大断面硐室围岩收敛快速测量方法技术

本发明专利技术公开了一种大断面硐室围岩收敛快速测量方法，采用激光测距仪对煤矿大断面硐室围岩收敛进行快速观测，解决了煤矿大断面硐室围岩的表面收敛快速观测问题。无需布线，一个人即可完成任务，具有快速、方便的特点，解决了煤矿大断面硐室围岩的表面收敛快速观测问题。

【技术实现步骤摘要】
【专利摘要】本专利技术公开了一种，采用激光测距仪对煤矿大断面硐室围岩收敛进行快速观测，解决了煤矿大断面硐室围岩的表面收敛快速观测问题。无需布线，一个人即可完成任务，具有快速、方便的特点，解决了煤矿大断面硐室围岩的表面收敛快速观测问题。【专利说明】
本专利技术涉及的是一种。
技术介绍
隧道围岩表面变形监测技术已实现了自动在线监测或测量工程车多点、全断面监测技术，测量精度高，监测密度大；而煤矿大断面硐室对变形监测要求的精度低，没有必要采用隧道围岩变形监测的高精度、高成本变形监测技术。煤矿现有大断面硐室收敛观测多采用十字交叉法、或井字布置布线方法进行观测，需要梯子或脚手架，测量工具为钢尺，每次观测至少需要两个人配合，费时费力且观测效果较差。因此，现有技术存在缺陷，需要改进。
技术实现思路
本专利技术所要解决的技术问题是针对现有技术的不足提供一种。本专利技术的技术方案如下:—种，包括以下步骤:(I)在巷硐壁一侧安装一个带一定角度的测量装置，如图1所示，测量装置包括固定基座110和支架111 ;支架111与水平方向的夹角为CIi,支架为Ai ； (2)将固定基座110和支架111固定安装在硐室一侧表面；(3)把激光测距仪放置在与水平方向夹角为a” α2、α3、04和α5的支架上，测得支架自由端到对面巷硐的距离为AiBi ；(4)计算AiCi=AiBi^cos (a D ,BiCi=AiBi^sin (α山则相邻两次监测的收敛值为Δ BC=BiC1-BHCH, Λ AC=AiC1-Ai_1Ci_1 ；其中AiC^ BiCi为第i天测得的硐室宽度和高度；其中Ap1Ci^ Bp1CV1为第H天测得的硐室宽度和高度；(5)经过多次观测，便绘出硐室表面的变形总量Σ Δ BC=BiC1-B0C0,Σ Λ AC=AiC1-AtlCtl,其中BqCq，A0C0为测量的初值；硐室高度收敛速度V高I=(BiC1-Bp1CV1)/(Hi )，宽度收敛速度 V 宽 i= (AiC1-AiU/ (Μη)。本专利技术采用激光测距仪对煤矿大断面硐室围岩收敛进行快速观测，解决了煤矿大断面硐室围岩的表面收敛快速观测问题。无需布线，一个人即可完成任务，具有快速、方便的特点，解决了煤矿大断面硐室围岩的表面收敛快速观测问题。【专利附图】【附图说明】图1为本专利技术方法的及测量装置的结构示意图；【具体实施方式】以下结合具体实施例，对本专利技术进行详细说明。(I)在巷硐壁一侧安装一个带一定角度的测量装置，如图1所示，测量装置包括固定基座110和支架111 ;支架111与水平方向的夹角为CIi,支架为Ai ；(2)将固定基座110和支架111固定安装在硐室一侧表面；(3)把激光测距仪放置在与水平方向夹角为a” α2、α3、04和α5的支架上，测得支架自由端到对面巷硐的距离为AiBi ；(4)计算 AiCi=AiBi^cos ( a j), BiCi=AiBi^sin ( a j),相邻两次监测的收敛值为ABC=BiC1-BHCH (高度XAAC=AiCiH (宽度)。其中AiC^ BiCi为第i天测得的硐室宽度和高度；其中Ap1Ci^ Bp1CV1为第H天测得的硐室宽度和高度；(5)这样经过多次观测，便可绘出硐室表面的变形总量Σ Λ BC=BiC1-B0C0,Σ Δ AC=AiC1-AtlCtl,其中 BqCq，A0C0 为测量的初值。硐室高度收敛速度V高I=(BiC1-BHtV1)/ Cd1-Cl^),宽度收敛速度V宽i= (AiC1-A1-D/ (H1)应当理解的是，对本领域普通技术人员来说，可以根据上述说明加以改进或变换，而所有这些改进和变换都应属于本专利技术所附权利要求的保护范围。【权利要求】1.一种，其特征在于，包括以下步骤: (1)在巷硐壁一侧安装一个带一定角度的测量装置，如图1所示，测量装置包括固定基座110和支架111 ;支架111与水平方向的夹角为CIi，支架SAi ； (2)将固定基座110和支架111固定安装在硐室一侧表面； (3)把激光测距仪放置在与水平方向夹角为a”α2、α3、04和α5的支架上，测得支架自由端到对面巷硐的距离为AiBi ； (4)计算AiCi=AiBi^cos(Cti), BiCi=AiBi^sin ( a j),贝丨J相邻两次监测的收敛值为Δ BC=BiC1-BHCH, Λ AC=AiC1-Ai_1Ci_1 ； 其中AA、BiCi为第i天测得的硐室宽度和高度；其中AiAf BhC^1为第1-Ι天测得的硐室宽度和高度； (5)经过多次观测，便绘出硐室表面的变形总量ΣΛ BC=BiC1-B0C0, Σ Δ AC=AiC1-A0C0,其中BciCc^AciCci为测量的初值；硐室高度收敛速度V高I=(BiC1-Bp1CH)/ (Cl1-C^1),宽度收敛速度 V 宽 i=(AiC1-Ai_1Ci_1)/【文档编号】G01B11/16GK103486977SQ201310419964【公开日】2014年1月1日 申请日期:2013年9月13日 优先权日:2013年9月13日 【专利技术者】郭敏, 韦四江, 马春艳, 宋常胜, 任筱芳 申请人:河南理工大学本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种大断面硐室围岩收敛快速测量方法，其特征在于，包括以下步骤：（1）在巷硐壁一侧安装一个带一定角度的测量装置，如图1所示，测量装置包括固定基座110和支架111；支架111与水平方向的夹角为αi，支架为Ai；（2）将固定基座110和支架111固定安装在硐室一侧表面；（3）把激光测距仪放置在与水平方向夹角为α1、α2、α3、α4和α5的支架上，测得支架自由端到对面巷硐的距离为AiBi；（4）计算AiCi=AiBi*cos(αi),BiCi=AiBi*sin(αi),则相邻两次监测的收敛值为△BC=BiCi?Bi?1Ci?1，△AC=AiCi?Ai?1Ci?1；其中AiCi、BiCi为第i天测得的硐室宽度和高度；其中Ai?1Ci?1、Bi?1Ci?1为第i?1天测得的硐室宽度和高度；（5）经过多次观测，便绘出硐室表面的变形总量∑△BC=BiCi?B0C0，∑△AC=AiCi?A0C0，其中B0C0，A0C0为测量的初值；硐室高度收敛速度V高i=(BiCi?Bi?1Ci?1)/（di?di?1），宽度收敛速度V宽i=(AiCi?Ai?1Ci?1)/（di?di?1）。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：郭敏，韦四江，马春艳，宋常胜，任筱芳，
申请(专利权)人：河南理工大学，
类型：发明
国别省市：