一种测量点放样调整工装制造技术

一种测量点放样调整工装，包括底座，基座，底座上端面开设有T形槽，底座上端面设有所述基座，所述基座通过调整压块、固定螺栓固定在T形槽中，所述底座的下端面开设有螺栓孔，所述基座可以在T形槽中滑动。本实用新型专利技术一种测量点放样调整工装，采用了钢质底座，底座的下端面可以和被测对象紧密连接并固定，底座的上端面设有T形槽和可移动调节的测量标志基座，测量标志的基座可以在T形槽中移动调节，最终实现测量点位的精确定位。（*该技术在2023年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

【技术保护点】
一种测量点放样调整工装，包括底座（1），基座（3），其特征在于，底座（1）上端面开设有T形槽（2），底座（1）上端面设有所述基座（3），所述基座（3）通过调整压块（4）、固定螺栓（5）固定在T形槽（2）中，所述底座（1）的下端面开设有螺栓孔，所述基座（3）可以在T形槽（2）中滑动。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：张伟平，李东明，
申请(专利权)人：水利部水工金属结构质量检验测试中心，
类型：实用新型
国别省市：