一种高精度的谐波分析方法技术

本发明专利技术公开了一种在准同步DFT基础上改进实现的高精度的谐波分析方法。该方法包括：应用准同步DFT进行谐波分析时频域抽样的位置根据信号频率的漂移而改变，即所述频域抽样位置为μ2π/N，其中：μ为信号频率的漂移，无漂移时μ，为1。本发明专利技术包括一个思想：可变栅栏，即谐波分析时频域抽样的位置根据信号频率的漂移而改变；本发明专利技术的技术，有助于电能质量监控、电子产品生产检验、电器设备监控等应用谐波分析的领域更加精确的获得各次谐波的幅值、初相角和频率等信息。

【技术实现步骤摘要】

【技术保护点】
一种谐波分析方法，其特征在于包括以下步骤：（1）、等间隔采样W+2个采样点数据：{f(i),i=0,1,…,w+1}；（2）、从采样点i=0开始应用准同步DFT公式：ak=2Fakn=2QΣi=0Wγif(i)cos(k2πNi)bk=2Fbkn=2QΣi=0Wγif(i)sin(k2πNi),分析W+1个数据获得基波信息和（3）、从采样点i=1应用准同步DFT公式：ak=2Fakn=2QΣi=0Wγif(i+1)cos(k2πNi)bk=2Fbkn=2QΣi=0Wγif(i+1)sin(k2πNi),,分析W+1个数据获得基波信息（4）、应用公式：μ=Ntg-1[Fa0n(1)Fb0n(1)]-tg-1[Fa0n(0)Fb0n(0)]2π,计算信号的频率漂移μ；（5）应用公式：ak=2QΣi=0Wγif(i)cos(kμ2πNi)bk=2QΣi=0Wγif(i)sin(kμ2πNi)，计算各次谐波的幅值和相角；所述的等间隔采样是根据进行谐波分析的理想信号的周期T和频率f，在一个周期内采样N点，即采样频率为fs=Nf，且N≥64；信号频率的漂移μ，是根据相邻采样点基波相角差与理想周期内采样点数N的固定关系而获得的，信号频率的漂移μ也可用于修正基波和高次谐波的频率f1和高次谐波的频率fk。FDA00003778443100012.jpg,FDA00003778443100013.jpg,FDA00003778443100015.jpg...

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：傅中君，
申请(专利权)人：常州顺创电气科技有限公司，
类型：发明
国别省市：