功率容量测试装置及功放单元制造方法及图纸

本实用新型专利技术公开了一种功放单元及包含该功放单元的功率容量测试装置，该装置包括多路射频开关、主机MCU及多个功放单元，每个功放单元对应待测器件的一个工作频段，并分别连接在多路射频开关与待测器件之间，主机MCU根据待测频段控制多路射频开关的通断，使与待测频段对应的功放单元导通，信号源的信号经多路射频开关进入功放单元，依次经功放单元的微带功分器、调幅调相器、推动级单元、多路末级放大器、空气微带合路器和隔离器后，功率被放大到待测功率并输出至待测器件，从而根据待测器件的工作状态判断其功率容量，为双工器、合路器、延时滤波器和隔离器等器件的可靠性试验及评估提供了一种高效率、高集成、适用性广的测试平台。（*该技术在2023年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

【技术保护点】
一种功率容量测试装置，其特征在于，包括多路射频开关、主机MCU和至少一个功放单元，每个所述功放单元对应待测器件的一个工作频段，并分别接在所述多路射频开关和所述待测器件之间；所述功放单元包括依次相连的微带功分器、调幅调相器、推动级单元、多路末级放大器、空气微带合路器和隔离器，以及MCU，所述微带功分器通过所述多路射频开关接信号源，所述隔离器接所述待测器件，所述MCU与所述主机MCU相连；所述主机MCU按照接收到的设置信息向所述多路射频开关发送通断指令，使与所述待测器件的待测频段对应的功放单元导通，其他功放单元截止，所述主机MCU还按照接收到的设置信息向所述MCU发送控制信息，所述MCU按照接收到的控制信息，分别向所述调幅调相器、推动级单元和多路末级放大器发送相应的控制指令，使所述信号源的信号经所述隔离器输出后，功率被放大到所述待测器件的待测功率。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：李合理，张磊，李远生，
申请(专利权)人：京信通信系统中国有限公司，
类型：实用新型
国别省市：