一种金相显微镜试样定位标尺制造技术

技术编号:9369575 阅读:179 留言:0更新日期:2013-11-21 23:33
一种金相显微镜试样定位标尺,属于金相显微镜部件技术领域,用于方便地对金相试样进行精确定位。其技术方案是:它的主标尺和定位标尺均有两个独立的标尺,两个独立的主标尺的一端垂直相交组成直角形,直角形的两个直角边与载物台的一个直角边相重合,固定在载物台上,两个独立的定位标尺分别位于两个主标尺的外侧,定位标尺与主标尺在同一水平面上,定位标尺由定位标尺安装支架固定在载物台外侧;它还有十字定位尺,十字定位尺位于载物台的中心。本实用新型专利技术便于对金相试样进行精确定位,试样可以沿定位标尺在横向、纵向分别精确移动0.5mm的整数倍,提高了显微实验的精准度,有效地提高工作效率。本实用新型专利技术结构简单、使用方便。(*该技术在2023年保护过期,可自由使用*)

【技术实现步骤摘要】

【技术保护点】
一种金相显微镜试样定位标尺,其特征在于:它包括主标尺(3)和定位标尺(4),主标尺(3)和定位标尺(4)均有两个独立的标尺,两个独立的主标尺(3)的一端垂直相交组成直角形,直角形的两个直角边与载物台(9)的一个直角边相重合,固定在载物台(9)上,两个独立的定位标尺(4)分别位于两个主标尺(3)的外侧,定位标尺(4)与主标尺(3)在同一水平面上,定位标尺(4)由定位标尺安装支架(5)固定在载物台(9)外侧。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员:潘文娜田霄龙郝志琴其他发明人请求不公开姓名
申请(专利权)人:河北钢铁股份有限公司唐山分公司
类型:实用新型
国别省市:

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