触控面板制造技术

本实用新型专利技术公开了一种触控面板。该触控面板包括一触控传感器、一屏蔽层、以及复数个导电箔片，该屏蔽层绝缘地设置于所述触控传感器上，该复数个导电箔片通过一异方性导电胶来间隔设置于所述屏蔽层远离所述触控传感器的一表面，任两个所述导电箔片、所述异方性导电胶及所述屏蔽层串接成一信号路径。此触控面板具有稳定的抗干扰能力。（*该技术在2023年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】
【专利摘要】本技术公开了一种触控面板。该触控面板包括一触控传感器、一屏蔽层、以及复数个导电箔片，该屏蔽层绝缘地设置于所述触控传感器上，该复数个导电箔片通过一异方性导电胶来间隔设置于所述屏蔽层远离所述触控传感器的一表面，任两个所述导电箔片、所述异方性导电胶及所述屏蔽层串接成一信号路径。此触控面板具有稳定的抗干扰能力。【专利说明】触控面板
本技术涉及一种触控技术，特别关于一种触控面板。
技术介绍
目前广泛使用的个人数字助理、游戏机、智能手机、平板计算机等电子系统包括触控屏和显示器。其中由于触控屏是贴合于显示器上方，因此触控屏中的一触控感应层容易受到来自显示器端的电磁干扰而降低感应的精确度。为了增强触控屏抗干扰的能力，在触控屏中通常会在触控感应层靠近显示器的一侧整面覆设一屏蔽层，藉以防止触控感应层受到来自显示器端的电磁干扰。其中，屏蔽层通过软性电路板(Flexible Printed Circuit,FPC)来连接到系统端的接地端，以形成屏蔽层的宣泄路径。此宣泄路径的电气特性好坏将直接影响到屏蔽层的屏蔽效果，因此目前在测试触控屏的功能时也会对屏蔽层的宣泄路径一并测试。现有测试屏蔽层的宣泄路径的方法是由检测端提供一定频率的信号至屏蔽层，用来量测屏蔽层与触控感应层之间所形成的耦合电容的电容值。若所测得的电容值异于默认值，则判定宣泄路径的电气特性不良，例如:因软性电路板与屏蔽层之间的接触不良所造成。然而，由于测试耦合电容的方式是属于测试屏蔽层的交流特性，因此测试时存在着盲点，例如当屏蔽层的阻值异常变大而超过工作范围时，现有的测试方式便无法有效且精确地判断出不良，让屏蔽层可能因此无法发挥原本应有的屏蔽效果，进而降低触控屏的抗干扰能力。
技术实现思路
有鉴于此，本技术提供一种触控面板。本技术揭露了一种触控面板，包括一触控传感器、一屏蔽层、以及复数个导电箔片。该屏蔽层绝缘地设置于所述触控传感器上，该复数个导电箔片通过一异方性导电胶来间隔设置于所述屏蔽层远离所述触控传感器的一表面；其中，任两个所述导电箔片、所述异方性导电胶及所述屏蔽层串接成一信号路径。在其中一个实施例中，相邻的两个所述导电箔片之间的间隔距离范围为10—15 μm。在其中一个实施例中，所述导电箔片的面积大小相同。在其中一个实施例中，所述屏蔽层是由透明导电材料、透明导电材料与金属或非金属的合成物所制成。在其中一个实施例中，所述导电箔片是由金属或金属合成物所制成。在其中一个实施例中，所述屏蔽层是网格状结构。在其中一个实施例中，所述触控传感器包含一基板，以及一感测电极层，形成于所述基板邻近所述屏蔽层的一表面。在其中一个实施例中，进一步包含一绝缘层，设置于所述感测电极层及所述屏蔽层之间。在其中一个实施例中，所述绝缘层为一胶体。藉此，本技术通过触控面板的架构改良设计，在测试触控面板的屏蔽性能时，检测装置是与屏蔽层构成闭合回路而得以直接测试屏蔽层的直流特性，藉以有效地筛选出屏蔽性能不良的触控面板，让生产出的触控面板具有稳定的抗干扰能力。【专利附图】【附图说明】图1A是本技术实施例中一种触控面板的剖面图及其测试状态示意图。图1B是显示图1A中触控面板的俯视图。图2是本技术实施例中另一种触控面板的剖面图及其测试状态示意图。附图标记说明10、20?触控面板；12、22a、22b、22c ?检测装置；100,200?触控传感器；1001、2001 ?基板；1001a、1001b、2001a、2001b ?表面；1002、2002?感测电极层；101、201 ?绝缘层；102、202 ?屏蔽层；102a、202a ?表面；103?