【技术实现步骤摘要】
【技术保护点】
一种玻璃基板的测量工具，其配合光学测量仪对玻璃基板进行测量，其特征在于，该玻璃基板的测量工具包括：本体，其主体形状为长方体，该本体具有竖直的台阶面，该台阶面为第一定位基准，且该本体上放置待测量的玻璃基板，该玻璃基板的一侧面贴齐该台阶面；定位柱，其垂直设于本体的上表面上，该定位柱为第二定位基准，所述玻璃基板的另一相邻侧面贴齐该定位柱；至少一滤光体，其沿玻璃基板的周边设于所述本体的上表面上，该滤光体为具有颜色的吸光材料。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：符岳衡，
申请(专利权)人：汉达精密电子昆山有限公司，
类型：实用新型
国别省市：
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