辅助校准装置制造方法及图纸

本发明专利技术涉及一种测量仪器的辅助装置，具体是一种外径千分尺校准、内径百分表辅助校准装置。该辅助校准装置包括基板以及设于基板上并列设置的至少两量架；各量架均设有可让外径千分尺的测砧或测微螺杆架设于量架上的至少一个支撑部；设于某一量架的一个支撑部与至少一个设于其它量架的支撑部并排设置，使外径千分尺的测砧与测微螺杆可同时架设两量架上。该辅助校准装置可辅助外径千分尺校准零位，以及内径百分表的校准。

【技术实现步骤摘要】
【专利摘要】本专利技术涉及一种测量仪器的辅助装置，具体是一种外径千分尺校准、内径百分表辅助校准装置。该辅助校准装置包括基板以及设于基板上并列设置的至少两量架；各量架均设有可让外径千分尺的测砧或测微螺杆架设于量架上的至少一个支撑部；设于某一量架的一个支撑部与至少一个设于其它量架的支撑部并排设置，使外径千分尺的测砧与测微螺杆可同时架设两量架上。该辅助校准装置可辅助外径千分尺校准零位，以及内径百分表的校准。【专利说明】辅助校准装置
本专利技术涉及一种测量仪器的辅助装置，具体是一种外径千分尺校准、内径百分表校准辅助装置。
技术介绍
目前，在汽车维修行业中测量发动机汽缸直径普遍采用的方法是:先将外径千分尺校准零位，然后再调整好外径千分尺尺寸；再把内径百分表放在调好的外径千分尺上校准，校准完成后，再拿内径百分表去量汽缸。但是在实际操作过程中，内径百分表校准步骤复杂，操作难度大；而且外径千分尺在内径百分表校准过程中难以固定和保持水平，导致内径百分表的校准结果不精确，使最终内径的测量数据存在较大的误差。
技术实现思路
有鉴于此，有必要针对上述内径百分表校准步骤复杂，操作难度大，内径百分表的校准结果不精确的问题，提供一种校准辅助装置，并通过以下技术方案实现。一种辅助校准装置，包括基板以及设于基板上并列设置的至少两量架；各量架均设有可让外径千分尺的测砧或测微螺杆架设于量架上的至少一个支撑部；设于某一量架的一个支撑部与至少一个设于其它量架的支撑部并排设置，使外径千分尺的测砧与测微螺杆可同时架设两量架上。该辅助校准装置可辅助外径千分尺校准零位，以及内径百分表的校准。所述量架中，位于最外排的其中一个量架设有至少两个支撑部，其它量架上支撑部数量少于该最外排量架支撑部的数量，并且其它量架上的各个支撑部均分别与该最外排量架的其中一个支撑部并排设置。从而设置较少的量架即可架设多种规格的外径千分尺。所述量架的数量至少为三，位于非最外排的任一量架的各支撑部均与其相邻的其中一个量架的其中一个支撑部并排设置，那么在外径千分尺进行校准调零时，可以有三个支撑部对标准杆进行支撑，或有两个支撑部对测微螺杆进行支撑。所述量架总体呈板状，并且相邻量架的中心平面之间的距离为25mm的整数倍，以对应外径千分尺不同的规格，从而扩大该辅助校准装置的应用范围。优选所述相邻量架的中心平面之间的距离为25mm。本专利技术辅助校准装置结构简单，可以固定外径千分尺，从而方便对外径千分尺校准零位；该辅助校准装置还可以使外径千分尺保持平行，从而使内径百分表在校准过程中，外径千分尺与内径百分表实现平行校准，从而提高内径百分表校准结果的准确性。【专利附图】【附图说明】图1为本专利技术辅助校准装置的实施例一的立体图。图2为图1所示辅助校准装置的俯视图。图3为图2的A向视图。图中:1-第一量架，2-第二量架，3-第三量架，4-第四量架，5-第五量架，6-第六量架，7-基板，8-支撑部。【具体实施方式】以下结合附图对本专利技术进行详细描述。图1至图3所示为本专利技术辅助校准装置的实施例一。该辅助校准装置包括基板7以及设于基板7上并列设置的至少两量架。在本实施例中，量架总体呈板状，其数量为六，参见图1，现从左至右定义各量架分别为第一量架1、第二量架2、第三量架3、第四量架4、第五量架5、第六量架6。各量架均设有可让外径千分尺的测砧或测微螺杆架设于量架上的至少一个支撑部8，参见图1，第一量架I设有四个支撑部8，第二量架2设有一个支撑部8，第三量架3设有二个支撑部8，第四量架4设有二个支撑部8，第一量架I设有二个支撑部8，第一量架I设有一个支撑部8，且设于某一量架的一个支撑部8与至少一个设于其它量架的支撑部8并排设置(即处于同一直线上)，参见图2，使外径千分尺的测砧与测微螺杆可同时架设两量架上。