用于判别光学膜的缺陷的方法技术

本文公开了一种用于判别光学膜的缺陷的方法。所述用于判别光学膜的缺陷的方法，包括（S1）拍摄传输的光学膜以选择异物存在的区域；以及（S2）在所述区域的异物中，当以平行于传输方向的两边和垂直于该传输方向的两边所构造的矩形包括具有最小面积的异物时，如果平行于所述传输方向的边长大于所述垂直于该传输方向的边长，则所述异物被判别为线性合格异物，且从这些缺陷中排除，从而显著地提高了光学膜的制造产量。

【技术实现步骤摘要】
用于判别光学膜的缺陷的方法
本专利技术涉及一种用于判别光学膜的缺陷的方法。更具体地，本专利技术涉及一种用于判别光学膜的缺陷以减少判别错误从而确定光学膜是否是合格产品的方法。
技术介绍
多种图像显示设备（如液晶显示器、有机发光显示器、场发射显示器（FED）和等离子体显示屏（PDP））已得到广泛地开发和使用。同时，图像显示装置在被投向市场前，在其制造过程中可能会产生多种缺陷。因此，需要对其进行多种检验过程。此处，主要用在图像显示装置中的元件的示例可包括多种光学膜，例如，偏光膜和相位差膜。因此，光学膜的缺陷是导致图像显示设备缺陷的主要原因之一。为了准确地检测出光学膜的缺陷，首先要判别光学膜是否有缺陷。然后，如果确定光学膜是有缺陷的，由于这些缺陷可能被认为是生产产量方面的重要因素则可以采取修理、丢弃或去除缺陷等措施。对于光学膜的工业大批量生产，通常使用生产线加工。因此，通过在生产线的特定位置处连续地拍摄光学膜随后在拍摄部位判别缺陷来检测光学膜的缺陷。在判别缺陷方面，相关技术对于完美地检测多种缺陷是重要的。与此相关的第2010-24753号韩国特许公开专利公开了一种通过比较包括异物的封闭曲线与异物的区域来判别线型的异物的方法。然而，由于光学膜的尺寸大幅增大，故增加了零件成本。因此，为了提高光学膜的生产率，需要一种能够更准确地判别缺陷的方法。
技术实现思路
因此，本专利技术的目的是提供一种用来准确地判别光学膜的缺陷与非缺陷的方法。本专利技术的另一目的是提供一种用于将光学膜的缺陷判别为非缺陷的方法，该方法能够判别出实际并非缺陷但相关技术判别为缺陷的缺陷。为了实现上述目的，本专利技术提供以下内容：（1）一种判别光学膜的缺陷的方法，所述方法包括：（S1）拍摄传输的光学膜以选择有异物存在的区域；以及（S2）在所述区域的异物中，当以平行于传输方向的两边且垂直于所述传输方向的两边所构造的矩形包括具有最小面积的异物时，如果平行于所述传输方向的边大于所述垂直于所述传输方向的边，所述异物被判别为线性合格异物，且从这些缺陷中排除所述异物。（2）根据上述（1）所述的方法，其中，当所述矩形的长边的长度大于或等于5像素，且所述矩形的短边的长度大于或等于所述长边的长度的0.8倍时，异物被判别为线性合格异物。（3）根据上述（1）所述的方法，所述方法还包括：在没有被判别为线性合格异物的所述异物中，当包括具有最小面积的所述异物的所述矩形的长边的长度小于或等于30像素，根据下面等式1计算出的缺陷密度小于或等于40%，且所述异物的中心线的短轴的长度小于或等于3像素时，将所述异物判别为直线型合格异物，且从所述缺陷中排除所述异物，[等式1]（4）根据上述（3）的方法，当所述异物的长边的长度超过30像素时，所述异物被判别为大缺陷。（5）根据上述（3）的方法，当所述异物的长边的长度小于或等于30像素，根据等式1计算出的所述缺陷密度小于或等于40%，且所述异物的中心线的短轴的长度超过3像素时，所述异物被判别为弧形缺陷。