一种芯片测试软件的开发方法和系统技术方案

本发明专利技术公开了一种IC测试软件开发的方法和系统，应用于芯片测试中的测试软件开发和调试，其至少包括：主机，运行主机程序的若干计算机或网络终端；ATE仿真器，运行ATE仿真器程序的若干计算机或网络终端；数据源：用于主机的程序的有效数据的任何载体，所述的有效数据用于记载ATE仿真器不可直接访问的数据；本发明专利技术通过采用无ATE的条件下开发ATE数据处理模块，网络通信模块，主机程序的方式，使得ATE可以从芯片测试软件开发中解放出来用于正式测试，从而大幅降低了芯片测试软件开发的成本；同时不需要芯片参与，能够更早启动芯片测试软件的开发，避免芯片测试软件开发成为芯片测试延时的原因，缩短芯片上市时间；同时，开发者有足够的开发和调试软件的时间，能够充分的保证软件的成功率。

【技术实现步骤摘要】
【专利摘要】本专利技术公开了一种IC测试软件开发的方法和系统，应用于芯片测试中的测试软件开发和调试，其至少包括：主机，运行主机程序的若干计算机或网络终端；ATE仿真器，运行ATE仿真器程序的若干计算机或网络终端；数据源：用于主机的程序的有效数据的任何载体，所述的有效数据用于记载ATE仿真器不可直接访问的数据；本专利技术通过采用无ATE的条件下开发ATE数据处理模块，网络通信模块，主机程序的方式，使得ATE可以从芯片测试软件开发中解放出来用于正式测试，从而大幅降低了芯片测试软件开发的成本；同时不需要芯片参与，能够更早启动芯片测试软件的开发，避免芯片测试软件开发成为芯片测试延时的原因，缩短芯片上市时间；同时，开发者有足够的开发和调试软件的时间，能够充分的保证软件的成功率。【专利说明】一种芯片测试软件的开发方法和系统
本专利技术涉及芯片测试领域，主要涉及一种芯片测试中的ATE仿真器以及在芯片测试中ATE周边软件开发的一种方法。
技术介绍
近年来，随着芯片/IC设计复杂度的规模的不断扩大，芯片测试也变得越来越复杂，这使得IC测试的成本越来越高。同时为了迎合客户的各种需求，特别是信息安全和复杂运算的需要，在芯片进行ATE (Automatic Test Equipment,集成电路(IC)自动测试机)测试的时候需要使用客户指定的主机进行数据处理，而不希望由ATE来完成这些数据处理(例如信息安全需求，或者数据处理速度需求)，这就需要开发主机上的主机程序。如果开发这些主机程序需要ATE参与进来，首先需要在得到芯片的样片已后才能进行开发主机程序，使得开发过程启动太晚；其次，ATE停止测试芯片，而用于主机程序开发，使得主机程序的开发成本过高；最后，主机程序的开发人员一般不是ATE厂商人员，ATE与主机程序开发人员的工作环境协调需要耗费一定成本。同时，目前现有技术中作为ATE仿真器，例如“SMULATOR FOR IC TESTINGDEVICE”，其方法也存在以下诸多弊端:1.没有本地数据处理能力。目前的ATE仿真器一般是对IC测试结果直接打印或者显示出来，而随着IC测试复杂度的增大，打印大量的数据对于用户来说无法快速判断测试正确性，所以ATE需要本地数据处理能力，而新的仿真器能提供开发本地数据处理能力软件的开发环境。2.没有网络通信功能。目前的ATE仿真器只面向芯片，而没有面向互联网的接口程序。因此无法实现芯片测试数据的外部处理功能，当用户需要指定主机处理IC测试的数据时，目前的ATE仿真器无法与外部主机互联，并且及时响应外部主机的指令。综上所述，为了避免上述情形，降低芯片测试成本，一种新的，灵活、实用的芯片(IC)测试软件开发方法和系统的专利技术是势在必行的。
技术实现思路
本专利技术的目的是，在没有ATE的前提下:1、提供一种用于生成IC测试数据的方法和数据生成器，以解决在没有ATE的前提下，无法生成各种正确和错误的IC测试数据流的问题。2、提供一种用于开发和调试ATE数据处理模块的方法和系统，使得ATE数据处理程序的开发成本大幅降低，成功率大幅提升。3、提供一种用于开发和调试ATE网络通信模块的方法和系统，使得ATE与主机通信的网络通信程序开发成本大幅降低，成功率大幅提升。4、提供一种用于开发主机程序的方法和系统，使得主机程序开发成本大幅降低，成功率大幅提升。为了解决上述技术问题，本专利技术提供的技术方案为:一种芯片测试软件的开发系统，应用于芯片测试中的测试软件开发和调试，其至少包括:主机，运行主机程序的若干计算机或网络终端；ATE仿真器，运行ATE仿真器程序的若干计算机或网络终端；数据源:用于主机的程序的有效数据的任何载体，所述的有效数据用于记载ATE仿真器不可直接访问的数据。