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一种超导薄膜磁热特性测试用可视化低温杜瓦系统技术方案

技术编号:9393891 阅读:129 留言:0更新日期:2013-11-28 06:47
本实用新型专利技术公开了一种超导薄膜磁热特性测试用可视化低温杜瓦系统,包括密封式配合安装的低温密封容器和GM制冷机,配合设置在所述低温密封容器内部的真空室、位于真空室上方的GM制冷机连接头、用于放置的待测超导样品薄膜的样品放置架、以及连接在GM制冷机连接头与样品放置架之间的传热组件,分别配合安装在所述低温密封容器的上端和下端的外部光学测试系统和激光脉冲器,以及包覆在所述低温密封容器外围的磁体。本实用新型专利技术所述超导薄膜磁热特性测试用可视化低温杜瓦系统,可以克服现有技术中使用不方便和应用前景差等缺陷,以实现使用方便和应用前景好的优点。(*该技术在2023年保护过期,可自由使用*)

【技术实现步骤摘要】

【技术保护点】
一种超导薄膜磁热特性测试用可视化低温杜瓦系统,其特征在于,包括密封式配合安装的低温密封容器和GM制冷机,配合设置在所述低温密封容器内部的真空室、位于真空室上方的GM制冷机连接头、用于放置的待测超导样品薄膜的样品放置架、以及连接在GM制冷机连接头与样品放置架之间的传热组件,分别配合安装在所述低温密封容器的上端和下端的外部光学测试系统和激光脉冲器,以及包覆在所述低温密封容器外围的磁体。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员:张兴义刘伟周军周又和
申请(专利权)人:兰州大学
类型:实用新型
国别省市:

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