（6）根据上述（3）的方法，所述方法还包括：关于长边的长度小于或等于30像素且等式1的缺陷密度超过40%的异物，将缺陷密度小于或等于75%的所述异物判别为斜方形合格异物，且将所述异物从所述缺陷中排除。（7）根据上述（6）的方法，所述方法还包括：在缺陷密度超过75%的所述异物中，将具有如下两个或两个以上的点的异物判别为压纹型（embossingtype）合格异物，亮度图中所述点的斜率值根据在圆中的位置从正到负变化，且将所述异物从所述缺陷中排除。（8）根据上述（7）的方法，具有如下三个或三个以上的点的异物被判别为压纹型合格异物，所述亮度图中所述三个或三个以上的点的斜率值从正向负变化。（9）根据上述（1）到（8）中的任一项所述的方法，所述区域中的所述异物是不对应于集群型缺陷的异物，并且，当两个或两个以上的其它异物存在于基于任一异物的半径为5毫米的圆内时，集群型异物是包括中心异物的一组异物。（10）根据上述（1）到（8）的任一项所述的方法，所述区域中的所述异物是不对应于细微型缺陷的异物，且该细微型缺陷包括在8像素×8像素的规则正方形内。（11）根据上述（1）到（8）的任一项所述的方法，所述区域中的所述异物是不对应于集群型缺陷或细微型缺陷的异物，所述集群型缺陷包括当在基于任一异物的半径为5毫米的圆内存在两个以上的其它异物时的中心异物，以及所述细微型缺陷包括在8像素×8像素的规则正方形内。（12）一种判别光学膜的缺陷的方法，所述方法包括：（S1）拍摄传输的光学膜以选择有异物存在的区域；以及（S1-A）当有两个以上的其它异物存在于所述区域内基于任一异物的半径为5毫米的圆内时，将包括中心异物的一组异物判别为集群型异物；（S1-B）在没有判别为集群型缺陷的异物中，将包括在8像素×8像素的规则正方形内的异物判别为细微型缺陷；以及（S2）在没有判别为细微型缺陷的异物中，当以平行于传输方向的两边和垂直于所述传输方向的两边所构造的矩形包括具有最小面积的异物时，如果平行于所述传输方向的边大于所述垂直于所述传输方向的边，所述异物被判别为线性合格异物，且从这些缺陷中排除所述异物。（13）根据上述（12）的方法，在步骤（S2）中，当所述矩形的长边的长度大于或等于5像素且短边的长度大于或等于所述长边的长度的0.8倍时，异物被确定为线性合格异物。（14）根据上述（12）的方法，所述方法还包括，在没有被判别为线性合格异物的异物中，当所述长边的长度小于或等于30像素，根据下面等式1计算出的缺陷密度小于或等于40%，且所述异物的中心线的图像的短轴的长度小于或等于3像素时，将所述异物判别为直线型合格异物，且将所述异物从所述缺陷中排除，[等式1]（15）根据上述（14）的方法，当所述异物的长边的长度超过30像素时，那么所述异物则被判别为大缺陷。（16）根据上述（14）的方法，当异物的长边的长度小于或等于30像素，根据等式1计算出的缺陷密度小于或等于40%，且异物中心线的短轴的长度超过3像素，该异物则被判别为弧形缺陷。（17）根据上述（14）的方法，还包括：关于长边的长度小于或等于30像素且根据等式1的缺陷密度超过40%的异物，将缺陷密度小于或等于75%的异物判别为斜方形合格异物，且将所述异物从缺陷中排除。（18）根据上述（17）的方法，所述方法还包括：在缺陷密度超过75%的所述异物中，将具有如下两个或两个以上的点的异物判别为压纹型合格异物，亮度图中所述点的斜率值根据在圆中的位置从正到负变化；并且将所述异物从所述缺陷中排除。（19）根据上述（18）的方法，具有如下三个或三个以上的点的异物被判别为压纹型合格异物，所述亮度图中所述三个或三个以上的点的斜率值从正向负变化。