一种OLED封装母板老化测试用样条制造技术

技术编号:9422077 阅读:86 留言:0更新日期:2013-12-06 05:27
本实用新型专利技术公开了一种OLED封装母板老化测试用样条,包括一组有机发光二极管、一组连接有机发光二极管阳极和阴极的共通电极、基板和盖板,有机发光二极管、共通电极、基板及盖板处于封装状态,其中,样条上位于共通电极上部的盖板被切除,共通电极暴露在外。本实用新型专利技术所述OLED封装母板老化测试用样条,通过将待测OLED封装母板沿着有机发光二极管未连接共通电极一侧的边缘切割成若干样条,并切除样条上共通电极上部的盖板以使共通电极暴露出来,便于与老化测试工装的探针接触,避免了制备预开孔的复杂工艺,减低产品加工成本,提高检测效率。(*该技术在2023年保护过期,可自由使用*)

【技术实现步骤摘要】

【技术保护点】
一种OLED封装母板老化测试用样条,包括一组有机发光二极管、一组连接有机发光二极管阳极和阴极的共通电极、基板和盖板,有机发光二极管和共通电极固定于基板上,所述基板和盖板通过粘结材料粘结形成封装结构,其特征在于:样条上位于共通电极上部的盖板被切除,共通电极暴露在外。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员:张晓茗王小月朴章镐向欣
申请(专利权)人:四川虹视显示技术有限公司
类型:实用新型
国别省市:

网友询问留言 已有0条评论
  • 还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。

1