光照射装置及光测定装置制造方法及图纸

技术编号:9355751 阅读:143 留言:0更新日期:2013-11-20 23:03
本发明专利技术涉及一种光照射装置等,其可降低来自设置于微量盘(microplate)的多个井的背景光噪声。该光照射装置具备微量盘(20)、导光部件(60)、及光源装置(62)。导光部件(60)具备对应于多个井(21)而设置于主面(61a)的多个光出射部。各光出射部包含在主面(61a)上具有开口的凹部(61e)。来自光源装置(62)的测定光从侧面(61b)入射后,在各凹部(61e)的侧面折射及反射,从各凹部(61e)的开口出射。通过该结构,可大幅降低从背面(23)所入射的测定光中向背面(23)垂直入射的测定光成分。因此,可有效降低因对应于测定光照射而产生的来自各井(21)的背景光噪声。

【技术实现步骤摘要】

【技术保护点】
一种光照射装置,其特征在于,用于从微量盘的背面侧向该微量盘照射测定光,所述微量盘具有二维配置有用于容纳测定对象物的多个井的主面,及与该主面相对的背面,所述光照射装置包含:光源,输出从所述微量盘的背面侧向所述多个井分别照射的测定光;及导光部件,使从所述光源输出的测定光在其内部传播,且具有:直接面对所述微量盘的背面的主面、与该主面相对的背面、及侧面,该侧面用于使来自所述光源的测定光导入夹持于该导光部件的主面及背面的该导光部件内,所述导光部件包含从该导光部件的主面向该导光部件的背面延伸并在该导光部件的主面具有开口的多个凹部,从该侧面入射至所述导光部件内的所述测定光,在多个所述凹部的各个侧面折射及反射,并从多个所述凹部各自的开口出射。

【技术特征摘要】
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【专利技术属性】
技术研发人员:片冈卓治伊藤平良
申请(专利权)人:浜松光子学株式会社
类型:发明
国别省市:

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