波长色散型荧光X射线分析装置制造方法及图纸

本发明专利技术涉及一种波长色散型荧光X射线分析装置，其中，计数损失补偿机构(11)在根据检测器(7)的无感时间对通过计数机构(10)而求出的脉冲的计数率进行补偿时，预先存储通过波高分选器(9)而分选的规定的波高范围和无感时间的相关性，根据该已存储的相关性，按照与测定时的规定的波高范围相对应的方式确定上述无感时间。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】

【技术保护点】

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】...

【专利技术属性】
技术研发人员：片冈由行，井上央，川久航介，
申请(专利权)人：株式会社理学，
类型：
国别省市：