°。该夹角14优选为45°。在夹角14为45°时能使得收集效率达到最大化。上述技术方案中，硅针探测器7的硅晶体厚度为300-500 μ m,硅针探测器7的探测面积为6~25mm2。该硅针探测器7的铍窗厚度为12.5 μ m、采用电制冷。上述技术方案中，上述滤光片2的材质为铝、铜、钥、银或钨。上述多道分析仪8的通道数最大可达8K道。上述技术方案中，钨合金辐射防护罩5由钨合金加工而成，可以屏蔽X射线，使得周围环境符合安全剂量标准。上述固定平台11为不锈钢固定平台。本技术的工作过程`为:将待测样品6设置在样品架4上，X光管I发出X射线经过滤光片2过滤，然后通过准直器3获得不同焦斑大小的X射线，该X射线辐照样品6，产生特征X射线荧光，在与入射X射线呈45°夹角14方向上利用硅针探测器7收集荧光，送到多道分析仪8进行分析。X光管I通过USB (Universal Serial BUS，通用串行总线)信号线10与电脑12连接，电源由9V直流第一电源13提供。多道分析仪8由5V直流第二电源9供电，并通过USB信号线10与电脑12连接，由电脑12进行数据分析处理(运算、分析、显示、储存、打印等)。待测样品6固定于样品架4，两者都处于钨合金辐射防护罩5内，环境辐射水平符合国家相关规定。本技术的性能优异:计数率高达500，000CPS,峰本比高达8200:1，用半高全宽表示的能量分辨高达125eV FWHMi5.9keV。【权利要求】1.一种便携X射线荧光测量装置，它包括固定平台(11)、设置在固定平台(11) 一端的钨合金辐射防护罩(5)，设置在钨合金辐射防护罩(5)内的样品架(4)，其特征在于:它还包括X光管(I)、多道分析仪(8)、向X光管(I)供电的第一电源(13)、设置在X光管(I)前端的滤光片(2 )、设置在滤光片(2 )前端的准直器(3 )、向多道分析仪(8 )供电的第二电源(9 )、设置在多道分析仪(8)前端的硅针探测器(7)、分别与X光管(I)和多道分析仪(8)的数据传输接口连接的电脑(12)，其中，所述准直器(3)的输出端与硅针探测器(7)的输入端均面向样品架(4)成夹角布置。2.根据权利要求1所述的便携X射线荧光测量装置，其特征在于:所述准直器(3)的输出端与硅针探测器(7)的输入端的夹角(14)为30飞0°。3.根据权利要求2所述的便携X射线荧光测量装置，其特征在于:所述准直器(3)的输出端与硅针探测器(7)的输入端的夹角(14)为45°。4.根据权利要求1或2或3所述的便携X射线荧光测量装置，其特征在于:所述硅针探测器(7)的硅晶体厚度为300-500μπι`，硅针探测器(7)的探测面积为6~25mm2。【文档编号】G01N23/223GK203385684SQ201320376706【公开日】2014年1月8日 申请日期:2013年6月27日 优先权日:2013年6月27日 【专利技术者】易伟松, 后德家, 罗贤清 申请人:华中农业大学本文档来自技高网...
【技术保护点】
一种便携X射线荧光测量装置，它包括固定平台（11）、设置在固定平台（11）一端的钨合金辐射防护罩（5），设置在钨合金辐射防护罩（5）内的样品架（4），其特征在于：它还包括X光管（1）、多道分析仪（8）、向X光管（1）供电的第一电源（13）、设置在X光管（1）前端的滤光片（2）、设置在滤光片（2）前端的准直器（3）、向多道分析仪（8）供电的第二电源（9）、设置在多道分析仪（8）前端的硅针探测器（7）、分别与X光管（1）和多道分析仪（8）的数据传输接口连接的电脑（12），其中，所述准直器（3）的输出端与硅针探测器（7）的输入端均面向样品架（4）成夹角布置。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：易伟松，后德家，罗贤清，
申请(专利权)人：华中农业大学，
类型：实用新型
国别省市：
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