一种基于条纹周期校正的复杂大物体三维测量方法技术

一种基于条纹周期校正的复杂大物体三维测量方法，其测量系统包括投影仪、测量支架、摄像机、计算机、参考平面；投影仪和摄像机放在测量支架上，投影仪和摄像机为同一高度；投影仪、摄像机分别用导线连接计算机；待测物体放在参考平面上。本发明专利技术的优点是：（1）提出了基于条纹周期校正的五步相移法；（2）提出了基于条纹周期校正的时间相位展开方法；（3）操作方便、实用，实现复杂大物体高精度的三维测量。

【技术实现步骤摘要】

【技术保护点】
一种基于条纹周期校正的复杂大物体三维测量方法，其测量系统包括投影仪、测量支架、摄像机、计算机、参考平面；其特征是测量方法为：投影仪和摄像机放在测量支架上；投影仪、摄像机分别用导线连接计算机；待测物体放在参考平面上；投影仪和摄像机为同一高度，投影仪光轴和摄像机光轴相交于于一点；?X为参考平面的x轴,?X′为虚拟参考平面的x轴，该平面与投影仪光轴垂直，X′′为投影仪平面的x轴。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：伏燕军，何兴道，江光裕，夏桂锁，
申请(专利权)人：南昌航空大学，
类型：发明
国别省市：