检测偏硅酸钠中硼杂质的预处理方法技术

本发明专利技术涉及一种偏硅酸钠杂质检测预处理方法，具体涉及一种检测偏硅酸钠中硼杂质的预处理方法，将偏硅酸钠样品加NaOH溶液溶解，并加水调节pH值，然后加入甘露醇，使其与偏硅酸钠中的硼杂质充分络合，再通过乙醚萃取，将萃取后的乙醚加热至完全挥发，残留液加入硝酸并加水定容，最后检测即可。本发明专利技术的优点在于：（1）硼元素富集作用明显，待检溶液中几乎没有钠离子和硅酸根离子的存在，大大削弱了基体效应的影响，硼元素的回收率可从80～82%提升至95%以上，将硼元素的方法检出限由1ppm降至0.2ppm；（2）避免了对进样系统的污染：（3）方法简单易于操作，提高了检测准确度。

【技术实现步骤摘要】

【技术保护点】
一种检测偏硅酸钠中硼杂质的预处理方法，其特征在于将偏硅酸钠样品加NaOH溶液溶解，并加水调节pH值，然后加入甘露醇，使其与偏硅酸钠中的硼杂质充分络合，再通过乙醚萃取，将萃取后的乙醚加热至完全挥发，残留液加入硝酸并加水定容，最后检测即可。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：谭毅，刘瑶，刘鑫业，
申请(专利权)人：青岛隆盛晶硅科技有限公司，
类型：发明
国别省市：