太阳膜光学性能测试仪制造技术

本实用新型专利技术涉及太阳膜测试仪领域。一种太阳膜光学性能测试仪，包括：盒体，显示模块，测试槽，于测试槽的两相对面中设置的紫外线LED、红外线LED、可见光LED、紫外线探测器、红外线探测器、可见光探测器；控制紫外线LED、红外线LED、可见光LED工作与否，并将紫外线探测器、红外线探测器、可见光探测器在太阳膜置入测试槽前后所分别探测到的紫外线强度信号、红外线强度信号、可见光强度信号分别换算成紫外线阻隔率、红外线阻隔率、可见光透过率于显示模块显示的控制电路。采用该太阳膜光学性能测试仪，各太阳膜销售点可对太阳膜的光学性能进行当场测试，从而为消费者提供直观、科学的参考信息，也为销售点销售时提供直观、科学的展示。（*该技术在2023年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

【技术保护点】
一种太阳膜光学性能测试仪，其特征在于，包括：盒体（1），设置于所述盒体（1）表面的显示模块（2），开设于所述盒体（1）上的槽口状的测试槽（3），于所述测试槽（3）的两相对面中的第一面或第二面设置的紫外线LED（41）、红外线LED（42）、可见光LED（43）；于所述测试槽（3）的两相对面中的第一面或第二面设置的分别对应探测所述紫外线LED（41）所发出的紫外线强度信号、所述红外线LED（42）所发出的红外线强度信号、所述可见光LED（43）所发出的可见光强度信号的紫外线探测器（51）、红外线探测器（52）、可见光探测器（53）；设置于所述盒体（1）内，控制所述紫外线LED（41）、所述红外线LED（42）、所述可见光LED（43）工作与否，并将所述紫外线探测器（51）、红所述外线探测器（52）、所述可见光探测器（53）在太阳膜置入所述测试槽（3）前后所分别探测到的紫外线强度信号、红外线强度信号、可见光强度信号分别换算成紫外线阻隔率、红外线阻隔率、可见光透过率于所述显示模块（2）显示的控制电路（6）；所述控制电路（6）的控制端分别与所述紫外线LED（41）、所述红外线LED（42）、所述可见光LED（43）电连接，接收端分别与所述紫外线探测器（51）、所述红外线探测器（52）、所述可见光探测器（53）电连接，显示端与所述显示模块（2）电连接。...

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：张曼莉，
申请(专利权)人：深圳市林上科技有限公司，
类型：实用新型
国别省市：