一种绝缘电阻的检测方法技术

本发明专利技术介绍了一种绝缘电阻的检测方法，包括使用待测物、电阻检测装置、导体块；其中电阻检测装置的负极与地导通；导体块具有与待测物表面相接触的接触面，接触面与待测物表面的形貌互相对应；将电阻检测装置的正极与导体块连通；将导体块置于待测物表面，并在导体块上施加一个恒定载荷使导体块的接触面与待测物表面紧密贴合，导体块接触面的面积即为导体块与待测物的接触面积，记录电阻检测装置的测量值；选择待测物表面的不同位置，重复前一步骤，取得不同位置的测量值，取平均值；计算绝缘电阻。本发明专利技术精确得到两者之间接触的面积值和在此面积下测量的电阻值，消除了常规的电阻测量方法中接触面积小且面积无法获得的缺点。

【技术实现步骤摘要】
【专利摘要】本专利技术介绍了，包括使用待测物、电阻检测装置、导体块；其中电阻检测装置的负极与地导通；导体块具有与待测物表面相接触的接触面，接触面与待测物表面的形貌互相对应；将电阻检测装置的正极与导体块连通；将导体块置于待测物表面，并在导体块上施加一个恒定载荷使导体块的接触面与待测物表面紧密贴合，导体块接触面的面积即为导体块与待测物的接触面积，记录电阻检测装置的测量值；选择待测物表面的不同位置，重复前一步骤，取得不同位置的测量值，取平均值；计算绝缘电阻。本专利技术精确得到两者之间接触的面积值和在此面积下测量的电阻值，消除了常规的电阻测量方法中接触面积小且面积无法获得的缺点。【专利说明】—种绝缘电阻的检测方法
本专利技术涉及一种电阻测量领域技术，特别是。
技术介绍
电绝缘在工业生产中具有重要的作用，常规的绝缘电阻的测量方法使用的仪器为万用表，兆欧表等，其测量端多为细的金属杆或金属夹子，当其与待测物接触时，接触的面积很小，且具体面积值也无法精确的获得，因而其测量值仅为待测物微小局部的电阻值。在工程上，评价物体的绝缘性能时，需要考察的是物体作为整体的绝缘性能，物体的局部绝缘性能如果出现问题，就会对实际服役产生很大的影响，例如通过电化学方法得到氧化膜或者是通过喷涂得到的绝缘涂层，由于在制备过程中局部的某个很小的范围出现缺陷时，如果缺陷处与其他导体接触，绝缘物体的整体将不具备绝缘性能。通过常规的电阻测量方法测量绝缘电阻时，由于测量端与待测物的接触面积很小，因而对于待测物体整体大面积表面绝缘性能的评价是非常困难的。另一方面，为了得到面接触的两个绝缘物体的电阻值，由于两者接触面积较大，此时两者之间的电阻值会比通过常规测量方法得到的电阻值小很多，且由于测量时的面积无法准确的获得，两者之间也没法简单的计算。
技术实现思路
本专利技术所要解决的技术问题是提供，一方面可以方便的对物体绝缘性能进行评价，同时还可以精确得到待测物的绝缘电阻，尤其是可以容易得到绝缘物体面接触时的电阻值。为了实现解决上述技术问题的目的，本专利技术采用了如下技术方案: 本专利技术的，包括使用待测物、电阻检测装置、导体块；其中电阻检测装置包括正极和负极，负极与地导通；导体块具有与待测物表面相接触的接触面，接触面具有已知的面积，并与待测物表面的形貌互相对应；方法包括以下步骤: a.将电阻检测装置的正极与导体块连通； b.将导体块置于待测物表面，并在导体块上施加一个恒定载荷使导体块的接触面与待测物表面紧密贴合，导体块接触面的面积即为导体块与待测物的接触面积，记录电阻检测装置的测量值；c.选择待测物表面的不同位置，重复步骤b，取得不同位置的测量值，然后取平均值； d.根据步骤c得到的平均值以及导体块接触面的面积计算待测物的绝缘电阻。其中电阻测量装置为万用表，兆欧表中的一种。其中导体块的自身电阻与待测物的绝缘电阻相比很小。其中导体块的电阻小于待测物绝缘电阻的千分之一。其中导体块的材料选择金属材料。所述金属材料为金、银、铁、铝的一种，或者几种的合金。进一步具体的，导体块的外形为长方体、正方体或者中空圆柱体、中空球体或者中空圆柱体、中空球体的一部分。根据待测物绝缘电阻的大小施加不同的电压。所述电压的大小选择为5-1000V。所述步骤b中载荷和导体块的接触面的法线方向平行。，包括待测物；电阻检测装置，所述电阻检测装置包括正极和负极，负极与地导通；导体块，导体块具有与待测物表面相接触的接触面，所述的接触面与待测物表面的形貌相同；方法包括以下步骤: a.将电阻检测装置的正极与导体块连通； b.将导体块置于待测物表面，并在导体块上施加一个恒定载荷使导体块的接触面与待测物表面紧密贴合，记录电阻检测装置的测量值； c.在待测物表面移动导体块重复步骤b，判断待测物表面整体的绝缘性。