所述ATE仿真器包括:ATE主控模块，芯片测试数据生成模块，ATE数据处理模块，网络通信模块以及网络编程调试模块。所述ATE主控模块:启动芯片测试模式，生成测试条件，并将芯片测试模式信息和测试条件发送给芯片测试数据生成模块，然后从芯片测试数据生成模块获取芯片测试数据，将需要在ATE仿真器处理的芯片测试数据发送给ATE数据处理模块，获得结果；将需要发送给主机进行处理的芯片测试数据，通过网络通信模块发送给主机，接收来自主机的处理结果。所述芯片测试数据生成模块:模拟芯片测试过程，将来自ATE主控模块的模式信息和条件，随机生成芯片测试数据并且返回给ATE主控模块；其中，本模块生成的芯片测试数据的取值范围大于等于ATE的返回数据范围。所述ATE数据处理模块:用于处理芯片测试数据，采用本方法开发的ATE数据处理模块将直接移植到ATE使用；所述网络通信模块:用于ATE仿真器与主机通信；所述网络编程调试模块:在ATE仿真器和主机分别运行，用于调试网络通信模块和主机程序的网络通信功能。所述主机程序对数据源和来自ATE仿真器的芯片测试数据进行处理。一种芯片测试软件的开发方法，其包括ATE仿真器，所述ATE仿真器包括:ATE主控模块，芯片测试数据生成模块，ATE数据处理模块，网络通信模块以及网络编程调试模块，其至少包括以下步骤:I) ATE主控模块加载待开发芯片测试模式和测试条件，并将这些信息发送给芯片测试数据生成模块；2)芯片测试数据生成模块根据测试模式和测试条件，生成模拟的芯片测试数据；3) ATE主控模块将上述的芯片测试数据加载到ATE数据处理模块；4)使用主机的网络编程调试模块调试ATE仿真器的网络通信模块的网络通信功能，ATE主控模块通过网络通信模块实现与主机进行网络连接和交换数据的功能；5)使用ATE仿真器端的网络编程调试模块调试主机程序的网络通信功能；6)主机程序的网络通信功能和ATE仿真器的网络通信模块一起调试，完成主机和ATE仿真器的网络通信功能；7)开发主机的数据源读取，数据处理，返回和输出结果功能；对于多个主机和多个ATE仿真器，上述步骤4) -7)重复进行。所述芯片测试数据的取值范围大于等于ATE的返回数据范围。本方法提供一种用于开发和调试ATE数据处理模块的方法和系统、一种用于开发和调试ATE网络通信模块的方法和系统、一种用于开发主机程序的方法和系统。本专利技术的有益效果是:通过采用无ATE的条件下开发ATE数据处理模块，网络通信模块，主机程序的方式，使得ATE可以从芯片测试软件开发中解放出来用于正式测试，从而大幅降低了芯片测试软件开发的成本；同时不需要芯片参与，能够更早启动芯片测试软件的开发，避免芯片测试软件开发成为芯片测试延时的原因，缩短芯片上市时间；同时，开发者有足够的开发和调试软件的时间，能够充分的保证软件的成功率。另外，本专利技术提供一种可以满足用户指定主机来处理芯片测试数据和数据源要求的芯片测试软件开发方法，能完全满足芯片测试过程中的信息安全需求或者数据处理速度需求等。【专利附图】【附图说明】:通过以下对本专利技术的实施例结合其附图的描述，可以进一步理解其专利技术的目的、具体结构特征和优点。其中，附图为:图1是:本专利技术的芯片测试软件开发系统的示意图。图2是:本专利技术芯片测试软件运行系统示意图。图3是:本专利技术满足最小系统和复杂系统的网络拓扑结构示意图。【具体实施方式】:下面结合附图中的实例对本专利技术作进一步的描述。本专利技术涉及芯片(IC)测试领域本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种芯片测试软件的开发系统,应用于芯片测试中的测试软件开发和调试，其特征在于，其至少包括：主机，运行主机程序的若干计算机或网络终端，其包括网络编程调试模块；ATE仿真器，运行ATE仿真器程序的若干计算机或网络终端；数据源：用于主机的程序的有效数据的任何载体，所述的有效数据用于记载ATE仿真器不可直接访问的数据。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：杨兵，王旭升，许集润，柴亮，王素娟，商迪，刘坤，孙军，管云峰，戴杨，
申请(专利权)人：上海高清数字科技产业有限公司，
类型：发明
国别省市：