根据本专利技术的判别光学膜的缺陷的方法可以准确判别那些实际上并非缺陷但却被相关技术判别为缺陷的缺陷，从而可以显著地提高光学膜的制造产量。此外，根据本专利技术的判别光学膜的缺陷的方法可以大幅度减少制造成本和防止资源的浪费。附图说明图1是示意性地示出根据本专利技术的用于判别线性合格异物的方法的流程图。图2是所拍摄的四种线性合格异物的图像。图3是示意性地示出线性合格异物的示例的示图。图4是示意性地示出根据本专利技术的另一实施方式的用于判别线性合格异物、大缺陷、直线型本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种判别光学膜的缺陷的方法，所述方法包括：S1）拍摄传输的光学膜以选择有异物存在的区域；以及S2）在所述区域的异物中，当以平行于传输方向的两边且垂直于所述传输方向的两边所构造的矩形包括具有最小面积的异物时，如果平行于所述传输方向的边大于垂直于所述传输方向的所述边，所述异物被判别为线性合格异物，且从缺陷中排除所述异物。

【技术特征摘要】
2012.05.10 KR 10-2012-00496151.一种判别光学膜的缺陷的方法，所述方法包括：S1)拍摄传输的光学膜以选择有异物存在的区域；S2)在所述区域的异物中，当以平行于传输方向的两边且垂直于所述传输方向的两边所构造的矩形包括具有最小面积的异物时，如果平行于所述传输方向的边大于垂直于所述传输方向的所述边，所述异物被判别为线性合格异物，且从缺陷中排除所述异物；以及S3)在没有被判别为线性合格异物的异物中，当包括具有最小面积的所述异物的所述矩形的长边的长度小于或等于30像素，根据下面等式1计算出的缺陷密度小于或等于40％，且所述异物的中心线的短轴的长度小于或等于3像素时，将所述异物判别为直线型合格异物，且从所述缺陷中排除所述异物，[等式1]其中，至少一个隔离膜附接到所述光学膜。2.根据权利要求1所述的方法，其中，当所述矩形的长边的长度大于或等于5像素，且所述矩形的短边的长度大于或等于所述长边的长度的0.8倍时，异物被判别为线性合格异物。3.根据权利要求1所述的方法，其中，当异物的长边的长度超过30像素时，所述异物被判别为大缺陷。4.根据权利要求1所述的方法，其中，当异物的长边的长度小于或等于30像素，根据等式1计算出的所述缺陷密度小于或等于40％，且所述异物的中心线的短轴的长度超过3像素时，所述异物被判别为弧形缺陷。5.根据权利要求1所述的方法，还包括：关于长边的长度小于或等于30像素且根据等式1的缺陷密度超过40％的异物，将缺陷密度小于或等于75％的异物判别为斜方形合格异物，且将所述异物从所述缺陷中排除。6.根据权利要求5所述的方法，还包括：在缺陷密度超过75％的所述异物中，将具有两个或两个以上的点的异物判别为压纹型合格异物，亮度图中所述点的斜率值根据在圆中的位置从正到负变化；且将所述异物从所述缺陷中排除。7.根据权利要求6所述的方法，其中，具有三个或三个以上的点的异物被判别为压纹型合格异物，所述亮度图中所述三个或三个以上的点的斜率值从正向负变化。8.根据权利要求1至7中任一项所述的方法，其中，所述区域中的所述异物是不对应于集群型缺陷的异物，并且，当两个或两个以上的其它异物存在于基于任一异物的半径为5毫米的圆内时，集群型异物是包括中心异物的一组异物。9.根据权利要求1至7中任一项所述的方法，其中，所述区域中的所述异物是不对应于细微型缺陷的异物，且所述细微型缺陷包括在8像素×8像素的规则正方形内。10.根据...

【专利技术属性】
技术研发人员：李银珪，金种佑，裴星俊，
申请(专利权)人：东友精细化工有限公司，
类型：发明
国别省市：