【技术实现步骤摘要】
【技术保护点】
一种测试芯片的装置，所述装置集成在芯片中，其特征在于，所述装置包括：被测电路、检测电路、判断电路、测试电路、划片槽；所述检测电路与所述判断电路相连接，所述判断电路与所述测试电路相连接，所述测试电路与所述被测电路相连接；其中，所述判断电路的至少部分电路位于所述划片槽中，以便在通过所述检测电路、判断电路、测试电路对所述被测电路进行功能测试后，当所述划片槽被划片后，所述判断电路的结构被破坏。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：杨明庆，张炜，张君迈，
申请(专利权)人：北京华大信安科技有限公司，
类型：发明
国别省市：
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