三级四极型质谱仪制造技术

本发明专利技术的目的在于，在三级四极型质谱仪中利用串联质谱分析执行高速的质量扫描时，也可抑制质量电荷轴的偏差而取得质量较高的质谱。针对未伴随解离操作的质谱分析用与伴随解离操作的串联质谱分析用，独立地准备以扫描速度作为参数而表示质荷比与质量偏差值的关系的质量校正表格（22A1、22A2、22B1、22B1）。于串联质谱分析时，根据产物离子扫描测定或中性丢失扫描测定等测定模式，针对选择的质荷比为固定的四极，使用与表格中最低的扫描速度S1对应的质量偏差值，针对进行质量扫描的四极，使用与表格中指定的扫描速度对应的质量偏差值，分别控制前段四极与后段四极的动作。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】【专利摘要】本专利技术的目的在于，在三级四极型质谱仪中利用串联质谱分析执行高速的质量扫描时，也可抑制质量电荷轴的偏差而取得质量较高的质谱。针对未伴随解离操作的质谱分析用与伴随解离操作的串联质谱分析用，独立地准备以扫描速度作为参数而表示质荷比与质量偏差值的关系的质量校正表格（22A1、22A2、22B1、22B1）。于串联质谱分析时，根据产物离子扫描测定或中性丢失扫描测定等测定模式，针对选择的质荷比为固定的四极，使用与表格中最低的扫描速度S1对应的质量偏差值，针对进行质量扫描的四极，使用与表格中指定的扫描速度对应的质量偏差值，分别控制前段四极与后段四极的动作。【专利说明】三级四极型质谱仪
本专利技术涉及一种可进行MS/MS (串联质谱)分析的三级四极型质谱仪(triplequadrupole mass spectrometer)。
技术介绍
在四极型质谱仪中，通过将与测定对象离子(ion)的质荷比m/z对应的电压(直流电压与高频电压相加所得的电压)施加于四极滤质器(mass filter)，而使所述测定对象离子选择性地通过四极滤质器并利用检测器进行检测。由于四极滤质器的机械性误差或电子电路的特性偏差、使用环境条件等，在多数情况下，在进行使具有目标质荷比的离子选择性地通过四极滤质器的控制的状态下，该目标质荷比与实际检测到的离子的质荷比会产生偏差。在质量校正作业中，如专利文献I所记载，首先，通过测定包含已知质荷比的理论值的成分的标准试样，并对此时的质荷比的实测值与理论值进行比较，而求出该质荷比下的质量偏差，且将其作为校正值而存储在存储器(memory)中。然后，于对目标试样进行测定时，控制部从存储器读出与目标质荷比对应的校正值，使用该值修正施加于四极滤质器的电压以使质量偏差成为零。其结果为，使具有目标质荷比的离子选择性地通过四极滤质器，并到达检测器而被检测。此外，为了进行分子量较大的物质的鉴定或其构造的解析，作为质谱分析的一种方法而广泛使用被称为MS/MS分析的方法。作为用来实施MS/MS分析的质谱仪有各种构成的质谱仪，但由于三级四极型质谱仪构造相对简单且廉价，因此被广泛利用。如专利文献2等所揭示，通常的三级四极型质谱仪中，在前段的四极滤质器(以下称为“前段四极”)与后段的四极滤质器(以下称为“后段四极”)之间，包含通过碰撞诱导解离(CID = Collision Induced Dissociation)而使离子解离的碰撞室(collision cell)。在该碰撞室内，为了一面使离子收敛一面进行输送而配设四极(或其以上的多极)型的离子导向器。当将从试样生成的各种离子导入前段四极时，该前段四极仅使具有特定的质荷比的离子作为前体离子(precursor ion)而选择性地通过。在碰撞室内，导入有U1气(argongas)等CID气体，被导入至碰撞室内的所述前体离子与CID气体发生碰撞并解离，从而生成各种产物离子(production)。前体离子或各种产物离子在由四极型离子导向器(ionguide)而形成的高频电场的作用下得到收敛。当将由CID生成的各种产物离子导入后段四极时，该后段四极仅使具有特定的质荷比的产物离子选择性地通过，通过后段四极后所得的产物离子到达检测器并被检测。