本申请中的电阻检测装置的电阻检测装置可以采用常规的电阻检测装置，例如在工业中常用的万用表，兆欧表等，当然也可以采用其他常规的电阻测量方法，装置一般会具有两个极，即一个高电势端，正极，和一个低电势端，负极，由于测量的是对地的绝缘电阻，在测量中，将低电势端接地。导体块通常选用现有技术中电阻很小的导体材料，如金属材料，金，银，铜，铁，铝等，或者他们之间的合金。导体块整体的电阻要远小于待测物的绝缘电阻，即导体块的电阻与待测物的绝缘电阻相比要可以忽略不计，不应对绝缘电阻的测量产生影响。导体块的形状并不固定，可以是圆柱体，长方体等，一端与电阻测量装置连接，并具有与待测物接触的接触面，接触面的面积可以准确的计算，且具有与待测物表面的形貌互相配合可以紧密接触，这就可以保证当导体块与待测物表面接触时，两者可以很好的贴合在一起，接触的面积即为导体块接触面的面积。为保证导体块与待测物表面紧密的贴合，在导体块上施加一个载荷，其在接触面法向上的分力使导体块紧密的压在待测物的表面，在多次测量中考虑到载荷会使导体块和待测物产生变形，因此多次测量使用恒定的载荷。在优先的情况下，使用与接触面法线平行的载荷，这样就仅是导体块与待测物贴合，而并不产生切向上的载荷。考虑到电阻测量仪器的灵敏度，并根据电阻值的大小选择不同的测量电压，同时还可以得到在不同电压值下的绝缘电阻值。在优选的情况下，选择测量的电压值为5-1000V。通过采用上述技术方案，本专利技术具有以下的有益效果: 本绝缘电阻的检测方法专利针对常规的绝缘电阻的测量方法不足，使用具有与待测物表面形貌相同的导体块，并施加一个恒定的载荷,保证了导体块与待测物之间良好的面接触，精确得到两者之间接触的面积值和在此面积下测量的电阻值，消除了常规的电阻测量方法中接触面积小且面积无法获得的缺点，一方面增大测量的面积使对待测物整体绝缘性能的评价成为可能，另一方面对于绝缘电阻的测量，尤其是面面接触时绝缘电阻的测量也具有重要的意义。【专利附图】【附图说明】图1是绝缘电阻的检测方法的示意图。1.电阻检测装置；2.待测物；3.导体块；4.载荷；5.正极；6.负极；7.接地端；8.导体块的接触面。【具体实施方式】下面结合附图对本专利进一步解释说明。但本专利的保护范围不限于具体的实施方式。实施例1 附图1中，待测物2为一圆柱体，侧面为通过阳极氧化得到的氧化膜，在工程使用中，在待测物2外包裹一层金属，金属贴合在氧化膜上，因此，氧化膜的绝缘性对服役性能有至关重要的作用，现有技术中当不把二者装配起来而仅通过万用表或者兆欧表测量氧化膜绝缘电阻的方法很难得到二者整体面接触时的电阻值。采用本申请的方法，一个具有和待测物2外表面形貌相同的接触面8的导体块3，即导体块3的接触面8和待测物表面的形状相同(即是一个圆柱面的一部分)，在载荷4的作用下，导体块3压在待测物2上，待测物和导体块实现面接触，二者的接触面积即为导体块3接触面8的面积。在待测物2上移动导体块3，在载荷恒定的情况下在侧量两次，去三次结果的平均值，然后根据待测物2的外表面积与导体块3接触面8的面积即可计算出待测物的绝缘电阻。实施例2 测量方法与实施例1相同，不同的是通过导体块3在待测物2上缓慢移动，使导体块3的接触面8与待测物的外表面都接触，此时就可以评价出待测物外表面是否都具有绝缘性倉泛。【权利要求】1.，其特征是:包括使用待测物、电阻检测装置、导体块本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种绝缘电阻的检测方法，其特征是：包括使用待测物、电阻检测装置、导体块；其中电阻检测装置包括正极和负极，负极与地导通；导体块具有与待测物表面相接触的接触面，接触面具有已知的面积，并与待测物表面的形貌互相对应；方法包括以下步骤：a.?将电阻检测装置的正极与导体块连通；b.?将导体块置于待测物表面，并在导体块上施加一个恒定载荷使导体块的接触面与待测物表面紧密贴合，导体块接触面的面积即为导体块与待测物的接触面积，记录电阻检测装置的测量值；c.?选择待测物表面的不同位置，重复步骤b，取得不同位置的测量值，然后取平均值；d.?根据步骤c得到的平均值以及导体块接触面的面积计算待测物的绝缘电阻。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：张新杰，王岳，赵斌，郗雨林，王德义，
申请(专利权)人：中国船舶重工集团公司第七二五研究所，
类型：发明
国别省市：