使用该辅助校准装置对外径千分尺校准零位时，需要将外径千分尺的测砧与测微螺杆同时架设并排设置的两支撑部8上，此时再将外径千分尺的标准杆置于测砧与测微螺杆之间进行校准零位。使用该辅助校准装置对内径百分表校准时，先采用上述方法对外径千分尺进行校准零位，再调整好外径千分尺尺寸且将外径千分尺架设于量架上，由于各支撑部8位于同一平面上(相对于基板7)，那么架设于量架的外径千分尺将保持平行，把内径百分表放在调好的外径千分尺上校准即可。第一量架I上支撑部8的数量比其它量架上支撑部8的数量多，且处于最外侧，可作为基准量架，通过其它量架与第一量架I的配合，使该校准架设置少量架而却可以辅助校准多个规格的外径千分尺；当然，这需要其它量架上设有与第一量架I上某一支撑部8并排设置的支撑部8。位于非最外排的任一量架的各支撑部8均与其相邻的其中一个量架的其中一个支撑部8并排设置，那么在外径千分尺进行校准调零时，可以有三个支撑部8对标准杆进行支撑，或有两个支撑部8对测微螺杆进行支撑。目前，常用的外径千分尺的规格为0-25mm，25-50mm，50-75mm，75-100mm，100-125mm等，以25mm为倍增。为便于多种规格的外径千分尺的测砧与测微螺杆同时驾设于该校准架的量架上，相邻量架的中心平面之间的距离为25mm。同时，为配合外径千分尺其它部位的尺寸，如测砧、测微螺杆的形状及尺寸，该量架的厚度设置为5_，支撑部8为半径为5mm的半圆形凹槽,支撑部8底端与基板7的距离为5mm。所述基板7、量架均为硬塑料板，应该理解，基板7、量架还可以为其它合适的硬质板件，如硬质合金板件。以上所述实施例仅表达了本专利技术的一种实施方式，其描述较为具体和详细，但并不能因此而理解为对本专利技术专利范围的限制。应当指出的是，对于本领域的普通技术人员来说，在不脱离本专利技术构思的前提下，还可以做出若干变形和改进，这些都属于本专利技术的保护范围。因此，本专利技术专利的保护范围应以所附权利要求为准。【权利要求】1.一种辅助校准装置，其特征在于:包括基板以及设于基板上并列设置的至少两量架；各量架均设有可让外径千分尺的测砧或测微螺杆架设于量架上的至少ー个支撑部；设于某ー量架的一个支撑部与至少ー个设于其它量架的支撑部并排设置，使外径千分尺的测砧与测微螺杆可同时架设该两量架上。2.根据权利要求1所述的辅助校准装置，其特征在于:所述量架中，位于最外排的其中ー个量架设有至少两个支撑部，其它量架上支撑部数量少于该最外排量架支撑部的数量，并且其它量架上的各个支撑部均分别与该最外排量架的其中一个支撑部并排设置。3.根据权利要求2所述的辅助校准装置，其特征在于:所述量架的数量至少为三，位于非最外排的任一量架的各支撑部均与其相邻的其中一个量架的其中一个支撑部并排设置。4.根据权利要求1所述的辅助校准装置，其特征在于:所述量架总体呈板状，并且相邻量架的中心平面之间的距离为25mm的整数倍。5.根据权利要求4所述的辅助校准装置，其特征在于:所述相邻量架的中心平面之间的距离为25mm。6.根据权利要求4所述的辅助校准装置，其特征在于:所述量架的厚度为5_。7.根据权利要求4所述的辅助校准装置，其特征在于:所述基板、量架均为硬塑料板。8.根据权利要求1所述的辅助校准装置，其特征在于:所述支撑部为量架顶部开设的半圆形凹槽。9.根据权利要求8所述的辅助校准装置，其特征在于:所述支撑部为半径为5mm的半圆形凹槽。1本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种辅助校准装置，其特征在于：包括基板以及设于基板上并列设置的至少两量架；各量架均设有可让外径千分尺的测砧或测微螺杆架设于量架上的至少一个支撑部；设于某一量架的一个支撑部与至少一个设于其它量架的支撑部并排设置，使外径千分尺的测砧与测微螺杆可同时架设该两量架上。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：赵占鳌，王哲，
申请(专利权)人：私立华联学院，
类型：发明
国别省市：