信号路径；104、204?异方性导电胶；106a、106b、206a、206b、206c ?导电箔片；lla、llb、21a、21b、21c ?连接线;120a、120b、220a、220b、220c ?脚位；d?间隔距离。【具体实施方式】实施例中的各组件的配置是为了表述明白，并非用以限制本技术。且实施例中图式标号的部分重复，是为了简化说明，并非意指不同实施例之间的关联性。图1A是显示本技术实施例中一种触控面板的剖面图及其测试状态示意图。触控面板10可运用在智能型手机、平板计算机、手提电脑等系统装置上，用来作为系统装置的用户操作接口。本实施例的触控面板10包括触控传感器100、屏蔽层102以及多个导电箔片106a和106b，本实施例是举例以两个导电箔片106a及106a来进行说明。其中，屏蔽层102绝缘地设置于触控传感器100上，用于屏蔽外界信号对于触控传感器100的干扰，例如:当触控面板10应用于上述系统装置时，屏蔽层102得以屏蔽来自系统装置的显示器或主板的电磁信号干扰。导电箔片106a和106b是通过异方性导电胶104来间隔设置于屏蔽层102远离触控传感器100的表面102a上。如此一来,导电箔片106a、106b、异方性导电胶104及屏蔽层102串接成一信号路径103，而此一信号路径103即可提供测试本实施例触控面板10的屏蔽层102的屏蔽效果。更具体来说明，触控传感器100进一步包含基板1001及感测电极层1002。本实施例的基板1001包含相对应的二表面IOOla及1001b，其中表面IOOla是靠近使用者观看的一侧，而感测电极层1002则是形成于基板1001邻近屏蔽层102的表面IOOlb上。此外，由于感测电极层1002及屏蔽层102皆是属于导电材料层，因此本实施例的触控面板10进一步包含一设置于感测电极层1002及屏蔽层102之间的绝缘层101，用来电性绝缘感测电极层1002与屏蔽层102。就制程上来看，本实施例的绝缘层101及屏蔽层102是例如直接以光微影制程(Photo-Lithography Process)在感测电极层1002上依序形成。在其他实施例中，绝缘层101可例如是一胶体，而屏蔽层102则是通过绝缘层101来与感测电极层1002进行贴合。本实施例的两个导电箔片106a及106b的面积大小是例如设计为相同，并且两个导电箔片106a及106b之间的间隔距离d范围较佳是10 μ m到15 μ m。当然，导电箔片106a及106b的尺寸规格及间隔距离d并非以此为限，可依实际设计需求来调整。承上所述，当本实施例的触控面板10欲进行屏蔽性能的测试时，将一检测装置12 (如电阻计)通过连接线Ila及Ilb分别电性连接触控面板10的导电箔片106a及106b后，检测装置12可例如先通过连接线Ila来传递一测试信号(如电压)给导电箔片106a，并让测试信号通过信号路径103传递至导电箔片106b，进而再通过连接线Ilb回传到检测装置12。如此一来，检测装 置12即可计算出测试信号经过信号路径103所产生的一电气特性(如电阻值)，以测得信号路径103的直流特性。藉此，在设计上电性连接检测装置12的一判断装置(图未示)或检测人员即可根据检测装置12所计算出的电气特性来判断屏蔽层102的屏蔽性能，其中若电气特性不良，即可判定屏蔽层102的屏蔽性能就相对不良。补充说明的是，本实施例所述的连接线11a、Ilb可例如是触控面板10的一软性印刷电路板中的导线。当触控面板10在检测阶段，导电箔片1本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种触控面板，包括：一触控传感器；一屏蔽层，绝缘地设置于所述触控传感器上；以及复数个导电箔片，通过一异方性导电胶来间隔设置于所述屏蔽层远离所述触控传感器的一表面；其中，任两个所述导电箔片、所述异方性导电胶及所述屏蔽层串接成一信号路径。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：叶惠林，黄仕游，张专元，邱宗科，
申请(专利权)人：宸鸿科技厦门有限公司，
类型：实用新型
国别省市：