基于D/8条件对光阱误差修正的颜色测量仪及实现方法技术

本发明专利技术公开了基于D/8条件对光阱误差修正的颜色测量仪及实现方法，其设计了一种新型的颜色测量仪，所述颜色测量仪包括：光谱仪、光阱、拨片、光源、积分球、处理装置和拨片控制装置；所述拨片设置在光阱处，且涂覆与积分球内壁相同的白色漫反射涂料；光谱仪设置在垂直于样品法线的-8°的位置处，且光谱仪连接处理装置；光阱设置在垂直于样品法线的+8°的位置处。其通过控制拨片，可以兼容SCI和SCE两种几何测量结构，通过对样品表面SCI和SCE数据进行同时测量，可获得样品表面的光泽数据。另外，还建立了一种根据样品表面光泽数据对SCE测量数据进行修正的矫正模型，大大改善了测试结果之间的一致性，具有很好的推广应用前景。

【技术实现步骤摘要】

【技术保护点】
一种基于D/8条件对光阱误差修正的颜色测量仪，用于对样品进行颜色测量；其特征在于，所述颜色测量仪包括：光谱仪、光阱、拨片、光源、积分球、处理装置和拨片控制装置；其中，所述拨片设置在光阱处，且拨片上涂覆与积分球内壁相同的白色漫反射涂料；样品设置在积分球的下部开孔处；光谱仪设置在垂直于样品法线的?8°的位置处，且光谱仪连接所述用于进行数据处理的处理装置；光阱设置在垂直于样品法线的+8°的位置处；光源发出的光经过积分球后漫射到所述样品上，光谱仪接收由样品表面反射过来的反射光，拨片控制装置控制所述拨片开启或者关闭积分球上部开孔分别得到无光阱的SCI测量条件和有光阱的SCE测量条件；处理装置对光谱仪发送的信号进行数据处理而获得测量结果。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：袁琨，王坚，陈刚，李培杆，许航飞，
申请(专利权)人：杭州彩谱科技有限公司，中国计量学院，
类型：发明
国别省市：