用于放大器的噪声消除系统和方法技术方案

一种集成电路的架构允许在已对输入信号进行采样之后消除在所述集成电路中的电容器上所采样的噪声。在一序列的时钟相位期间，在选择性地控制多个开关装置之后，可以消除与任意输入信号相关的热噪声。一种辅助电容器可用来储存与所述热噪声相等的电压，并且连同噪声消除单元一起实现所述热噪声从所采样信号的消除。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】【专利摘要】一种集成电路的架构允许在已对输入信号进行采样之后消除在所述集成电路中的电容器上所采样的噪声。在一序列的时钟相位期间，在选择性地控制多个开关装置之后，可以消除与任意输入信号相关的热噪声。一种辅助电容器可用来储存与所述热噪声相等的电压，并且连同噪声消除单元一起实现所述热噪声从所采样信号的消除。【专利说明】
本专利技术涉及一种用于消除在集成电路中的电容器上所采样的噪声的方法。本专利技术进一步涉及一种用于消除高精度和高分辨率集成电路中的热噪声的方法。本专利技术进一步涉及一种用于集成电路的架构，所述架构消除在已对输入信号进行采样之后伴随所采样的输入信号的噪声。
技术介绍
集成电路上的采样过程的实施方式经常要求使用采样网或开关电容电路。开关电容电路通过在所连接的开关闭合时将输入信号施加到电容器中而允许离散时间信号处理。图1示出了标准电容采样电路。当开关20在相位φ?期间闭合时，输入信号被施加并且对应电荷与所述输入信号成比例地被储存在电容器10上，并且当开关20打开时这种电荷被保持在电容器10上。虽然基础开关电容电路(如示出在图1中的那种)在实现采样过程方面是有用的，但是它们具有许多缺点。在开关电容电路中对输入信号进行采样将不仅对所预定的输入信号进行采样，而且还对任何伴随的热噪声进行采用。这种噪声主要由开关电容电路中的开关(如图1中的开关20)产生，并且当连同小型电容器一起使用时是尤其成问题的。当使用开关电容电路设计集成电路时，必须考虑所采样的噪声的存在，尤其是在要求高精度(如高精度采样和保持电路)或高分辨率(如高分辨率数据转换器)的集成电路中。特别是必须考虑由所采样的噪声产生的动率。如果开关20表示为具有电阻Ron的简易电阻元件，那么在开关电容电路 中所采样的噪声的热噪声功率可表示为方程(i): 【权利要求】1.一种用于消除在采样相位期间所采样的噪声的集成电路，所述集成电路包括: 输入端，该输入端连接至待采样的输入电压上； 电容器，该电容器在所述采样相位期间储存所述输入电压的样本，其中还在所述电容器上对所述噪声进行采样；以及 用于噪声消除的安排，其中所述安排监控所述噪声并在保持相位期间消除所述噪声。2.一种用于消除在采样相位期间所采样的噪声的集成电路，所述集成电路包括: 输入端，该输入端连接至待采样的输入电压上； 第一电容器，该第一电容器在所述米样相位期间储存所述输入电压的第一样本，其中还在所述第一电容器上对所述噪声进行采样；以及 储存第二样本的第二电容器，所述第二样本含有关于所述第一样本的所述噪声的信肩、O3.根据权利要求2所述的集成电路，其中储存在所述第二电容器上的所述第二样本中的所述信息是用来消除所述第一样本的所述噪声。4.根据权利要求2所述的集成电路，其进一步包括: 缓冲器，以便将所述第一电容器与所述第二电容器分离。5.根据权利要求2所述的集成电路，其进一步包括: 放大器，以便将所述第一 电容器与所述第二电容器分离。6.根据权利要求5所述的集成电路，其中所述放大器放大所采样的输入电压。7.根据权利要求5所述的集成电路，其中所述放大器消除所述第一样本的所述噪声。8.根据权利要求5所述的集成电路，其进一步包括: 另外的放大器，该放大器将所述第二电容器与所述集成电路的输出端相隔离。9.根据权利要求8所述的集成电路，其中所述另外的放大器增加了所述集成电路的总增益。10.根据权利要求8所述的集成电路，其进一步包括: 反馈回路，该反馈回路将所述另外的放大器的输出端与所述放大器的输入端相连接。11.根据权利要求10所述的集成电路，其中所述反馈回路控制所述集成电路的总增Mo12.根据权利要求10所述的集成电路，其中所述反馈回路包括第三电容器。13.一种用于消除在集成电路中在采样相位期间所采样的噪声的方法，所述方法包括: 在电容器上对输入电压进行米样，所米样的输入电压包括所述噪声； 通过第一安排监控所采样的输入电压的所述噪声；并且 通过所述第一安排在保持相位期间消除所述噪声。14.一种用于消除在集成电路中的在采样期间所采样的噪声的方法，所述方法包括: 在第一相位期间，对第一电容器上的输入电压进行米样，所米样的输入电压包括所述噪声； 在第二相位期间，将对应于所述噪声的电压通过缓冲器输出至第二电容器；并且在第三相位期间，将所述第一电容器的电荷转移掉，其中对应于所采样的输入电压的电荷被转移至第三电容器，但对应于第一相位样本的电荷未转移。15.根据权利要求14所述的方法，其进一步包括: 在所述第一相位期间将所述第二电容器连接至恒电压。16.一种用于消除在集成电路中的在采样期间所采样的噪声分量的方法，所述方法包括: 在第一相位期间，对第一电容器上的输入电压进行米样，所米样的输入电压包括所述噪声； 在第二相位期间，通过第一放大器将对应于所述噪声的电压放大至第二电容器； 在第三相位期间，进行以下步骤: (i) 将所述第一电容器的信号电荷转移掉； (ii)将所述第二电容器的顶板上的电压势通过第二放大器输出，以作为所述集成电路的输出；并且 (iii)产生反馈回路以控制所述集成电路的增益，其中所述集成电路的输出端处的电压势与无噪声的乘以了增益因子的所采样输入电压相关。17.根据权利要求16所述的方法，其进一步包括: 在所述第一相位期间将所述第二电容器连接至所述恒电压。【文档编号】G11C7/02GK103493138SQ201280020579 【公开日】2014年1月1日 申请日期:2012年3月22日 优先权日:2011年4月28日【专利技术者】R·卡普斯塔, C·莱登, 朱海阳 申请人:美国亚德诺半导体公司本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】...

【专利技术属性】
技术研发人员：R·卡普斯塔，C·莱登，朱海阳，
申请(专利权)人：美国亚德诺半导体公司，
类型：
国别省市：