一种薄片样品的测量装置制造方法及图纸

一种薄片样品的测量装置，涉及测量装置，尤其涉及一种粘有带孔支撑物的薄片样品厚度测量的装置。主要包括螺旋测微器、金属导电钢针和欧姆表。本装置可以实现精确测量粘带孔支撑物薄片样品以及类似样品的厚度，提高了测量的便利性以及准确性。本实用新型专利技术的有益效果是：通过上述方案，可以精准地测量粘带孔支撑物薄片样品厚度的特殊要求。（*该技术在2023年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

【技术保护点】
一种薄片样品的测量装置，其特征在于：测量装置包括螺旋测微器、金属导电钢针（1）、绝缘支架（2）和欧姆表（4）；金属导电钢针（1）与螺旋测微器自由端之间通过绝缘支架（4）相连；欧姆表（4）的两端分别与螺旋测微器固定端和金属导电钢针（1）相连接。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：常永勤，郭强，
申请(专利权)人：北京科技大学，
类型：实用新型
国别省市：