在这种三级四极型质谱仪中，可进行多反应监测(MRM = Multiple ReactionMonitoring)测定、产物离子扫描测定、前体离子扫描测定、中性丢失扫描(neutral lossscan)测定等各种模式(mode)的MS/MS分析。在MRM测定中，分别固定通过前段四极与后段四极后所得的的离子的质荷比，测定特定的产物离子相对于特定的前体离子的强度。在产物离子扫描测定中，将通过前段四极的离子的质荷比固定为某个值，另一方面，以规定质荷比范围对通过后段四极的离子的质荷比进行扫描(scan)。由此，可取得产物离子针对特定的前体离子的质谱(mass spectrum)ο在前体离子扫描测定中，与产物离子扫描测定相反地，将通过后段四极的离子的质荷比固定为某个值，另一方面，以规定质荷比范围对通过前段四极的离子的质荷比进行扫描。由此，可取得生成特定的产物离子的前体离子的质谱。在中性丢失扫描测定中，使通过前段四极的离子的质荷比与通过后段四极的离子的质荷比的差(即中性丢失)保持固定，并在前段四极及后段四极中分别以规定的质荷比范围进行质量扫描。由此，可取得具有特定的中性丢失的前体离子/产物离子的质谱。当然，在三级四极型质谱仪中，也可在碰撞室内不进行离子的CID而进行通常的扫描测定或选择离子监测(SIM = Selected 1n Monitoring)测定。在该情况下,在前段四极或后段四极中的一者中，不进行与质荷比对应的离子的选择动作，而使所有离子通过该四极。如上所述，由于三级四极型质谱仪包含前段及后段这2个四极滤质器，因此为了提高前体离子的选择性或产物离子的选择性，需要在前段与后段分别独立地进行质量校正。在现有的三级四极型质谱仪中，通常，用于MS/MS分析的质量校正信息是根据使用标准试样的某个低速的扫描速度的MS (质谱)分析所得的实测结果，而在前段四极与后段四极中独立地制成的。然而，在根据以这种方式求出的质量校正信息而进行质量校正的情况下，存在如下问题:在前体离子扫描或中性丢失扫描等测定模式中，随着扫描速度变快，质谱中的质荷比轴的偏移变大。另外，关于质量分辨率也与质量校正同样地存在如下问题:虽利用使用标准试样的某个低速的扫描速度的MS分析所得的实测结果来进行调整，但在前体离子扫描或中性丢失扫描等测定模式中，随着扫描速度变快，质量分辨率降低(I种成分所对应的峰形(peak profile)的波峰宽度变宽)，或在质量分辨率未降低的情况下离子的通过量也会减少而使灵敏度较大地降低。现有技术文献专利文献专利文献1:日本专利特开平11-183439号公报专利文献2:日本专利特开平7-201304号公报
技术实现思路
专利技术要解决的课题近年来，测定对象物质日益复杂化，另一方面，也强烈要求分析作业的效率提升(up)或分析质量的提高。例如，在组合液相色谱仪(LC, Liquid Chromatograph)与三级四极型质谱仪的装置中，为了在对试样中包含的多种成分进行分子量测定的同时取得构造信息，存在以MRM测定或通常的扫描测定作为触发(trigger)而进行产物离子扫描测定的情况。在这种情况下，为了充分地确保每个波峰的数据点数，或为了对正负离子两者、进而是在多个碰撞能量(collision energy)条件下进行产物离子扫描测定，需要将扫描速度设为高速并以更短的时间单位反复进行扫描测定。为了满足这种要求，需要使质量扫描高速化，如上所述的质荷比轴的偏移或质量分辨率的降低等问题变得更加显著。本专利技术是为了解决所述课题而完成者，其主要目的在于:即使在三级四极型质谱仪中伴随高速扫描而进行MS/MS分析的情况下，也可减轻质谱的质荷比轴的偏移或质量分辨率的降低从而获得高质量精度、高质量分辨率的质谱。解决课题的技术手段为了解决所述课题而完成的第I专利技术是一种三级四极型质谱仪，包含:离子源，使试样离子化；前段四极，用来在由所述离子源生成的各种离子中选出具有特定的质荷比本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】...

【专利技术属性】
技术研发人员：菅原博史，奥村大辅，
申请(专利权)人：株式会社岛津制作所，
类型：
国别省市：